[發(fā)明專利]利用磁控濺射法制備電磁屏蔽陶瓷板技術(shù)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110089120.3 | 申請日: | 2021-01-22 |
| 公開(公告)號: | CN112921268A | 公開(公告)日: | 2021-06-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 袁國梁;喬栓虎 | 申請(專利權(quán))人: | 山東電盾科技股份有限公司 |
| 主分類號: | C23C14/02 | 分類號: | C23C14/02;C23C14/06;C23C14/18;C23C14/58;C23C14/35 |
| 代理公司: | 青島發(fā)思特專利商標(biāo)代理有限公司 37212 | 代理人: | 耿霞 |
| 地址: | 255185 山東省淄博市淄*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 利用 磁控濺射 法制 電磁 屏蔽 陶瓷 技術(shù) | ||
1.一種利用磁控濺射法制備電磁屏蔽陶瓷板技術(shù),其特征在于:制備步驟為:利用磁控濺射法,在陶瓷板釉面依次形成氮化硅薄膜過渡層、鉻鎳膜導(dǎo)電層,退火得到電磁屏蔽陶瓷板。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的利用磁控濺射法制備電磁屏蔽陶瓷板技術(shù),其特征在于:制備步驟包括:
(1)將陶瓷板置于真空室,抽真空,通氬氣轟擊清洗陶瓷板,采用平面硅靶材,利用磁控濺射法,調(diào)整負(fù)壓,進(jìn)行氮化硅薄膜沉積,最后進(jìn)行退火,得到氮化硅薄膜過渡層;
(2)將上述制得的氮化硅薄膜過渡層的陶瓷板,進(jìn)行與步驟(1)相同條件清洗,然后采用鉻鎳靶材,利用磁控濺射法,進(jìn)行金屬鉻鎳薄膜沉積,最后進(jìn)行退火,鍍得鉻鎳薄膜,得到電磁屏蔽陶瓷板。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的利用磁控濺射法制備電磁屏蔽陶瓷板技術(shù),其特征在于:步驟(1)中,轟擊清洗陶瓷板的真空度為6.6×10-4Pa。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的利用磁控濺射法制備電磁屏蔽陶瓷板技術(shù),其特征在于:步驟(1)中通入氬氣的流量值為35sccm。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的利用磁控濺射法制備電磁屏蔽陶瓷板技術(shù),其特征在于:步驟(1)中氮化硅薄膜沉積時(shí)間為60min。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的利用磁控濺射法制備電磁屏蔽陶瓷板技術(shù),其特征在于:步驟(1)中氮化硅薄膜沉積制度為:硅靶電源射頻功率為3KW;真空度為10-4~10-3Pa。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的利用磁控濺射法制備電磁屏蔽陶瓷板技術(shù),其特征在于:步驟(1)中退火溫度為550-600℃,時(shí)間為60min。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的利用磁控濺射法制備電磁屏蔽陶瓷板技術(shù),其特征在于:步驟(2)中鉻鎳薄膜沉積制度為:鉻鎳電源射頻功率為140-160W;真空度為0.2-0.6Pa。
9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的利用磁控濺射法制備電磁屏蔽陶瓷板技術(shù),其特征在于:步驟(2)中退火溫度為440-460℃,時(shí)間為30min。
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C23C 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C14-00 通過覆層形成材料的真空蒸發(fā)、濺射或離子注入進(jìn)行鍍覆
C23C14-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C14-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物
C23C14-06 .以鍍層材料為特征的
C23C14-22 .以鍍覆工藝為特征的
C23C14-58 .后處理





