[發(fā)明專利]確定鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度的方法

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• 申請日: 2021-01-21
• 公開（公告）號: CN112883604A
• 公開（公告）日: 2021-06-01
• 發(fā)明（設計）人: 王心美;李磊;岳珠峰;李振興;喬詩展
• 申請（專利權）人: 西北工業(yè)大學
• 主分類號: G06F30/23
• 分類號: G06F30/23;G16C20/30
• 代理公司: 北京律智知識產權代理有限公司 11438
• 代理人: 闞梓瑄

本公開涉及一種確定鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度的方法和計算機可讀介質，包括：提供鎳基單晶葉片不同位置處的葉片試樣；對每個葉片試樣中的不同位置的金相組織進行拍攝，以形成多個分別與各個位置的金相組織相對應的金相組織圖；根據(jù)各金相組織圖，建立鎳基單晶葉片不同位置處γ＇相微觀組織面積的概率密度函數(shù)；根據(jù)概率密度函數(shù)，選取預定數(shù)量的γ＇相樣本，并建立鎳基單晶葉片不同位置處的γ/γ＇相的模型圖；根據(jù)模型圖，建立鎳基單晶葉片不同位置處的γ/γ＇相的有限元模型，并對不同位置處的有限元模型進行計算，以確定鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度。該方法能夠更加準確的確定鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度。

技術領域

本公開涉及鎳基高溫合金技術領域，尤其涉及一種確定鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度的方法和計算機可讀存儲介質。

背景技術

在鎳基高溫合金技術領域中，高溫蠕變是鎳基單晶葉片失效的主要形式，為了避免鎳基單晶葉片發(fā)生蠕變斷裂而引起失效，需要對鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度進行分析。

在現(xiàn)有技術中，通常采用一個γ＇相來建立單顆粒模型。然而，γ＇相單顆粒模型太過于理想化，不能夠很好的反映出真實的γ/γ＇相微觀組織。并且，γ＇相單顆粒模型沒有考慮單晶葉片在不同位置處γ＇相尺寸的差異。從而，現(xiàn)有技術無法準確的對鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度進行分析和確定。

所述背景技術部分公開的上述信息僅用于加強對本公開的背景的理解，因此它可以包括不構成對本領域普通技術人員已知的現(xiàn)有技術的信息。

發(fā)明內容

本公開的目的在于提供一種確定鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度的方法和計算機可讀存儲介質，該方法能夠準確的對鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度進行分析和確定。

為實現(xiàn)上述發(fā)明目的，本公開采用如下技術方案：

本公開首先提供了一種確定鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度的方法，包括：

提供所述鎳基單晶葉片不同位置處的葉片試樣；

對每個所述葉片試樣中的不同位置的金相組織進行拍攝，以形成多個分別與各個位置的金相組織相對應的金相組織圖；

根據(jù)各所述金相組織圖，建立所述鎳基單晶葉片不同位置處γ＇相微觀組織面積的概率密度函數(shù)；

根據(jù)所述概率密度函數(shù)，選取預定數(shù)量的γ＇相樣本，并建立所述鎳基單晶葉片不同位置處的γ/γ＇相的模型圖；

根據(jù)所述模型圖，建立所述鎳基單晶葉片不同位置處的γ/γ＇相的有限元模型，并對不同位置處的所述有限元模型進行計算，以確定所述鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度。

在本公開的一種示例性實施例中，所述對每個所述葉片試樣中的不同位置的金相組織進行拍攝，以形成多個分別與各個位置的金相組織相對應的金相組織圖，包括：

對每個所述葉片試樣的表面進行處理；

對表面處理后的各所述葉片試樣的金相組織進行腐蝕；

在各所述葉片試樣的不同位置上選取預定數(shù)量的金相試樣；

對每個金相試樣的預設區(qū)域進行拍攝，以得到每個所述金相試樣的金相組織圖。

在本公開的一種示例性實施例中，所述預設區(qū)域為所述金相試樣的中間區(qū)域。

在本公開的一種示例性實施例中，所述根據(jù)各所述金相組織圖，建立所述鎳基單晶葉片不同位置處γ＇相微觀組織面積的概率密度函數(shù)，包括：

根據(jù)各所述金相組織圖，對各所述金相組織圖中的γ＇相微觀組織面積和尺寸進行統(tǒng)計；

根據(jù)對各所述金相組織圖中的γ＇相微觀組織面積和尺寸進行統(tǒng)計的結果，確定各所述金相組織圖中的γ＇相微觀組織面積的分布規(guī)律；