[發(fā)明專利]集成芯片及其形成方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110103343.0 | 申請日: | 2021-01-26 |
| 公開(公告)號: | CN113380841A | 公開(公告)日: | 2021-09-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 廖英凱;江欣益;陳祥麟;朱怡欣;劉柏均;黃冠杰;洪志明;劉人誠 | 申請(專利權(quán))人: | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/146 | 分類號: | H01L27/146 |
| 代理公司: | 北京德恒律治知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李偉 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 集成 芯片 及其 形成 方法 | ||
本發(fā)明的實施例涉及一種集成芯片。該集成芯片包括具有第一半導(dǎo)體材料的襯底。第二半導(dǎo)體材料設(shè)置在該第一半導(dǎo)體材料上。該第二半導(dǎo)體材料是IV族半導(dǎo)體或III?V族化合物半導(dǎo)體。鈍化層設(shè)置在該第二半導(dǎo)體材料上。該鈍化層包括該第一半導(dǎo)體材料。第一摻雜區(qū)域及第二摻雜區(qū)域延伸穿過該鈍化層并進入該第二半導(dǎo)體材料中。本發(fā)明的實施例還提供一種形成集成芯片的方法。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請的實施例涉及集成芯片及其形成方法。
背景技術(shù)
具有光子器件的集成芯片(IC)見于許多現(xiàn)代電子器件中。舉例來說,包括圖像傳感器的光子器件用于相機、錄像機以及其它類型的攝影系統(tǒng)以捕獲圖像。光子器件還廣泛應(yīng)用于其它應(yīng)用,例如,用于確定飛行時間(TOF)系統(tǒng)中的傳感器與目標(biāo)物體之間的間距的深度傳感器。TOF系統(tǒng)的深度傳感器可用于智能手機(例如,面部識別)、汽車、無人機、機器人等中。
發(fā)明內(nèi)容
在一些實施例中,一種集成芯片,包括:襯底,所述襯底包括第一半導(dǎo)體材料;第二半導(dǎo)體材料,所述第二半導(dǎo)體材料設(shè)置在所述第一半導(dǎo)體材料上,其中,所述第二半導(dǎo)體材料是IV族半導(dǎo)體或III-V族化合物半導(dǎo)體;鈍化層,所述鈍化層設(shè)置在所述第二半導(dǎo)體材料上,其中,所述鈍化層包括所述第一半導(dǎo)體材料;以及第一摻雜區(qū)域和第二摻雜區(qū)域,所述第一摻雜區(qū)域和所述第二摻雜區(qū)域延伸穿過所述鈍化層并進入所述第二半導(dǎo)體材料中。
在一些實施例中,一種集成芯片,包括:襯底,所述襯底包括硅;第二半導(dǎo)體材料,所述第二半導(dǎo)體材料具有接觸所述襯底的所述硅的最底表面,其中,所述第二半導(dǎo)體材料包括IV族半導(dǎo)體或III-V族化合物半導(dǎo)體;鈍化層,所述鈍化層包括硅,其中,所述鈍化層的所述硅接觸所述第二半導(dǎo)體材料的最頂表面;第一摻雜區(qū)域,所述第一摻雜區(qū)域具有第一摻雜類型且延伸穿過所述鈍化層并進入所述第二半導(dǎo)體材料中;以及第二摻雜區(qū)域,所述第二摻雜區(qū)域具有第二摻雜類型且延伸穿過所述鈍化層并進入所述第二半導(dǎo)體材料中,其中,所述第一摻雜區(qū)域和所述第二摻雜區(qū)域通過所述第二半導(dǎo)體材料與所述第二半導(dǎo)體材料的所述最底表面分開。
在一些實施例中,一種形成集成芯片的方法,包括:在襯底上形成第二半導(dǎo)體材料,所述襯底包括第一半導(dǎo)體材料;在所述第二半導(dǎo)體材料上形成鈍化層;執(zhí)行第一注入工藝以形成第一摻雜區(qū)域,所述第一摻雜區(qū)域具有第一摻雜類型且延伸穿過所述鈍化層并進入所述第二半導(dǎo)體材料中;以及執(zhí)行第二注入工藝以形成第二摻雜區(qū)域,所述第二摻雜區(qū)域具有第二摻雜類型且延伸穿過所述鈍化層并進入所述第二半導(dǎo)體材料中。
本申請的實施例提供了用于外延半導(dǎo)體工藝的鈍化層。
附圖說明
當(dāng)結(jié)合附圖進行閱讀時,從以下詳細描述可最佳理解本發(fā)明的各方面。應(yīng)該注意,根據(jù)工業(yè)中的標(biāo)準(zhǔn)實踐,各個部件未按比例繪制。實際上,為了清楚的討論,各個部件的尺寸可以任意地增大或減小。
圖1示出了集成芯片的一些實施例的截面圖,所述集成芯片包括設(shè)置在由鈍化層覆蓋的半導(dǎo)體材料內(nèi)的半導(dǎo)體器件。
圖2示出了集成芯片的一些額外實施例的截面圖,所述集成芯片包括設(shè)置在由鈍化層覆蓋的半導(dǎo)體材料內(nèi)的半導(dǎo)體器件。
圖3A到圖3C示出了集成芯片的一些替代實施例的截面圖,所述集成芯片包括設(shè)置在由鈍化層覆蓋的半導(dǎo)體材料內(nèi)的半導(dǎo)體器件。
圖4示出了集成芯片的一些實施例的截面圖,所述集成芯片包括設(shè)置在由鈍化層覆蓋的半導(dǎo)體材料內(nèi)的光子器件。
圖5示出了集成芯片的一些替代實施例的截面圖,所述集成芯片包括設(shè)置在由鈍化層覆蓋的半導(dǎo)體材料內(nèi)的光子器件。
圖6A示出了集成芯片的一些實施例的截面圖,所述集成芯片包括設(shè)置在由鈍化層覆蓋的半導(dǎo)體材料內(nèi)的深度傳感器。
圖6B示出了包括公開的深度傳感器的飛行時間(TOF)系統(tǒng)的一些實施例的框圖。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的多個半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





