[發明專利]測試觸控模組的測試系統

在審

• 申請號: 202110070847.7
• 申請日: 2021-01-19
• 公開（公告）號: CN112763836A
• 公開（公告）日: 2021-05-07
• 發明（設計）人: 王松
• 申請（專利權）人: 江西歐邁斯微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01;G01R27/02;G01H9/00
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 邵泳城

1.一種測試觸控模組的測試系統，其特征在于，所述測試系統包括：

安裝平臺，用于安裝觸控模組，所述觸控模組包括觸控層和與所述觸控層層疊設置的多個壓電馬達，所述壓電馬達用于在用戶對所述觸控模組進行觸摸操作時工作以形成振動反饋；

活動平臺，所述活動平臺間隔設置在所述安裝平臺的正上方，所述活動平臺與所述安裝平臺能夠相對平行移動；

設置在所述活動平臺朝向所述安裝平臺一側上的激光測振傳感器和阻抗分析探頭，所述阻抗分析探頭與所述激光測振傳感器間隔設置，所述激光測振傳感器用于測試所述觸控模組的振幅大小，所述阻抗分析探頭用于測試多個所述壓電馬達的阻抗性能。

2.根據權利要求1所述的測試觸控模組的測試系統，其特征在于，所述活動平臺包括第一移動裝置，所述激光測振傳感器和所述阻抗分析探頭連接在所述第一移動裝置朝向所述安裝平臺的一側，所述第一移動裝置能夠帶動所述激光測振傳感器和所述阻抗分析探頭相對所述安裝平臺平行移動。

3.根據權利要求2所述的測試觸控模組的測試系統，其特征在于，所述活動平臺還包括懸掛梁，所述懸掛梁與所述安裝平臺平行設置且與所述第一移動裝置固定連接，所述激光測振傳感器和所述阻抗分析探頭間隔設置在所述懸掛梁上，所述第一移動裝置能夠帶動所述懸掛梁相對所述安裝平臺平行移動。

4.根據權利要求2所述的測試觸控模組的測試系統，其特征在于，所述活動平臺還包括懸掛梁，所述懸掛梁與所述安裝平臺平行設置，所述第一移動裝置可移動地安裝在所述懸掛梁上，所述激光測振傳感器和所述阻抗分析探頭均安裝在第一移動裝置上，所述第一移動裝置能夠帶動所述激光測振傳感器和所述阻抗分析探頭相對所述安裝平臺和所述懸掛梁平行移動。

5.根據權利要求4所述的測試觸控模組的測試系統，其特征在于，所述第一移動裝置包括移動部和旋轉軸，所述移動部可移動地安裝在所述懸掛梁上，所述旋轉軸可轉動地安裝在所述移動部上，所述激光測振傳感器和所述阻抗分析探頭均連接所述旋轉軸上，所述旋轉軸能夠帶動所述激光測振傳感器和所述阻抗分析探頭相對所述移動部轉動。

6.根據權利要求4所述的測試觸控模組的測試系統，其特征在于，所述懸掛梁可轉動地連接所述安裝平臺，所述懸掛梁能夠帶動所述第一移動裝置相對所述安裝平臺轉動。

7.根據權利要求1-6任一項所述的測試觸控模組的測試系統，其特征在于，所述激光測振傳感器與所述阻抗分析探頭之間的間隔距離可調。

8.根據權利要求1-6任一項所述的測試觸控模組的測試系統，其特征在于，所述阻抗分析探頭的數量為多個，多個所述阻抗分析探頭間隔設置，多個所述阻抗分析探頭之間的間隔距離可調。

9.根據權利要求1-6任一項所述的測試觸控模組的測試系統，其特征在于，所述安裝平臺包括底座和連接所述底座的第二移動裝置，所述第二移動裝置用于安裝所述觸控模組且能夠帶動所述觸控模組平移。

10.根據權利要求1-6任一項所述的測試觸控模組的測試系統，其特征在于，所述測試系統還包括測試主機和控制器，所述控制器與所述測試主機通信連接，所述激光測振傳感器和所述阻抗分析探頭與所述測試主機通信連接，所述控制器與所述活動平臺電連接且用于控制所述活動平臺相對所述安裝平臺平行移動，所述測試主機還與所述壓電馬達電連接。