[發(fā)明專利]一種探針孔深檢測機構(gòu)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110082856.8
• 申請日: 2021-01-21
• 公開（公告）號: CN112729203A
• 公開（公告）日: 2021-04-30
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 丁崇亮;楊偉鑫;劉振
• 申請（專利權(quán)）人: 鎮(zhèn)安芯木田科技有限公司
• 主分類號: G01B21/18
• 分類號: G01B21/18
• 代理公司: 西安毅聯(lián)專利代理有限公司 61225
• 代理人: 王昊

1.一種探針孔深檢測機構(gòu)，其特征在于，包括基座、彈簧、擋塊、滑塊、感應(yīng)器、導(dǎo)向塊、二次定位塊和檢測針，所述二次定位塊、所述導(dǎo)向塊和所述擋塊均安裝于所述基座，所述檢測針貫穿所述二次定位塊后伸入所述導(dǎo)向塊，所述導(dǎo)向塊位于所述二次定位塊和所述擋塊之間；

所述滑塊安裝在所述導(dǎo)向塊和所述二次定位塊的上表面，所述滑塊的一部分位于所述導(dǎo)向塊的上表面，所述滑塊的另一部分位于所述二次定位塊的上表面；

所述擋塊和所述導(dǎo)向塊之間具有間隙，所述彈簧貫穿所述擋塊并穿過所述間隙進入所述導(dǎo)向塊，進入導(dǎo)向塊的所述彈簧與所述檢測針的尾部連接；

所述感應(yīng)器位于所述彈簧的正上方，所述感應(yīng)器感應(yīng)所述彈簧的壓縮量。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述所述一種探針孔深檢測機構(gòu)，其特征在于，所述二次定位塊及所述導(dǎo)向塊均固定在所述基座對應(yīng)的孔內(nèi)，所述二次定位塊上的凹槽的面與所述彈簧連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述所述一種探針孔深檢測機構(gòu)，其特征在于，所述彈簧與所述擋塊連接，所述擋塊通過所述彈簧將所述導(dǎo)向塊壓在所述基座的端面，所述檢測針會跟隨產(chǎn)品的進入而沿著所述二次定位塊及所述導(dǎo)向塊的通孔向右運動。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述所述一種探針孔深檢測機構(gòu)，其特征在于，所述感應(yīng)器固定在所述滑塊上，所述感應(yīng)器會通過所述檢測針的到位情況判斷產(chǎn)品孔深的不良與合格。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述所述一種探針孔深檢測機構(gòu)，其特征在于，所述滑塊與所述基座配合的孔為腰型孔，所述滑塊可在所述基座上根據(jù)需求調(diào)整位置。

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述所述一種探針孔深檢測機構(gòu)，其特征在于，所述二次定位塊與所述導(dǎo)向塊連接，所述二次定位塊與所述導(dǎo)向塊中間有檢測孔深的探針產(chǎn)品的孔，將需要檢測孔深的探針產(chǎn)品的孔對準所述檢測針。