[發明專利]一種批量測試USB電子盤的方法及系統

有效

• 申請號: 202110059331.2
• 申請日: 2021-01-18
• 公開（公告）號: CN112634979B
• 公開（公告）日: 2021-07-23
• 發明（設計）人: 李修錄;尹善騰;朱小聰;吳健全
• 申請（專利權）人: 深圳市安信達存儲技術有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 廣州博士科創知識產權代理有限公司 44663
• 代理人: 宋佳

本公開能夠實現對多個待測USB電子盤的批量測試，能夠通過目標測試程序對多個待測USB電子盤進行讀寫測試，得到每個待測USB電子盤對應的讀寫測試結果，然后對每個讀寫測試結果進行識別，在該所述讀寫測試結果表征其對應的第一USB電子盤通過測試時，輸出所述第一USB電子盤對應的第一可視化結果，在該所述讀寫測試結果表征其對應的第二USB電子盤未通過測試時，輸出所述第二USB電子盤對應的第二可視化結果。如此設計，能夠實現對待測USB電子盤的批量自動化測試，進而提高針對USB電子盤的批量測試效率，減少測試耗時，進而減少測試所耗費的人力成本和時間成本。

技術領域

本公開涉及USB DOM電子盤測試技術領域，特別涉及一種批量測試USB電子盤的方法及系統。

背景技術

在存儲行業中，存儲設備的質量備受客戶的關注。現有技術中，用H2test軟件測試硬盤一臺機只能測試一個USB DOM電子盤，無法滿足大批量生產需求。現有技術中，H2test軟件無法實現統一多個USB DOM電子盤同時測試；用H2test軟件去測試硬盤的時候，需要自己手動去選擇測試目標，然后點擊運行開始，無法實現自動化和無法一鍵操作提高生產效率，一臺電腦測試一個盤而且桌面顯示一個窗口，在大批量生產過程中顯得效率很低，提高了人工成本和時間成本。因此，對USB DOM電子盤進行批量快速測試重中之重的問題是如何提高USB DOM電子盤批量快速測試的效率。然而現有的針對USB DOM電子盤的測試方法效率低，耗時長。

發明內容

為改善相關技術中存在的上述問題，本公開提供了批量測試USB電子盤的方法及系統。

第一方面提供一種批量測試USB電子盤的方法，應用于計算機設備，包括：

在檢測到多個待測USB電子盤的插入信號時，對所述多個待測USB電子盤進行模式識別，并在識別出所述多個待測USB電子盤的當前模式為移動硬盤模式時，運行目標測試程序；

通過所述目標測試程序對所述多個待測USB電子盤進行讀寫測試，得到每個所述待測USB電子盤對應的讀寫測試結果；

對每個讀寫測試結果進行識別，在該所述讀寫測試結果表征其對應的第一USB電子盤通過測試時，輸出所述第一USB電子盤對應的第一可視化結果，在該所述讀寫測試結果表征其對應的第二USB電子盤未通過測試時，輸出所述第二USB電子盤對應的第二可視化結果。

可選的，通過所述目標測試程序對所述多個待測USB電子盤進行讀寫測試，得到每個所述待測USB電子盤對應的讀寫測試結果，包括：

通過所述目標測試程序向每個所述待測USB電子盤寫入第一測試數據；

通過所述目標測試程序對每個所述待測USB電子盤進行數據讀取，得到第二測試數據；其中，每個所述待測USB電子盤的第一測試數據和所述第二測試數據一一對應；

根據所述第一測試數據和所述第二測試數據，得到每個所述待測USB電子盤對應的讀寫測試結果。

可選的，根據所述第一測試數據和所述第二測試數據，得到每個所述待測USB電子盤對應的讀寫測試結果，包括：

獲取所述第一測試數據對應的第一數據輸出信息，以及所述第二測試數據對應的第二數據輸出信息；其中，所述第一數據輸出信息和所述第二數據輸出信息分別包括多個具有不同比對測試指標的輸出信息片段內容，所述輸出信息片段內容包括圖像內容、語音內容和/或文字內容；

提取所述第一測試數據在所述第一數據輸出信息的其中一個輸出信息片段內容的原始內容描述信息，將所述第二數據輸出信息中具有最多的比對測試指標的輸出信息片段內容確定為目標輸出信息片段內容；根據電子盤故障檢測模型和預設的輸出信息分類結果將所述原始內容描述信息映射到所述目標輸出信息片段內容，在所述目標輸出信息片段內容中得到原始內容映射信息，并根據所述原始內容描述信息、所述原始內容映射信息，生成所述第一測試數據和所述第二測試數據之間的讀寫測試比對指標；