[發明專利]一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀

有效

• 申請號: 202110054099.3
• 申請日: 2021-01-15
• 公開（公告）號: CN112880575B
• 公開（公告）日: 2022-12-27
• 發明（設計）人: 董新平;晉景濤;葛新鋒
• 申請（專利權）人: 許昌學院
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06;G01B5/00
• 代理公司: 蘇州拓云知識產權代理事務所(普通合伙) 32344
• 代理人: 王超

本發明公開一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀，其包括機臺、居中固定組件以及位移測定組件，其中，所述居中固定組件固定安裝在機臺上端面的右側，用于對待檢測光學元器件進行居中夾持固定，所述位移測定組件設置在居中固定組件的正上方，以便對待測量光學元器件進行厚度檢測，所述機臺上還設置有輔助照明燈，所述位移測定組件滑動設置在氣動滑軌上，以實現位移測定組件的上下精確位移；所述位移測定組件與居中固定組件的豎直方向上的中心軸線相互共線，以便實現對待檢測光學元器件的中心厚度進行精確的測量。

技術領域

本發明屬于測厚裝置技術領域，具體是一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀。

背景技術

光學元器件又稱光學元件，是光學系統的基本組成單位，其包括透鏡、棱鏡、反射鏡等，其中，最常用的即為透鏡；透鏡中心厚度作為決定透鏡光學性能的重要參數，對其進行檢測應保證達到足夠的精度；然而據調查發現，目前現有的光學透鏡測厚儀往往存在以下問題：

1.夾持組件的結構和方式單一，僅能對凹透鏡或凸透鏡中的一種進行夾持固定，局限性較大，無法滿足對多種透鏡厚度進行檢測的需求；

2.采用千分尺或千分表的測量方式對透鏡的中心厚度進行人工讀數測量，無法保證測量精度；

3.接觸式測量裝置中通過移動觸點確定透鏡的中心點，使得測量觸頭與透鏡之間反復摩擦，可能會導致透鏡表面被刮花，甚至無法使用。

因此，本領域技術人員提供了一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀，以解決上述背景技術中提出的問題。

發明內容

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀，其包括機臺、居中固定組件以及位移測定組件，其中，所述居中固定組件固定安裝在機臺上端面的右側，用于對待檢測光學元器件進行居中夾持固定，所述位移測定組件設置在居中固定組件的正上方，以便對待測量光學元器件進行厚度檢測，所述機臺上還設置有輔助照明燈，所述位移測定組件滑動設置在氣動滑軌上，以實現位移測定組件的上下精確位移；

所述位移測定組件與居中固定組件的豎直方向上的中心軸線相互共線，以便實現對待檢測光學元器件的中心厚度進行精確的測量。

進一步，作為優選，所述位移測定組件包括頂板、調節桿、限位板以及承接座，所述頂板的下端面上對稱安裝有兩個調節桿，兩個所述調節桿的伸縮端固定在承接座的上端面；

所述承接座的橫截面為T形結構，且，所述承接座豎直部分外部滑動套設有限位板，所述限位板的最大直徑大于支撐殼體頂端開口的直徑；

所述調節桿的伸縮軸外部套設有彈簧一；

所述承接座的下端設置有頂部壓感觸頭，且，所述頂部壓感觸頭為弧面錐形結構。

進一步，作為優選，所述頂板的下端面內圓周上均勻嵌入有多個激光接收器。

進一步，作為優選，所述承接座的上端面內圓周上均勻嵌入有若干激光發射器，且，若干所述激光發射器的位置與數量均與頂板內的多個激光接收器相匹配，以便測得承接座各方位的位移變化量。

進一步，作為優選，所述居中固定組件包括支撐殼體、夾緊組件以及調節裝置，所支撐殼體的內壁上圓周滑動設置有多個調節裝置，且，每個所述調節裝置遠離支撐殼體內壁的一端固定安裝有夾緊組件；

每個所述調節裝置的下端均通過電動伸縮桿一與支撐殼體的底壁固定連接。

進一步，作為優選，所述支撐殼體的底壁中部固定安裝有底部壓感觸頭，且，所述底部壓感觸頭與頂部壓感觸頭在豎直方向上的中心軸線相共線；

在未放入待測量透鏡的情況下，所述位移測定組件下移至最大位移處時，頂部壓感觸頭的底端恰好與底部壓感觸頭的頂端相接觸。