[發明專利]一種批量測試USB電子盤的方法及系統

有效

• 申請號: 202110059331.2
• 申請日: 2021-01-18
• 公開（公告）號: CN112634979B
• 公開（公告）日: 2021-07-23
• 發明（設計）人: 李修錄;尹善騰;朱小聰;吳健全
• 申請（專利權）人: 深圳市安信達存儲技術有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 廣州博士科創知識產權代理有限公司 44663
• 代理人: 宋佳

1.一種批量測試USB電子盤的方法，其特征在于，應用于計算機設備，包括：

在檢測到多個待測USB電子盤的插入信號時，對所述多個待測USB電子盤進行模式識別，并在識別出所述多個待測USB電子盤的當前模式為移動硬盤模式時，運行目標測試程序；

通過所述目標測試程序對所述多個待測USB電子盤進行讀寫測試，得到每個所述待測USB電子盤對應的讀寫測試結果；

對每個讀寫測試結果進行識別，在所述讀寫測試結果表征其對應的第一USB電子盤通過測試時，輸出所述第一USB電子盤對應的第一可視化結果，在該所述讀寫測試結果表征其對應的第二USB電子盤未通過測試時，輸出所述第二USB電子盤對應的第二可視化結果；

其中，通過所述目標測試程序對所述多個待測USB電子盤進行讀寫測試，得到每個所述待測USB電子盤對應的讀寫測試結果，包括：通過所述目標測試程序向每個所述待測USB電子盤寫入第一測試數據；通過所述目標測試程序對每個所述待測USB電子盤進行數據讀取，得到第二測試數據；其中，每個所述待測USB電子盤的第一測試數據和所述第二測試數據一一對應；根據所述第一測試數據和所述第二測試數據，得到每個所述待測USB電子盤對應的讀寫測試結果；

其中，根據所述第一測試數據和所述第二測試數據，得到每個所述待測USB電子盤對應的讀寫測試結果，包括：

獲取所述第一測試數據對應的第一數據輸出信息，以及所述第二測試數據對應的第二數據輸出信息；其中，所述第一數據輸出信息和所述第二數據輸出信息分別包括多個具有不同比對測試指標的輸出信息片段內容，所述輸出信息片段內容包括圖像內容、語音內容和/或文字內容；

提取所述第一測試數據在所述第一數據輸出信息的其中一個輸出信息片段內容的原始內容描述信息，將所述第二數據輸出信息中具有最多的比對測試指標的輸出信息片段內容確定為目標輸出信息片段內容；根據電子盤故障檢測模型和預設的輸出信息分類結果將所述原始內容描述信息映射到所述目標輸出信息片段內容，在所述目標輸出信息片段內容中得到原始內容映射信息，并根據所述原始內容描述信息、所述原始內容映射信息，生成所述第一測試數據和所述第二測試數據之間的讀寫測試比對指標；

以所述原始內容映射信息為參考信息在所述目標輸出信息片段內容中獲取關聯內容描述信息，根據所述讀寫測試比對指標對應的指標傳遞信息，將所述關聯內容描述信息映射到所述原始內容描述信息所在輸出信息片段內容，在所述原始內容描述信息所在輸出信息片段內容中得到所述關聯內容描述信息對應的關聯內容映射信息，并確定所述關聯內容映射信息的目標內容描述信息；

獲取所述原始內容描述信息映射到所述目標輸出信息片段內容中的目標映射內容整合結果；根據所述關聯內容映射信息與所述目標映射內容整合結果中的多個內容映射項目對應的項目測試類別之間的相似性分析結果，在所述第二數據輸出信息中逐段依次獲取所述目標內容描述信息對應的目標比對信息，直至獲取到的所述目標比對信息所在輸出信息片段內容的片段內容測試權重與所述目標內容描述信息在所述第一數據輸出信息中的片段內容測試權重一致時，停止獲取下一輸出信息片段內容中的目標比對信息，并確定所述目標內容描述信息與最后一次獲取到的目標比對信息之間的讀寫測試比對順序；通過所述讀寫測試比對順序將所述第一數據輸出信息和所述第二數據輸出信息中相互對應的輸出信息片段內容進行逐一比對，得到片段內容比對結果；根據所述片段內容比對結果確定每個所述待測USB電子盤對應的讀寫測試結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取所述第一測試數據對應的第一數據輸出信息，以及所述第二測試數據對應的第二數據輸出信息，包括：

根據比對測試指標對應的測試結果評價信息獲取所述第一測試數據對應的所述第一數據輸出信息，所述第一數據輸出信息中任意相鄰兩個輸出信息片段內容之間的比對測試指標對應的使用反饋信息為所述比對測試指標對應的測試結果評價信息；

根據比對測試指標對應的測試結果評價信息獲取所述第二測試數據對應的所述第二數據輸出信息，所述第二數據輸出信息中任意相鄰兩個輸出信息片段內容之間的比對測試指標對應的使用反饋信息為所述比對測試指標對應的測試結果評價信息。