[發明專利]用于電子元器件AiP測試的測壓裝置

在審

• 申請號: 202110107196.4
• 申請日: 2021-01-27
• 公開（公告）號: CN112986748A
• 公開（公告）日: 2021-06-18
• 發明（設計）人: 馮雨周;胡沖;張磊
• 申請（專利權）人: 杭州長川科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01;G01R31/28
• 代理公司: 杭州華進聯浙知識產權代理有限公司 33250
• 代理人: 王婷婷

1.一種用于電子元器件AiP測試的測壓裝置，其特征在于，包括底板組件、暗箱組件、驅動組件、存放組件以及壓頭組件；所述暗箱組件及所述驅動組件安裝于所述底板組件上，所述暗箱組件靠近所述底板組件的側面上開設有檢測孔，所述存放組件安裝于所述底板組件上，且所述存放組件的至少一部分位于所述檢測孔內，以存放待檢測芯片，所述壓頭組件位于所述暗箱組件內，且所述壓頭組件的部分從所述檢測孔伸出，并與所述驅動組件連接，且所述壓頭組件在所述驅動組件帶動下，能夠靠近所述存放組件運動，以對所述待檢測芯片進行施壓測試。

2.根據權利要求1所述的用于電子元器件AiP測試的測壓裝置，其特征在于，所述壓頭組件包括壓頭及安裝單元，所述安裝單元的部分穿過所述檢測孔并與所述驅動組件連接，且所述安裝單元朝向所述存放組件的一側面上開設有安裝槽，所述壓頭部分安裝于所述安裝槽內，并在所述驅動組件的帶動下能夠靠近或遠離所述待檢測芯片。

3.根據權利要求2所述的用于電子元器件AiP測試的測壓裝置，其特征在于，所述安裝單元包括支架以及安裝板，所述安裝板位于所述暗箱組件內，所述安裝槽開設于所述安裝板上；

所述支架的一端與所述安裝板連接，另一端從所述檢測孔穿出并彎折，且沿垂直于所述安裝板運動方向延伸，以與所述驅動組件連接。

4.根據權利要求1所述的用于電子元器件AiP測試的測壓裝置，其特征在于，所述驅動組件包括第一驅動結構以及第二驅動結構，所述第一驅動結構以及所述第二驅動結構分別位于所述暗箱組件的兩側，并分別連接于所述壓頭組件，且所述第一驅動結構與所述第二驅動結構之間同步聯動設置。

5.根據權利要求4所述的用于電子元器件AiP測試的測壓裝置，其特征在于，所述第一驅動結構包括第一驅動件以及第一傳動單元，所述第二驅動結構包括聯動單元，所述第一傳動單元的一端與所述第一驅動件連接，另一端與所述壓頭組件的一側連接，所述聯動單元的一端與所述第一傳動單元連接，另一端與所述壓頭組件的另一側連接。

6.根據權利要求5所述的用于電子元器件AiP測試的測壓裝置，其特征在于，所述第一傳動單元包括第一主動輪、第一從動輪、第一傳動帶以及第一傳動桿，所述第一主動輪固定于所述第一驅動件，所述第一從動輪固定于所述第一傳動桿，所述第一傳動桿遠離所述第一從動輪的一端與所述壓頭組件的一側連接，所述第一傳動帶套設于所述第一主動輪和所述第一從動輪上；

所述聯動單元包括第二主動輪、第二從動輪、第二傳動帶以及第二傳動桿，所述第二主動輪固定于所述第一傳動桿，所述第二從動輪安裝于所述第二傳動桿，且所述第二傳動桿遠離所述第二從動輪的一端與所述壓頭組件的另一側連接，所述第二傳動帶套設于所述第二主動輪和所述第二從動輪上。

7.根據權利要求5所述的用于電子元器件AiP測試的測壓裝置，其特征在于，所述底板組件包括底板以及兩塊側板，所述暗箱組件安裝于所述底板上，所述側板設于所述底板，且兩塊所述側板分別位于所述暗箱組件的兩側；

所述第一驅動結構設于其中一塊所述側板，所述第二驅動結構設于其中另外一塊所述側板。

8.根據權利要求7所述的用于電子元器件AiP測試的測壓裝置，其特征在于，所述驅動組件還包括第一導向單元及第二導向單元，所述第一導向單元和所述第二導向單元分別安裝于兩塊所述側板上，所述第一導向單元的一端與所述第一傳動單元連接，另一端與所述壓頭組件連接；所述第二導向單元的一端與所述聯動單元連接，另一端與所述壓頭組件連接。

9.根據權利要求1所述的用于電子元器件AiP測試的測壓裝置，其特征在于，所述暗箱組件包括箱體以及滑動門，所述箱體的側面上開設有進料口，所述滑動門滑動地安裝于所述箱體上，并用于啟閉所述進料口。

10.根據權利要求1所述的用于電子元器件AiP測試的測壓裝置，其特征在于，所述壓頭組件的材質為PEEK或者LCP。