[發明專利]確定鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度的方法

在審

• 申請號: 202110080513.8
• 申請日: 2021-01-21
• 公開（公告）號: CN112883604A
• 公開（公告）日: 2021-06-01
• 發明（設計）人: 王心美;李磊;岳珠峰;李振興;喬詩展
• 申請（專利權）人: 西北工業大學
• 主分類號: G06F30/23
• 分類號: G06F30/23;G16C20/30
• 代理公司: 北京律智知識產權代理有限公司 11438
• 代理人: 闞梓瑄

1.一種確定鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度的方法，其特征在于，包括：

提供所述鎳基單晶葉片不同位置處的葉片試樣；

對每個所述葉片試樣中的不同位置的金相組織進行拍攝，以形成多個分別與各個位置的金相組織相對應的金相組織圖；

根據各所述金相組織圖，建立所述鎳基單晶葉片不同位置處γ＇相微觀組織面積的概率密度函數；

根據所述概率密度函數，選取預定數量的γ＇相樣本，并建立所述鎳基單晶葉片不同位置處的γ/γ＇相的模型圖；

根據所述模型圖，建立所述鎳基單晶葉片不同位置處的γ/γ＇相的有限元模型，并對不同位置處的所述有限元模型進行計算，以確定所述鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度。

2.根據權利要求1所述的確定鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度的方法，其特征在于，所述對每個所述葉片試樣中的不同位置的金相組織進行拍攝，以形成多個分別與各個位置的金相組織相對應的金相組織圖，包括：

對每個所述葉片試樣的表面進行處理；

對表面處理后的各所述葉片試樣的金相組織進行腐蝕；

在各所述葉片試樣的不同位置上選取預定數量的金相試樣；

對每個金相試樣的預設區域進行拍攝，以得到每個所述金相試樣的金相組織圖。

3.根據權利要求2所述的確定鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度的方法，其特征在于，所述預設區域為所述金相試樣的中間區域。

4.根據權利要求1所述的確定鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度的方法，其特征在于，所述根據各所述金相組織圖，建立所述鎳基單晶葉片不同位置處γ＇相微觀組織面積的概率密度函數，包括：

根據各所述金相組織圖，對各所述金相組織圖中的γ＇相微觀組織面積和尺寸進行統計；

根據對各所述金相組織圖中的γ＇相微觀組織面積和尺寸進行統計的結果，確定各所述金相組織圖中的γ＇相微觀組織面積的分布規律；

根據所述分布規律，建立所述鎳基單晶葉片不同位置處γ＇相微觀組織面積的概率密度函數。

5.根據權利要求4所述的確定鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度的方法，其特征在于，所述根據各所述金相組織圖，對各所述金相組織圖中的γ＇相微觀組織面積和尺寸進行統計，包括：

對各所述金相組織圖進行閾值處理；

確定比例尺，并對閾值處理后的各所述金相組織圖中的γ＇相微觀組織面積和尺寸進行統計。

6.根據權利要求5所述的確定鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度的方法，其特征在于，所述概率密度函數為：

其中，x為γ＇相微觀組織面積，α為所述概率密度函數的形狀參數，β為所述概率密度函數的尺度參數，ε為所述概率密度函數的位置參數。

7.根據權利要求1所述的確定鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度的方法，其特征在于，所述根據所述概率密度函數，選取預定數量的γ＇相樣本，并建立所述鎳基單晶葉片不同位置處的γ/γ＇相的模型圖，包括：

根據所述概率密度函數，從所述概率密度函數中抽取預設數量的γ＇相樣本；

利用矩形排布法將預設數量的所述γ＇相樣本進行隨機排布，以得到所述鎳基單晶葉片不同位置處的γ/γ＇相的模型圖。

8.根據權利要求1所述的確定鎳基單晶葉片不同位置處的蠕變強度的方法，其特征在于，所述根據所述模型圖，建立所述鎳基單晶葉片不同位置處的γ/γ＇相的有限元模型，包括：

對所述γ/γ＇相的模型圖進行閾值處理；

獲取所述γ/γ＇相的模型圖中每個所述γ＇相樣本的位置坐標和尺寸；

根據所述每個所述γ＇相樣本的位置坐標和尺寸，計算每個γ＇相樣本的對角坐標；

根據每個所述γ＇相樣本的尺寸和對角坐標，建立所述鎳基單晶葉片不同位置處的γ/γ＇相的有限元模型。