[發明專利]一種圖形化Ag薄膜的制備方法在審
| 申請號: | 202110103618.0 | 申請日: | 2021-01-26 |
| 公開(公告)號: | CN112875640A | 公開(公告)日: | 2021-06-01 |
| 發明(設計)人: | 李國強 | 申請(專利權)人: | 河源市眾拓光電科技有限公司 |
| 主分類號: | B81C1/00 | 分類號: | B81C1/00;B81B1/00;C23F1/02 |
| 代理公司: | 廣州容大知識產權代理事務所(普通合伙) 44326 | 代理人: | 何雪霞 |
| 地址: | 517000 廣東省河源*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 圖形 ag 薄膜 制備 方法 | ||
1.一種圖形化Ag薄膜的制備方法,其特征在于:包括以下步驟:
制備Ag薄膜;
在Ag薄膜表面預形成圖形化樣式的部分涂覆光刻膠;
將Ag薄膜未涂覆光刻膠的部分進行氧化處理至該部分轉變成Ag2O薄膜;
將Ag2O薄膜進行腐蝕處理至Ag2O薄膜消失;
將剩余帶有光刻膠的Ag薄膜進行光刻膠去除,即得。
2.根據權利要求1所述的一種圖形化Ag薄膜的制備方法,其特征在于:所述Ag薄膜的厚度為10nm~100nm。
3.根據權利要求1所述的一種圖形化Ag薄膜的制備方法,其特征在于:所述光刻膠的厚度為1um~5um。
4.根據權利要求1所述的一種圖形化Ag薄膜的制備方法,其特征在于:所述氧化處理的參數控制為:采用等離子體氧化方式,以O2為氧化劑,N2為保護氣,其中通O2和N2的時間為5min~20min,射頻功率為100w~500w,輝光放電時間為5min~20min。
5.根據權利要求1所述的一種圖形化Ag薄膜的制備方法,其特征在于:所述腐蝕處理是將整個Ag薄膜浸入氨水水溶液中。
6.根據權利要求5所述的一種圖形化Ag薄膜的制備方法,其特征在于:所述氨水水溶液的濃度為1wt%~10wt%。
7.根據權利要求1所述的一種圖形化Ag薄膜的制備方法,其特征在于:所述光刻膠去除的溶劑為丙酮和/或乙醇。
8.一種圖形化Ag薄膜,其特征在于:是采用上述制備方法獲得。
9.一種芯片,其特征在于:所述芯片上設有上述圖形化Ag薄膜。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于河源市眾拓光電科技有限公司,未經河源市眾拓光電科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110103618.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





