[發明專利]波形圖像的處理方法、裝置、設備及存儲介質在審
| 申請號: | 202110043786.5 | 申請日: | 2021-01-13 |
| 公開(公告)號: | CN113516000A | 公開(公告)日: | 2021-10-19 |
| 發明(設計)人: | 吳建寶 | 申請(專利權)人: | 騰訊科技(深圳)有限公司 |
| 主分類號: | G06K9/00 | 分類號: | G06K9/00;G06K9/40;G06K9/46 |
| 代理公司: | 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138 | 代理人: | 祝亞男 |
| 地址: | 518057 廣東省深圳*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 波形 圖像 處理 方法 裝置 設備 存儲 介質 | ||
1.一種波形圖像的處理方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取原始的帶噪波形圖像,所述帶噪波形圖像中包括目標參數隨時間變化所形成的帶噪波形曲線;
對所述帶噪波形圖像的峰值點噪聲進行去噪處理,得到包含去噪波形曲線的去噪波形圖像;其中,所述峰值點噪聲包括所述帶噪波形曲線中因不規則抖動所產生的對峰值點檢測具有干擾作用的線條部分;
基于所述去噪波形圖像提取波形特征信息,所述波形特征信息用于指示所述去噪波形曲線的特征。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述峰值點噪聲采用波形去噪模型進行去除,所述波形去噪模型包括下采樣部分和上采樣部分;
所述對所述帶噪波形圖像的峰值點噪聲進行去噪處理,得到包含去噪波形曲線的去噪波形圖像,包括:
通過所述波形去噪模型的下采樣部分對所述帶噪波形圖像進行下采樣處理,生成下采樣后圖像;
通過所述波形去噪模型的上采樣部分對所述下采樣后圖像進行上采樣處理,生成所述去噪波形圖像;
其中,在所述上采樣處理的過程中,融合所述下采樣處理的過程中生成的中間圖像和所述上采樣處理的過程中生成的中間圖像作為所述上采樣處理的輸入圖像。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述波形去噪模型包括n個級聯的下采樣模塊和n個級聯的上采樣模塊;其中,每個下采樣模塊包括級聯的第一下采樣單元和第二下采樣單元,每個上采樣模塊包括級聯的第一上采樣單元和第二上采樣單元;且,第n個下采樣模塊的輸出端與第n個上采樣模塊的輸入端相連,所述n為正整數;
所述通過所述波形去噪模型的下采樣部分對所述帶噪波形圖像進行下采樣處理,生成下采樣后圖像;通過所述波形去噪模型的上采樣部分對所述下采樣后圖像進行上采樣處理,生成所述去噪波形圖像,包括:
將所述帶噪波形圖像輸入至所述n個下采樣模塊中的第1個下采樣模塊;
對于所述n個下采樣模塊中的第i個下采樣模塊,通過所述第i個下采樣模塊中的第一下采樣單元對輸入圖像進行下采樣處理,得到所述第i個下采樣模塊的第一下采樣輸出圖像,所述i為小于等于所述n的正整數;
通過所述第i個下采樣模塊中的第二下采樣單元對輸入圖像進行下采樣處理,得到所述第i個下采樣模塊的第二下采樣輸出圖像;其中,所述第i個下采樣模塊中的第二下采樣單元的輸入圖像,是基于所述第i個下采樣模塊的第一下采樣輸出圖像得到的;
對于所述n個上采樣模塊中的第i個上采樣模塊,通過所述第i個上采樣模塊中的第一上采樣單元對輸入圖像進行上采樣處理,得到所述第i個上采樣模塊的第一上采樣輸出圖像;
通過所述第i個上采樣模塊中的第二上采樣單元對輸入圖像進行上采樣處理,得到所述第i個上采樣模塊的第二上采樣輸出圖像;其中,所述第i個上采樣模塊中的第二上采樣單元的輸入圖像,是基于所述第i個上采樣模塊的第一上采樣輸出圖像和所述第i個下采樣模塊的第一下采樣輸出圖像得到的;
基于所述n個上采樣模塊中的第1個上采樣模塊的輸出圖像,生成所述去噪波形圖像。
4.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述波形去噪模型的訓練過程如下:
獲取樣本波形圖像,所述樣本波形圖像是帶噪的波形圖像;
生成所述樣本波形圖像對應的模板波形圖像;
通過所述波形去噪模型對所述樣本波形圖像的峰值點噪聲進行去噪處理,生成預測波形圖像;
基于所述預測波形圖像與所述模板波形圖像之間的差異信息,確定損失函數;
基于所述損失函數對所述波形去噪模型的參數進行調整。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述生成所述樣本波形圖像對應的模板波形圖像,包括:
獲取所述樣本波形圖像中各個峰值點距離的統計值,所述峰值點距離是指兩個相鄰的標注峰值點之間的距離;
基于所述統計值,確定概率密度估計算法的平滑參數;
采用所述概率密度估計算法按照所述平滑參數對所述樣本波形圖像進行處理,生成所述模板波形圖像。
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