[發(fā)明專利]題目識(shí)別方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110069502.X
• 申請日: 2021-01-19
• 公開（公告）號(hào): CN114863456A
• 公開（公告）日: 2022-08-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李德健
• 申請（專利權(quán)）人: 廣州視源電子科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G06V30/414
• 分類號(hào): G06V30/414;G06V10/24;G06V10/82;G06N3/04;G06N3/08
• 代理公司: 北京博思佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11415
• 代理人: 王茹

本申請實(shí)施例提供一種題目識(shí)別方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，所述方法包括：獲取包括有題目的目標(biāo)圖像；檢測所述目標(biāo)圖像中的題目所在位置，獲取有關(guān)于所述題目的第一檢測框；所述第一檢測框?qū)?yīng)有所述題目的傾斜角度；根據(jù)所述傾斜角度對所述第一檢測框進(jìn)行裁剪和旋轉(zhuǎn)，獲取有關(guān)于所述題目的第二檢測框；所述第二檢測框小于所述第一檢測框；從所述目標(biāo)圖像中提取所述第二檢測框處的題目內(nèi)容進(jìn)行識(shí)別。本實(shí)施例有利于提高題目識(shí)別的準(zhǔn)確率。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種題目識(shí)別方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

隨著技術(shù)的發(fā)展，在教育市場中各種教育產(chǎn)品也逐漸增多，比如有拍攝解題產(chǎn)品等。其中，拍照解題產(chǎn)品的重要一步是能夠?qū)D像中的題目所在位置進(jìn)行準(zhǔn)確地檢測，以便后續(xù)對該位置處的內(nèi)容進(jìn)行有效識(shí)別。

相關(guān)技術(shù)中的一種實(shí)現(xiàn)方式中，在進(jìn)行位置檢測時(shí)，通常會(huì)檢測出有關(guān)于題目的坐標(biāo)信息和尺寸信息，并基于坐標(biāo)信息和尺寸信息定位題目所在位置。但由于在拍攝時(shí)書本或者紙張可能會(huì)被卷折，或者用戶在書寫題目時(shí)筆跡傾斜等因素，使得照片中的題目內(nèi)容可能呈現(xiàn)一定的傾斜角度，上述實(shí)現(xiàn)方式并不能準(zhǔn)確定位題目所在位置，導(dǎo)致后續(xù)題目識(shí)別錯(cuò)誤。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本申請?zhí)峁┮环N題目識(shí)別方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

根據(jù)本申請實(shí)施例的第一方面，提供一種題目識(shí)別方法，包括：

獲取包括有題目的目標(biāo)圖像；

檢測所述目標(biāo)圖像中的題目所在位置，獲取有關(guān)于所述題目的第一檢測框；所述第一檢測框?qū)?yīng)有所述題目的傾斜角度；

根據(jù)所述傾斜角度對所述第一檢測框進(jìn)行裁剪和旋轉(zhuǎn)，獲取有關(guān)于所述題目的第二檢測框；所述第二檢測框小于所述第一檢測框；

從所述目標(biāo)圖像中提取所述第二檢測框處的題目內(nèi)容進(jìn)行識(shí)別。

可選地，通過預(yù)先訓(xùn)練好的題目檢測模型檢測所述目標(biāo)圖像中的題目所在位置。

可選地，所述第一檢測框還對應(yīng)有尺寸信息和坐標(biāo)信息；

所述根據(jù)所述傾斜角度對所述第一檢測框進(jìn)行裁剪和旋轉(zhuǎn)，包括：

根據(jù)所述傾斜角度對所述第一檢測框的尺寸信息進(jìn)行調(diào)整，獲得所述第二檢測框的尺寸信息；所述第二檢測框的尺寸小于所述第一檢測框的尺寸；

根據(jù)所述傾斜角度和所述第二檢測框的尺寸信息，對所述第一檢測框的坐標(biāo)信息進(jìn)行調(diào)整，獲取所述第二檢測框的坐標(biāo)信息。

可選地，所述根據(jù)所述傾斜角度對所述第一檢測框進(jìn)行裁剪和旋轉(zhuǎn)，包括：如果所述傾斜角度在預(yù)設(shè)角度范圍內(nèi)，根據(jù)所述傾斜角度對所述第一檢測框進(jìn)行裁剪和旋轉(zhuǎn)；

所述方法還包括：如果所述傾斜角度不在所述預(yù)設(shè)角度范圍內(nèi)，將所述傾斜角度置為0，并從所述目標(biāo)圖像中提取所述第一檢測框處的題目內(nèi)容進(jìn)行識(shí)別。

可選地，所述獲取有關(guān)于所述題目的第一檢測框，包括：

獲取所述題目檢測模型輸出的多個(gè)候選檢測框，并確定每個(gè)所述候選檢測框的DIoU值；其中，每個(gè)所述候選檢測框的DIoU值為基準(zhǔn)框的中心點(diǎn)與該候選檢測框的中心點(diǎn)之間的歐式距離與包含所述基準(zhǔn)框和該候選檢測框的最小矩形的對角線長度之間的比值；每個(gè)所述候選檢測框均對應(yīng)有置信度，所述基準(zhǔn)框基于所述置信度所確定；

根據(jù)所述DIoU值低于預(yù)設(shè)閾值的所述候選檢測框，確定有關(guān)于所述題目的第一檢測框。

可選地，所述從所述目標(biāo)圖像中提取所述第二檢測框處的題目內(nèi)容進(jìn)行識(shí)別，包括：

對所述第二檢測框進(jìn)行仿射變換，獲得變換后的第二檢測框；其中，所述變換后的第二檢測框?yàn)榫匦慰颍?/p>