[發(fā)明專利]一種探針孔深檢測機構(gòu)

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• 申請?zhí)枺?/td>: 202110082856.8
• 申請日: 2021-01-21
• 公開（公告）號: CN112729203A
• 公開（公告）日: 2021-04-30
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 丁崇亮;楊偉鑫;劉振
• 申請（專利權(quán)）人: 鎮(zhèn)安芯木田科技有限公司
• 主分類號: G01B21/18
• 分類號: G01B21/18
• 代理公司: 西安毅聯(lián)專利代理有限公司 61225
• 代理人: 王昊

本發(fā)明公開了一種探針孔深檢測機構(gòu)，包括基座、彈簧、擋塊、滑塊、感應器、導向塊、二次定位塊和檢測針，二次定位塊、導向塊和擋塊均安裝于基座，檢測針貫穿二次定位塊后伸入導向塊，導向塊位于二次定位塊和擋塊之間；滑塊安裝在導向塊和二次定位塊的上表面，滑塊的一部分位于導向塊的上表面，滑塊的另一部分位于二次定位塊的上表面；擋塊和導向塊之間具有間隙，彈簧貫穿擋塊并穿過間隙進入導向塊，進入導向塊的彈簧與檢測針的尾部連接；感應器位于彈簧的正上方，感應器感應彈簧的壓縮量。本發(fā)明利用固定在滑塊上的感應器通過檢測針的到位情況判斷產(chǎn)品孔深的不良與合格，具有檢測方便和檢測效率高的優(yōu)點。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及探針檢測領(lǐng)域，尤其涉及一種探針孔深檢測機構(gòu)。

背景技術(shù)

高端精密探針是一種應用非常廣泛的微型鏈接器，廣泛應用于航空、航天、航海、軍工、醫(yī)療、微電子、光電類等領(lǐng)域。

高端精密探針的結(jié)構(gòu)特征主要有：針管、彈簧、針頭、針套等；制造工藝有：預裝、定位、預壓、鉚口/收口/滾壓槽口/打點等；因為產(chǎn)品較小，故而人工在孔深檢測過程中無法保證批量、快速、準確。

因此，如何實現(xiàn)自動式檢測，并達到批量、快速、準確變得非常迫切和重要。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種探針孔深檢測機構(gòu)，解決人工作業(yè)過程中無法批量、快速、準確完成孔深檢測的問題。

實現(xiàn)本發(fā)明目的的技術(shù)方案如下：

一種探針孔深檢測機構(gòu)，包括基座、彈簧、擋塊、滑塊、感應器、導向塊、二次定位塊和檢測針，所述二次定位塊、所述導向塊和所述擋塊均安裝于所述基座，所述檢測針貫穿所述二次定位塊后伸入所述導向塊，所述導向塊位于所述二次定位塊和所述擋塊之間；

所述滑塊安裝在所述導向塊和所述二次定位塊的上表面，所述滑塊的一部分位于所述導向塊的上表面，所述滑塊的另一部分位于所述二次定位塊的上表面；

所述擋塊和所述導向塊之間具有間隙，所述彈簧貫穿所述擋塊并穿過所述間隙進入所述導向塊，進入導向塊的所述彈簧與所述檢測針的尾部連接；

所述感應器位于所述彈簧的正上方，所述感應器感應所述彈簧的壓縮量。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述二次定位塊及所述導向塊均固定在所述基座對應的孔內(nèi)，所述二次定位塊上的凹槽的面與所述彈簧連接。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述彈簧與所述擋塊連接，所述擋塊通過所述彈簧將所述導向塊壓在所述基座的端面，所述檢測針會跟隨產(chǎn)品的進入而沿著所述二次定位塊及所述導向塊的通孔向右運動。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述感應器固定在所述滑塊上，所述感應器會通過所述檢測針的到位情況判斷產(chǎn)品孔深的不良與合格。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述滑塊與所述基座配合的孔為腰型孔，所述滑塊可在所述基座上根據(jù)需求調(diào)整位置。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述二次定位塊與所述導向塊連接，所述二次定位塊與所述導向塊中間有檢測孔深的探針產(chǎn)品的孔，將需要檢測孔深的探針產(chǎn)品的孔對準所述檢測針。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：

本發(fā)明利用固定在滑塊上的感應器通過檢測針的到位情況判斷產(chǎn)品孔深的不良與合格，具有檢測方便和檢測效率高的優(yōu)點。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，構(gòu)成本發(fā)明的一部分，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當限定。在附圖中：

圖1為探針孔深檢測機構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為圖1的A-A剖視圖；

圖中，1、基座；2、彈簧；3、擋塊；4、滑塊；5、感應器；6、導向塊；7、二次定位塊；8、檢測針。

具體實施方式