[發(fā)明專利]一種PERC高效電池SE激光后方阻測試圖形在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110088797.5 | 申請日: | 2021-01-22 |
| 公開(公告)號: | CN114823397A | 公開(公告)日: | 2022-07-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉娟;張滿滿;錢俊 | 申請(專利權(quán))人: | 江蘇潤陽悅達(dá)光伏科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66;H01L23/544 |
| 代理公司: | 南京普睿益思知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32475 | 代理人: | 杜朝霞 |
| 地址: | 224007 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 perc 高效 電池 se 激光 后方 測試 圖形 | ||
本發(fā)明公開了一種PERC高效電池SE激光后方阻測試圖形,測試步驟包括如下:S1,預(yù)處理:首先在激光機(jī)臺上設(shè)計五個相等大小的方塊圖形,然后即可固定相對應(yīng)的坐標(biāo),并取出四探針方阻測試儀待用;S2,確保重?fù)诫s:利用四探針測試點(diǎn)位正好測試對應(yīng)激光的方塊位置,以此來確保測試的每個點(diǎn)都是重?fù)诫s區(qū)域。本發(fā)明通過在激光臺上設(shè)計五個固定大小的方塊圖形,以此來固定坐標(biāo),然后與四探針測試坐標(biāo)相互匹配,這樣即可測試出五點(diǎn)方阻平均值,如此在后續(xù)加工的過程中就可以避免出現(xiàn)的偶然性,而且也可以節(jié)約測試整面方阻的時間和打滿面激光的時間,以此來提高測試方阻的準(zhǔn)確性與工作效率,大大提高了測試時的準(zhǔn)確性,實(shí)用性較強(qiáng)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電池生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域,尤其是一種PERC高效電池SE激光后方阻測試圖形。
背景技術(shù)
隨著人們對環(huán)境的保護(hù)意識的加強(qiáng),太陽能發(fā)電是一種清潔、可再生的資源,利用太陽能發(fā)電光伏電池是一種重要的轉(zhuǎn)換載體,太陽能電池在光伏發(fā)電中起著至關(guān)重要的過程。隨著PERC電池逐漸興起,電池的轉(zhuǎn)換效率不斷提高,正面激光已是PERC電池生產(chǎn)中一道重要的工序,現(xiàn)SE激光技術(shù)已普遍適用于PERC高效電池生產(chǎn),SE是將擴(kuò)散后形成的PSG層作為雜質(zhì)進(jìn)行摻雜原理,驅(qū)入實(shí)現(xiàn)局部重?fù)诫s。后道工序不做改變,通過管控激光后方阻的大小,可以改善電池片的歐姆接觸及減小激光對晶格的損傷,提高電池的轉(zhuǎn)換效率,所以激光后方阻管控是電池生產(chǎn)中必不可少的一道管控。
現(xiàn)市面上的電池SE激光后容易存在方阻異常的情況,在加工的過程中無法有效的確認(rèn)方阻存在的偶然性,且在后續(xù)對方阻進(jìn)行測試時還需要花費(fèi)較長的時間和精力,不能夠較好的提高測試方阻時的準(zhǔn)確性,在應(yīng)用的過程中工作效率較低。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明針對背景技術(shù)中的不足,提供了一種PERC高效電池SE激光后方阻測試圖形。
本發(fā)明為解決上述現(xiàn)象,采用以下技術(shù)方案,一種PERC高效電池SE激光后方阻測試圖形,測試方法包括如下:
S1,預(yù)處理:首先在激光機(jī)臺上設(shè)計五個相等大小的方塊圖形,然后即可固定相對應(yīng)的坐標(biāo),并取出四探針方阻測試儀待用;
S2,確保重?fù)诫s:利用四探針測試點(diǎn)位正好測試對應(yīng)激光的方塊位置,以此來確保測試的每個點(diǎn)都是重?fù)诫s區(qū)域;
S3,確認(rèn)位置:當(dāng)正面激光后需在二次元下光斑確認(rèn)狀態(tài)無誤,然后依次填充滿整個激光方塊區(qū)域,并確保五個激光方塊區(qū)域全部填充滿;
S4,開始測試:當(dāng)激光后的光斑,再利用四探針測試儀測試激光重?fù)诫s區(qū)域,確保測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步優(yōu)選方式,步驟S1中,首先在激光機(jī)臺上設(shè)計五個相等大小的方塊圖形,方塊圖形的規(guī)格大小為50mm×50mm,然后即可固定相對應(yīng)的坐標(biāo),并取出四探針方阻測試儀待用。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步優(yōu)選方式,步驟S2中,利用四探針測試點(diǎn)位正好測試對應(yīng)激光的方塊位置,以此來確保測試的每個點(diǎn)都是重?fù)诫s區(qū)域,并重復(fù)步驟來確認(rèn)兩次保證準(zhǔn)確性。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步優(yōu)選方式,步驟S3中,當(dāng)正面激光后需在二次元下光斑確認(rèn)狀態(tài)無誤,保證是連續(xù)的、無重疊,同時光斑飽和度需要達(dá)到正常水準(zhǔn),然后依次填充滿整個激光方塊區(qū)域,并確保五個激光方塊區(qū)域全部填充滿。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步優(yōu)選方式,步驟S3中,需要進(jìn)一步在四探針上面編輯一個與之匹配的測試點(diǎn),確保測試點(diǎn)與激光位置相對應(yīng)。
作為本發(fā)明的進(jìn)一步優(yōu)選方式,步驟S4中,當(dāng)激光后的光斑,再利用四探針測試儀測試激光重?fù)诫s區(qū)域,確保測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性,將采集到的五個點(diǎn)數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄,然后求其平均值,即可確認(rèn)為正面激光后方阻的數(shù)據(jù)。
本發(fā)明通過在激光臺上設(shè)計五個固定大小的方塊圖形,以此來固定坐標(biāo),然后與四探針測試坐標(biāo)相互匹配,這樣即可測試出五點(diǎn)方阻平均值,可以準(zhǔn)確及快速測試激光后方阻的數(shù)據(jù),可以節(jié)省工作時間及提高工作效率。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





