[發明專利]測試觸控模組的測試系統

在審

• 申請號: 202110070847.7
• 申請日: 2021-01-19
• 公開（公告）號: CN112763836A
• 公開（公告）日: 2021-05-07
• 發明（設計）人: 王松
• 申請（專利權）人: 江西歐邁斯微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01;G01R27/02;G01H9/00
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 邵泳城

本申請公開了一種測試觸控模組的測試系統，測試系統包括安裝平臺、活動平臺、激光測振傳感器和阻抗分析探頭。安裝平臺用于安裝觸控模組，觸控模組包括觸控層和與觸控層層疊設置的多個壓電馬達。活動平臺間隔設置安裝平臺的正上方，活動平臺與安裝平臺能夠相對平行移動。激光測振傳感器和阻抗分析探頭設置在活動平臺朝向安裝平臺一側上，阻抗分析探頭與激光測振傳感器間隔設置。如此，激光測振傳感器和阻抗分析探頭兩者聯用，只需要通過改變活動平臺和安裝平臺的相對位置即可對觸控模組的不同區域進行振幅測試，在進行振幅測試的同時也可對不同的壓電馬達進行阻抗分析，大幅減少了測試時間，提高了測試效率，從而提高了產能，降低測試成本。

技術領域

本申請涉及測試技術領域，更具體而言，涉及一種測試觸控模組的測試系統。

背景技術

觸控板等觸控模組的觸控反饋模組通常利用壓電材料的逆壓電效應做觸控反饋。在完成組裝后，需要進行不同區域上振幅均勻性和阻抗性能測試。在觸控板的面積較大時，常常將觸控板的表面分成不同的區域，通過激光測振儀測試不同區域的振幅大小，同時，由于單個的壓電馬達難以實現整個觸控板區域的均勻振動，需要多個馬達分別貼合至不同的區域進行分區或是協同的振動，實現均勻的振動效果。

在相關技術中，在測試過程中，通常采用不同的機臺來分別對觸控板進行振幅均勻性測試以及對多個壓電馬達分別進行阻抗性能測試，使得測試時間延長，產能降低，分開測試極大的提高了測試成本。

發明內容

本申請實施方式提供了一種測試觸控模組的測試系統。

本申請實施方式的測試觸控模組的測試系統包括安裝平臺、活動平臺、激光測振傳感器和阻抗分析探頭。所述安裝平臺用于安裝觸控模組，所述觸控模組包括觸控層和與所述觸控層層疊設置的多個壓電馬達，所述壓電馬達用于在用戶對所述觸控模組進行觸摸操作時工作以形成振動反饋。所述活動平臺間隔設置在所述安裝平臺的正上方，所述活動平臺與所述安裝平臺能夠相對平行移動。所述激光測振傳感器和所述阻抗分析探頭設置在所述活動平臺朝向所述安裝平臺一側上，所述阻抗分析探頭與所述激光測振傳感器間隔設置，所述激光測振傳感器用于測試所述所述觸控模組的振幅大小，所述阻抗分析探頭用于測試多個所述壓電馬達的阻抗性能。

在本申請實施方式的測試觸控模組的測試系統中，安裝平臺用于安裝觸控裝置，活動平臺與安裝平臺能夠相對平行移動，在活動平臺上間隔設置有激光測振傳感器和阻抗分析探頭。激光測振傳感器用于測試觸控模組的振幅大小，阻抗分析探頭用于測試多個壓電馬達的阻抗性能。如此，通過在活動平臺上同時設置激光測振傳感器和阻抗分析探頭，兩者聯用，只需要通過改變活動平臺和安裝平臺的相對位置即可對觸控模組的不同區域進行振幅測試，在進行振幅測試的同時也可對不同的壓電馬達進行阻抗分析，大幅減少了測試時間，提高了測試效率，從而提高了產能，降低測試成本。

在某些實施方式中，所述活動平臺包括第一移動裝置，所述激光測振傳感器和所述阻抗分析探頭連接在所述第一移動裝置朝向所述安裝平臺的一側，所述第一移動裝置能夠帶動所述激光測振傳感器和所述阻抗分析探頭相對所述安裝平臺平行移動。如此，第一移動裝置可以帶動激光測振傳感器和阻抗分析探頭相對安裝平臺平行移動，以使得激光測振傳感器和阻抗分析探頭能夠運動至觸控模組的不同區域以對觸控模組的不同區域進行測試。

在某些實施方式中，所述活動平臺還包括懸掛梁，所述懸掛梁與所述安裝平臺平行設置且與所述第一移動裝置固定連接，所述激光測振傳感器和所述阻抗分析探頭間隔設置在所述懸掛梁上，所述第一移動裝置能夠帶動所述懸掛梁相對所述安裝平臺平行移動。如此，懸掛梁的設置可以便于激光測振傳感器和阻抗分析探頭的安裝和拆卸，在安裝時，只需要帶動懸掛梁移動即可實現激光測振傳感器和阻抗分析探頭的移動，以實現對觸控模組各個區域的測試，從而提高了產能。