[發(fā)明專利]一種PCB雙面測(cè)試探針臺(tái)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110096465.1
• 申請(qǐng)日: 2021-01-25
• 公開（公告）號(hào): CN112816853A
• 公開（公告）日: 2021-05-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳會(huì)旭;劉偉;張海洋;呂文波
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州伊歐陸系統(tǒng)集成有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R1/073;G01N21/956
• 代理公司: 常州品益專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32401
• 代理人: 侯慧娜

本發(fā)明涉及電路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種PCB雙面測(cè)試探針臺(tái)。包括隔振基臺(tái)，隔振基臺(tái)中央設(shè)置有PCB夾具，PCB夾具下方吸附有下探針機(jī)構(gòu)和下顯微鏡機(jī)構(gòu)，PCB夾具上方分別設(shè)置有可沿X軸和Y軸方向移動(dòng)的上顯微鏡機(jī)構(gòu)和上探針機(jī)構(gòu)。本發(fā)明基臺(tái)采用具備隔振功能的光學(xué)基臺(tái)，有效避免振動(dòng)造成的測(cè)試偏差。通過上顯微鏡機(jī)構(gòu)和下顯微鏡機(jī)構(gòu)，可對(duì)PCB的正面和背面進(jìn)行雙面觀測(cè)，通過上探針機(jī)構(gòu)和下探針機(jī)構(gòu)，可對(duì)PCB的正面和背面進(jìn)行雙面探針測(cè)試，解決了PCB板尺寸增加以及多層化帶來的測(cè)試難題。而且上顯微鏡機(jī)構(gòu)和上探針機(jī)構(gòu)可沿X軸和Y軸方向的運(yùn)動(dòng)，可快速的實(shí)現(xiàn)PCB板的定位和測(cè)試。下探針機(jī)構(gòu)和下顯微鏡機(jī)構(gòu)均設(shè)置有磁吸底座，使用更方便，而且不易偏移。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種PCB雙面測(cè)試探針臺(tái)。

背景技術(shù)

5G時(shí)代的到來，無線信號(hào)將向更高頻段延伸，由于基站覆蓋區(qū)域與通信頻率成反比，基站密度和移送數(shù)據(jù)計(jì)算量會(huì)大幅提升。目前行業(yè)預(yù)測(cè)5G基站數(shù)量將會(huì)達(dá)到4G時(shí)代的2倍，此外還有約10倍數(shù)量的小基站用于解決弱覆蓋以及覆蓋盲點(diǎn)的問題。用于5G基站天線的高頻PCB的用量將會(huì)是4G的數(shù)倍。

4G基站用到PCB主要分為天線系統(tǒng)、RRU和BBU，4G基站RRU用到的PCB板尺寸在60*40mm-200*160mm范圍內(nèi)，BBU所用PCB板尺寸在300*200mm左右。不同于4G基站，5G基站結(jié)構(gòu)有所改變，BBU被拆分成CU、DU，天線和RRU被集成在AAU中，AAU里面包含天線系統(tǒng)(振子饋電網(wǎng)絡(luò))、收發(fā)單元(DSP；DAC/ADC；PA；LNA；Filter等器件)，其中振子(自身含PCB材質(zhì))集成在一塊PCB(含饋電網(wǎng)絡(luò))上，收發(fā)單元的面積主要以PA和TRX兩塊PCB為主，其中PA板集成在TRX板上。天線底板尺寸約400*750mm，TRX板尺寸約為400*750mm。PA板集成在TRX上，共有4塊，每塊尺寸約150*180mm。BBU尺寸與4G相差不大，尺寸在480*300mm左右。5G基站用到的PCB板尺寸更大、層數(shù)更多，價(jià)格也隨之呈現(xiàn)幾何增長。PCB板尺寸的增大對(duì)于測(cè)試來說已經(jīng)變成一項(xiàng)較大的挑戰(zhàn)，而且在現(xiàn)有的技術(shù)中缺少對(duì)PCB進(jìn)行探針雙面測(cè)試的設(shè)備。現(xiàn)有對(duì)大尺寸的雙面PCB板測(cè)試和觀察仍采用人工為主，先對(duì)一面進(jìn)行定位和測(cè)試，在通過人工翻轉(zhuǎn)對(duì)另一面進(jìn)行定位和測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明解決的技術(shù)問題是提供一種可對(duì)PCB進(jìn)行探針雙面觀察和測(cè)試的雙面測(cè)試探針臺(tái)。

本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：

一種PCB雙面測(cè)試探針臺(tái)，包括隔振基臺(tái)，所述隔振基臺(tái)中央設(shè)置有PCB夾具，所述PCB夾具下方吸附有下探針機(jī)構(gòu)和下顯微鏡機(jī)構(gòu)，所述PCB夾具上方分別設(shè)置有可沿X軸和Y軸方向移動(dòng)的上顯微鏡機(jī)構(gòu)和上探針機(jī)構(gòu)。

進(jìn)一步地，所述隔振基臺(tái)四周分別設(shè)置有第一滑軌和第二滑軌，所述第一滑軌沿Y軸方向設(shè)置在所述PCB夾具左右兩側(cè)形成Y軸滑軌，所述第二滑軌沿X軸方向設(shè)置在所述PCB夾具前后兩側(cè)形成X軸滑軌；所述Y軸滑軌上通過滑塊配合滑動(dòng)設(shè)置有顯微鏡橋架，所述顯微鏡橋架上方沿X軸方向設(shè)置有第三滑軌，所述第三滑軌上滑動(dòng)設(shè)置有所述上顯微鏡機(jī)構(gòu)；所述X軸滑軌上滑動(dòng)設(shè)置有若干探針橋架，所述探針橋架上方沿Y軸方向設(shè)置有第四滑軌，所述第四滑軌上滑動(dòng)設(shè)置有若干上探針臺(tái)，所述上探針機(jī)構(gòu)吸附在所述上探針臺(tái)上。

進(jìn)一步地，所述顯微鏡橋架與所述Y軸滑軌之間設(shè)置有滾珠絲杠和調(diào)節(jié)旋鈕，所述顯微鏡橋架與所述上顯微鏡機(jī)構(gòu)之間也設(shè)置有滾珠絲杠和調(diào)節(jié)旋鈕。

進(jìn)一步地，所述下探針機(jī)構(gòu)和所述上探針機(jī)構(gòu)均包括磁吸底座，所述磁吸底座上方固定有XYZ軸定位臺(tái)，所述XYZ定位臺(tái)前端固定有轉(zhuǎn)接板、并驅(qū)動(dòng)所述轉(zhuǎn)接板沿XYZ軸三軸方向運(yùn)動(dòng)定位，所述轉(zhuǎn)接板前端通過探針旋轉(zhuǎn)桿轉(zhuǎn)動(dòng)連接有探針組件，所述轉(zhuǎn)接板上還設(shè)置有旋轉(zhuǎn)微分頭，所述旋轉(zhuǎn)微分頭驅(qū)動(dòng)所述探針旋轉(zhuǎn)桿轉(zhuǎn)動(dòng)。