[發(fā)明專(zhuān)利]PCB板表面缺陷檢測(cè)裝置及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110055145.1 | 申請(qǐng)日: | 2021-01-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112819756B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-07-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 范洪輝;吳濤;周紅燕;陳林凱 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 江蘇理工學(xué)院 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06T7/00 | 分類(lèi)號(hào): | G06T7/00;G06V10/762;G06V10/82;G06N3/0464;G06N3/08 |
| 代理公司: | 常州佰業(yè)騰飛專(zhuān)利代理事務(wù)所(普通合伙) 32231 | 代理人: | 顧翰林 |
| 地址: | 213001 江*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | pcb 表面 缺陷 檢測(cè) 裝置 方法 | ||
本發(fā)明提供了一種PCB板表面缺陷檢測(cè)裝置及方法,其中,方法中包括:將采集到PCB板圖片之后對(duì)其進(jìn)行擴(kuò)充及標(biāo)注,并使用k?means++選取初始聚類(lèi)中心之后,使用k?means聚類(lèi)出先驗(yàn)框;同時(shí),將YOLOv3原網(wǎng)絡(luò)中的Darknet?53特征提取層換成EfficientNet網(wǎng)絡(luò),將特征融合層擴(kuò)充為4層,并可加入Inception結(jié)構(gòu)和SPP結(jié)構(gòu),根據(jù)先驗(yàn)框訓(xùn)練完成之后,對(duì)可能存在缺陷的PCB板圖片進(jìn)行檢測(cè)。相較于原YOLOv3網(wǎng)絡(luò)來(lái)說(shuō),改進(jìn)后的表面缺陷檢測(cè)模型在對(duì)小目標(biāo)檢查的速度與準(zhǔn)確度都有大幅度的提升,還可以實(shí)現(xiàn)批量化生產(chǎn)和減少成本,避免人檢所帶來(lái)的一系列問(wèn)題,快速提升PCB的質(zhì)量,提升企業(yè)的綜合競(jìng)爭(zhēng)力。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種PCB板表面缺陷檢測(cè)方法。
背景技術(shù)
隨著大數(shù)據(jù)、人工智能、5G通信、物聯(lián)網(wǎng)等高新技術(shù)的迅速發(fā)展,極大的推動(dòng)了印刷電路板(以下簡(jiǎn)稱(chēng)PCB板)的發(fā)展。PCB板作為電子產(chǎn)品之母,對(duì)電子產(chǎn)品的重要性如同人類(lèi)的心臟。各類(lèi)電子產(chǎn)品的組成部件中PCB板必不可少,且電子產(chǎn)品的質(zhì)量很大程度上也取決于PCB板的質(zhì)量,以此PCB板對(duì)于各個(gè)品牌和商家的競(jìng)爭(zhēng)力也有很大影響,在出廠時(shí)對(duì)于PCB裸板的質(zhì)量要求和檢測(cè)效率要求也越來(lái)越高。
目前,對(duì)于PCB裸板的檢測(cè)主要還是依靠傳統(tǒng)的人工目檢,但是隨著線路密度的不斷增高,人工進(jìn)行檢測(cè)的難度隨之加大。為了解決這一問(wèn)題,有部分企業(yè)使用了針床檢測(cè)在線測(cè)試的方法對(duì)其進(jìn)行檢測(cè),雖然這種方法相較于傳統(tǒng)人工方法有了明顯的進(jìn)步,但同時(shí)帶來(lái)了模板成本高、檢測(cè)尺寸受到限制、接觸式檢測(cè)方式易對(duì)PCB裸板造成損壞等局限性,依然無(wú)法達(dá)到產(chǎn)品批量化、高精度、高效率檢測(cè)的要求。利用較為先進(jìn)的以機(jī)器視覺(jué)為核心的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)(Automatic?Optical?Inspection,AOI)雖然能夠解決上述問(wèn)題,但是由于功能齊全產(chǎn)業(yè)完善的企業(yè)大多是國(guó)外企業(yè),不斷引進(jìn)國(guó)外的AOI設(shè)備無(wú)疑會(huì)增加國(guó)內(nèi)企業(yè)的成本,對(duì)于國(guó)內(nèi)行業(yè)的發(fā)展不利,因此解決這一問(wèn)題是PCB行業(yè)的巨大挑戰(zhàn)。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)上述問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種PCB板表面缺陷檢測(cè)裝置及方法,有效解決現(xiàn)有PCB板表面缺陷檢測(cè)成本高、效率低等技術(shù)問(wèn)題。
本發(fā)明提供的技術(shù)方案如下:
一方面,本發(fā)明提供了一種PCB板表面缺陷檢測(cè)裝置,包括:
圖片采集模塊,用于采集待檢測(cè)PCB板圖片;
表面缺陷檢測(cè)模塊,用于將所述圖片采集模塊獲取的PCB板圖片送入預(yù)訓(xùn)練的表面缺陷檢測(cè)模型,對(duì)所述PCB板中可能存在的表面缺陷進(jìn)行檢測(cè);所述表面缺陷檢測(cè)模型為改進(jìn)的YOLOv3網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu),所述YOLOv3網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)中主干網(wǎng)絡(luò)為改進(jìn)后的EfficientNet網(wǎng)絡(luò),所述EfficientNet網(wǎng)絡(luò)中包括多個(gè)用于提取特征的MBConvBlock結(jié)構(gòu),在每個(gè)所述MBConvBlock結(jié)構(gòu)中:采用1×1的卷積對(duì)輸入的數(shù)據(jù)增加維度之后,進(jìn)一步對(duì)其進(jìn)行N×N的卷積操作,并利用注意力機(jī)制為每個(gè)通道添加相應(yīng)的權(quán)值實(shí)現(xiàn)特征提取,最后利用1×1的卷積進(jìn)行維度降低操作并添加相應(yīng)的殘差邊。
在本技術(shù)方案中,基于改進(jìn)后YOLOv3網(wǎng)絡(luò)的深度學(xué)習(xí)檢測(cè)方法作為一種非接觸智能檢測(cè)技術(shù),融合了圖片處理、模式識(shí)別、人工智能、計(jì)算機(jī)視覺(jué)、光學(xué)等技術(shù),具有高效率、高精度、高智能、可編程等優(yōu)點(diǎn)。
另一方面,本發(fā)明提供了一種PCB板表面缺陷檢測(cè)方法,應(yīng)用于上述PCB板表面缺陷檢測(cè)裝置,所述PCB板表面缺陷檢測(cè)方法包括:
采集待檢測(cè)PCB板圖片;
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