[發(fā)明專利]影像感測器結(jié)構(gòu)及其制造方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110052276.4 | 申請日: | 2021-01-15 |
| 公開(公告)號: | CN113140582A | 公開(公告)日: | 2021-07-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 林津裕;廖耕潁;葉書佑;陳柏仁;董懷仁;陳咸利 | 申請(專利權(quán))人: | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/146 | 分類號: | H01L27/146 |
| 代理公司: | 北京律誠同業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金國 |
| 地址: | 中國臺灣新竹市*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 影像 感測器 結(jié)構(gòu) 及其 制造 方法 | ||
一種影像感測器結(jié)構(gòu)及其制造方法,該影像感測器結(jié)構(gòu)包括半導體元件、形成于半導體基板中的多個影像感測元件、形成于半導體基板上的內(nèi)連接結(jié)構(gòu),及半導體基板上的復合網(wǎng)格結(jié)構(gòu)。復合網(wǎng)格結(jié)構(gòu)包括鎢網(wǎng)格、鎢網(wǎng)格上方的氧化物網(wǎng)格,及將鎢網(wǎng)格與氧化物網(wǎng)格間隔開的粘附增強網(wǎng)格。
技術(shù)領(lǐng)域
本揭露是關(guān)于一種影像感測器,特別是關(guān)于影像感測器網(wǎng)格及其制造方法。
背景技術(shù)
具有影像感測器的集成電路(Integrated circuit;IC)使用在范圍廣泛的現(xiàn)代電子裝置中。近年來,互補金氧半導體(complementary metal-oxide semiconductor;CMOS)影像感測器已開始看到廣泛使用,主要替換電荷耦合裝置(charge-coupled device;CCD)影像感測器。與CCD影像感測器相比,CMOS影像感測器由于低功率消耗、小尺寸、快速數(shù)據(jù)處理、直接數(shù)據(jù)輸出及低制造成本而日益受歡迎。CMOS影像感測器的類型包括前照式(front-side illuminated;FSI)影像感測器及背照式(back-side illuminated;BSI)影像感測器。
發(fā)明內(nèi)容
在一些實施例中,影像感測器結(jié)構(gòu)包括半導體基板、形成于半導體基板中的多個影像感測元件、形成于半導體基板上的內(nèi)連接結(jié)構(gòu)、及半導體基板上的復合網(wǎng)格結(jié)構(gòu)。復合網(wǎng)格結(jié)構(gòu)包括鎢網(wǎng)格、鎢網(wǎng)格上方的氧化物網(wǎng)格、及將鎢網(wǎng)格與氧化物網(wǎng)格間隔開的粘附增強網(wǎng)格。
在一些實施例中,影像感測器結(jié)構(gòu)包括半導體基板、半導體基板中的多個光電二極管、半導體基板上的內(nèi)連接結(jié)構(gòu)、及半導體基板上的復合網(wǎng)格結(jié)構(gòu)。復合網(wǎng)格結(jié)構(gòu)包括氧化物網(wǎng)格及氧化物網(wǎng)格與半導體基板之間的金屬網(wǎng)格,且復合網(wǎng)格結(jié)構(gòu)缺乏氧化物/金屬界面。
在一些實施例中,影像感測器結(jié)構(gòu)的制造方法包括將光電二極管形成于基板中;將內(nèi)連接結(jié)構(gòu)形成于基板上;將金屬網(wǎng)格層沉積在基板上,將粘附增強層沉積在金屬網(wǎng)格層上,且將氧化物網(wǎng)格層沉積在粘附增強層上;以及蝕刻金屬網(wǎng)格層、粘附增強層及氧化物網(wǎng)格層以形成金屬網(wǎng)格線、分別在金屬網(wǎng)格線上方延伸的粘附增強網(wǎng)格線、及分別在粘附增強網(wǎng)格線上方延伸的氧化物網(wǎng)格線。
附圖說明
當與附圖一起閱讀時自以下詳細描述更好地理解本揭示案的態(tài)樣。應注意,根據(jù)行業(yè)中的標準實踐,各種特征未按比例繪制。實際上,可出于論述的清晰性而任意地增加或減少各種特征的尺寸。
圖1至圖5為根據(jù)本揭示案的各種實施例的制造背照式(backside illuminated;BSI)CMOS影像感測器(backside illuminated CMOS image sensor;BSI-CIS)結(jié)構(gòu)的各種中間級段的剖面圖;
圖6A為根據(jù)本揭示案的各種實施例的制造BSI-CIS結(jié)構(gòu)的中間級段的剖面圖;
圖6B為如圖6A中所示的制造BSI-CIS結(jié)構(gòu)的中間級段的俯視圖;
圖7A為根據(jù)本揭示案的各種實施例的制造BSI-CIS結(jié)構(gòu)的中間級段的剖面圖;
圖7B為如圖7A中所示的制造BSI-CIS結(jié)構(gòu)的中間級段的俯視圖;
圖8為根據(jù)本揭示案的各種實施例的制造BSI-CIS結(jié)構(gòu)的中間級段的剖面圖;
圖9例示根據(jù)一些實施例的制造BSI-CIS結(jié)構(gòu)的方法;
圖10為根據(jù)本揭示案的一些實施例的BSI-CIS結(jié)構(gòu)的剖面圖。
【符號說明】
AA:像素陣列區(qū)
BA:粘接墊區(qū)
PA:周邊區(qū)
SA:切割線區(qū)
BB:粘接球
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于臺灣積體電路制造股份有限公司,未經(jīng)臺灣積體電路制造股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110052276.4/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的多個半導體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點的熱電元件的;包括有熱磁組件的
- 卡片結(jié)構(gòu)、插座結(jié)構(gòu)及其組合結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)平臺結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 單元結(jié)構(gòu)、結(jié)構(gòu)部件和夾層結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)扶梯結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)隔墻結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)連接結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機械結(jié)構(gòu)和光學結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機械結(jié)構(gòu)和光學結(jié)構(gòu)





