[發明專利]一種PCB雙面測試探針臺

在審

• 申請號: 202110096465.1
• 申請日: 2021-01-25
• 公開（公告）號: CN112816853A
• 公開（公告）日: 2021-05-18
• 發明（設計）人: 吳會旭;劉偉;張海洋;呂文波
• 申請（專利權）人: 蘇州伊歐陸系統集成有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/073;G01N21/956
• 代理公司: 常州品益專利代理事務所(普通合伙) 32401
• 代理人: 侯慧娜

1.一種PCB雙面測試探針臺，包括隔振基臺(1)，其特征在于：所述隔振基臺(1)中央設置有PCB夾具(2)，所述PCB夾具(2)下方吸附有下探針機構(3)和下顯微鏡機構(4)，所述PCB夾具(2)上方分別設置有可沿X軸和Y軸方向移動的上顯微鏡機構(6)和上探針機構(7)。

2.如權利要求1所述的一種PCB雙面測試探針臺，其特征在于：所述隔振基臺(1)四周分別設置有第一滑軌(101)和第二滑軌(102)，所述第一滑軌(101)沿Y軸方向設置在所述PCB夾具(2)左右兩側形成Y軸滑軌，所述第二滑軌(102)沿X軸方向設置在所述PCB夾具(2)前后兩側形成X軸滑軌；所述Y軸滑軌上通過滑塊配合滑動設置有顯微鏡橋架(5)，所述顯微鏡橋架(5)上方沿X軸方向設置有第三滑軌(501)，所述第三滑軌(501)上滑動設置有所述上顯微鏡機構(6)；所述X軸滑軌上滑動設置有若干探針橋架(8)，所述探針橋架(8)上方沿Y軸方向設置有第四滑軌(801)，所述第四滑軌(801)上滑動設置有若干上探針臺(802)，所述上探針機構(7)吸附在所述上探針臺(802)上。

3.如權利要求2所述的一種PCB雙面測試探針臺，其特征在于：所述顯微鏡橋架(5)與所述Y軸滑軌之間設置有滾珠絲杠和調節旋鈕，所述顯微鏡橋架(5)與所述上顯微鏡機構(6)之間也設置有滾珠絲杠和調節旋鈕。

4.如權利要求1-3任一權利要求所述的一種PCB雙面測試探針臺，其特征在于：所述下探針機構(3)和所述上探針機構(7)均包括磁吸底座，所述磁吸底座上方固定有XYZ軸定位臺，所述XYZ定位臺前端固定有轉接板、并驅動所述轉接板沿XYZ軸三軸方向運動定位，所述轉接板前端通過探針旋轉桿轉動連接有探針組件，所述轉接板上還設置有旋轉微分頭，所述旋轉微分頭驅動所述探針旋轉桿轉動。

5.如權利要求4所述的一種PCB雙面測試探針臺，其特征在于：所述XYZ軸定位臺包括基座、X軸滑塊、Y軸滑塊和Z軸滑塊，所述基座、所述X軸滑塊、所述Y軸滑塊和所述Z軸滑塊相互之間均設置有相互配合的滑槽和滑軌，以及驅動所述X軸滑塊、所述Y軸滑塊和所述Z軸滑塊運動的絲杠螺母。

6.如權利要求5所述的一種PCB雙面測試探針臺，其特征在于：驅動所述X軸滑塊、所述Y軸滑塊和所述Z軸滑塊平移和定位的絲杠螺母尾端均設置有調節旋鈕。

7.如權利要求1-3任一權利要求所述的一種PCB雙面測試探針臺，其特征在于：所述上顯微鏡機構(6)包括上顯微鏡運動臺(601)，所述上顯微鏡運動臺(601)前端固定有上顯微鏡調焦模塊(602)，所述上顯微鏡調焦模塊(602)前端固定有顯微鏡夾具(603)，所述顯微鏡夾具(603)用于夾持上顯微鏡(604)。

8.如權利要求7所述的一種PCB雙面測試探針臺，其特征在于：所述上顯微鏡調焦模塊(602)包括基臺和Z軸滑塊，所述基臺和Z軸滑塊之間設置有相互配合的滑槽和滑軌，以及驅動所述Z軸滑塊運動的絲杠螺母和調節旋鈕。

9.如權利要求1-3任一權利要求所述的一種PCB雙面測試探針臺，其特征在于：所述下顯微鏡機構(4)包括磁吸底座，所述磁吸底座上固定有XYZ軸定位臺，所述XYZ軸定位臺前端固定有轉接板，所述轉接板前端固定有顯微鏡夾具(401)，所述顯微鏡夾具用于夾持下顯微鏡(402)，所述下顯微鏡(402)鏡頭前端設置有光轉接頭(403)。

10.如權利要求9所述的一種PCB雙面測試探針臺，其特征在于：所述光轉接頭(403)采用90°光轉接頭，用于觀測PCB背面。