[發(fā)明專(zhuān)利]解決布線(xiàn)通道拐角處布線(xiàn)擁塞問(wèn)題的設(shè)計(jì)優(yōu)化方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110047229.0 | 申請(qǐng)日： | 2021-01-14 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN112699631B | 公開(kāi)（公告）日： | 2022-08-26 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 趙少峰 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人： | 東科半導(dǎo)體（安徽）股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào)： | G06F30/394 | 分類(lèi)號(hào)： | G06F30/394;G06F30/398 |
| 代理公司： | 北京慧誠(chéng)智道知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11539 | 代理人： | 李楠 |
| 地址： | 243100 安徽省馬鞍山市當(dāng)涂*** | 國(guó)省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 解決 布線(xiàn) 通道 拐角 擁塞 問(wèn)題 設(shè)計(jì) 優(yōu)化 方法 | ||
1.一種解決布線(xiàn)通道拐角處布線(xiàn)擁塞問(wèn)題的設(shè)計(jì)優(yōu)化方法，其特征在于，所述設(shè)計(jì)優(yōu)化方法包括：
在芯片中宏單元的外凸角內(nèi)預(yù)置可配置的預(yù)置布線(xiàn)單元；所述預(yù)置布線(xiàn)單元具有多根預(yù)置布線(xiàn)，每根預(yù)置布線(xiàn)的兩端為一對(duì)具有對(duì)應(yīng)關(guān)系的布線(xiàn)接口；所述每對(duì)布線(xiàn)接口中的第一接口設(shè)置在所述宏單元的第一邊上，第二接口設(shè)置在所述第一邊在所述外凸角一側(cè)的相鄰邊上；
建立所述第一接口與所述第二接口的等價(jià)關(guān)系；
根據(jù)設(shè)計(jì)輸入和所述等價(jià)關(guān)系執(zhí)行自動(dòng)布線(xiàn)，使得經(jīng)過(guò)所述宏單元之間的布線(xiàn)通道拐角處的走線(xiàn)優(yōu)先使用所述布線(xiàn)單元提供的預(yù)置布線(xiàn)作為布線(xiàn)資源。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)計(jì)優(yōu)化方法，其特征在于，所述預(yù)置布線(xiàn)單元中，預(yù)置布線(xiàn)構(gòu)建在相同和/或不同的金屬層上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)計(jì)優(yōu)化方法，其特征在于，所述預(yù)置布線(xiàn)單元中，預(yù)置布線(xiàn)的最長(zhǎng)走線(xiàn)距離不超過(guò)芯片中標(biāo)準(zhǔn)單元的平均可驅(qū)動(dòng)線(xiàn)長(zhǎng)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的設(shè)計(jì)優(yōu)化方法，其特征在于，所述方法還包括：確定所述芯片中標(biāo)準(zhǔn)單元的平均可驅(qū)動(dòng)線(xiàn)長(zhǎng)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)計(jì)優(yōu)化方法，其特征在于，在所述在芯片中宏單元的外凸角內(nèi)預(yù)置可配置的預(yù)置布線(xiàn)單元之前，所述方法還包括：
根據(jù)設(shè)計(jì)輸入建立設(shè)計(jì)布局；所述設(shè)計(jì)布局包括宏單元、布線(xiàn)通道和標(biāo)準(zhǔn)單元的布局位置；
根據(jù)設(shè)計(jì)輸入，建立各個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單元之間的邏輯路徑，所述邏輯路徑包括設(shè)置在布線(xiàn)通道內(nèi)的走線(xiàn)和邏輯單元；
預(yù)估所述芯片中各布線(xiàn)通道拐角處的走線(xiàn)的擁塞程度，根據(jù)所述擁塞程度確定是否執(zhí)行所述設(shè)計(jì)優(yōu)化方法。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的設(shè)計(jì)優(yōu)化方法，其特征在于，所述方法還包括：根據(jù)芯片所用設(shè)計(jì)工藝，確定擁塞程度判定閾值。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的設(shè)計(jì)優(yōu)化方法，其特征在于，所述根據(jù)所述擁塞程度確定是否執(zhí)行所述設(shè)計(jì)優(yōu)化 方法具體為：
確定芯片中是否存在超出第一預(yù)設(shè)數(shù)量個(gè)所述預(yù)估的擁塞程度超過(guò)擁塞程度判定閾值的情況，如果存在，則執(zhí)行所述優(yōu)化設(shè)計(jì)方法；或者，
確定芯片中是否存在超出第一預(yù)設(shè)比例的所述預(yù)估的擁塞程度超過(guò)擁塞程度判定閾值的情況，如果存在，則執(zhí)行所述優(yōu)化設(shè)計(jì)方法。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的設(shè)計(jì)優(yōu)化方法，其特征在于，所述宏單元為硬宏。
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