[發明專利]光耦測試分選機高壓測試裝置及其工作方法

在審

• 申請號: 202110084908.5
• 申請日: 2021-01-22
• 公開（公告）號: CN112775035A
• 公開（公告）日: 2021-05-11
• 發明（設計）人: 吳成君;林強
• 申請（專利權）人: 福州派利德電子科技有限公司
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38;G01R1/04;G01R31/00;G01R31/12
• 代理公司: 福州元創專利商標代理有限公司 35100
• 代理人: 陸帥;蔡學俊

本發明涉及一種光耦測試分選機高壓測試裝置，包括底板，底板上設有用以輸送光耦的傾斜通道，通道的左右兩側對稱設有測試爪組件，測試爪組件均經驅動機構驅動靠近或遠離同側的光耦引腳。該光耦測試分選機高壓測試裝置的結構簡單，能夠配合高壓儀測試光耦耐壓值，測試時測試爪組件均經驅動機構驅動靠近或遠離同側的光耦引腳，測試方便，效率高。

技術領域

本發明涉及一種光耦測試分選機高壓測試裝置及其工作方法。

背景技術

光耦合器（opticalcoupler equipment，英文縮寫為OCEP）亦稱光電隔離器或光電耦合器，簡稱光耦。它是以光為媒介來傳輸電信號的器件。耦合器以光為媒介傳輸電信號。它對輸入、輸出電信號有良好的隔離作用，所以在各種電路中得到廣泛的應用。

光耦需要配合高壓儀進行耐壓值的檢測，傳統的檢測方式多采用人工手動操作，效率低下。

發明內容

鑒于現有技術的不足，本發明所要解決的技術問題是提供一種光耦測試分選機高壓測試裝置及其工作方法。

為了解決上述技術問題，本發明的技術方案是：一種光耦測試分選機高壓測試裝置，包括底板，底板上設有用以輸送光耦的傾斜通道，通道的左右兩側對稱設有測試爪組件，測試爪組件均經驅動機構驅動靠近或遠離同側的光耦引腳。

優選的，通道包括相互平行設置的下直板與上直板，上直板的底面設有用以光耦頂部嵌入滑動的直槽，直槽與下直板之間形成光耦的滑移槽道。

優選的，測試爪組件均包括位于底板上的活動座體，活動座體均沿通道長側均布若干測試觸片；驅動機構均包括安裝在底板上的驅動氣缸，驅動氣缸的活塞桿均連接活動座體，活動座體上均設有導塊，導塊均插入底板上左右延伸的導槽，進行左右往復移動導向。

優選的，兩左右對稱設置的測試爪組件組成第一光耦高壓測試組，第一光耦高壓測試組的后方設有結構相同的第二光耦高壓測試組。

優選的，上直板內部豎直穿設有位于第一光耦高壓測試組與第二光耦高壓測試組之間的第一擋塊、第二光耦高壓測試組后方的第二擋塊，第一擋塊與第二擋塊均經擋塊氣缸驅動升降；上、下直板沿長側均布有若干個對應光耦的光孔，底板頂部、底部在每個光孔上、下方同軸設有光電傳感器。

優選的，通道在測試爪組件的前方自前往后依次設有上料組件、分粒組件，通道在測試爪組件的后方設有下料組件。

優選的，上料組件包括鉸接在通道前端的旋轉座體，旋轉座體經旋轉用氣缸驅動擺轉，旋轉用氣缸的缸體末端與底板鉸接，旋轉用氣缸的活塞桿與旋轉座體鉸接；旋轉座體上固連有用以同步擺轉銜接通道的底座，底座上方設有夾塊，夾塊經安裝在旋轉座體上的夾塊用氣缸驅動升降，夾塊的夾緊面設有用以夾緊時封管自適應居中定位對準通道的類V形夾槽；封管內部設有光耦的滑移直槽。

優選的，分粒組件包括固連在通道旁側底板上的固定座體，固定座體旁側的上直板開設有長槽條，長槽條內部自前往后依次穿插有用以伸入通道內部的第三擋塊、敲料軟棒、第四擋塊；第三擋塊與第四擋塊分別經安裝在固定座體上的擋塊氣缸驅動升降；敲料軟棒頂端固連一擺臂，擺臂位于上直板上方且另一端與固定座體鉸接，擺臂非端部連接彈簧，彈簧另一端斜向上連接固定座體，固定座體上安裝有用以豎向伸縮頂壓擺臂非端部的擺臂用氣缸。

優選的，下料組件包括經電動機構驅動左右往復滑移的分料座體，分料座體上設有用以銜接通道后端出口的分料通道，分料通道后端設有經擋塊氣缸驅動升降的第五擋塊，第五擋塊豎直穿插進入分料通道內部；分料座體的后方左側設有合格光耦通道，分料座體的后方右側設有不合格光耦通道，其中分料通道、合格光耦通道、不合格光耦通道的結構均與所述通道的結構相同且均前后傾斜延伸；不合格光耦通道的后端均銜接有用以傾斜插設封管的插口，插口的后下方均設有用以收集封管的收集筒；分料通道經電動機構驅動左右往復滑移銜接合格光耦通道或不合格光耦通道；不合格光耦通道左右均布若干排。