[發(fā)明專利]掩膜版及其制備方法、顯示面板在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110035362.4 | 申請(qǐng)日: | 2021-01-12 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112799278A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-05-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 彭釗 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | TCL華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G03F1/32 | 分類號(hào): | G03F1/32;H01L27/32 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570 | 代理人: | 遠(yuǎn)明 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 掩膜版 及其 制備 方法 顯示 面板 | ||
1.一種掩膜版,其特征在于,所述掩膜版包括:
襯底;
遮光區(qū),其形成于所述襯底上以遮蔽預(yù)定波段的輻射光;
完全透射區(qū),其形成于所述襯底上以完全透射所述輻射光;以及
兩個(gè)以上的半透射區(qū),其形成于所述襯底上以透射部分所述輻射光;
其中,所述每個(gè)半透射區(qū)各自由具有不同禁帶寬度的半透射材料構(gòu)成。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的掩膜版,其特征在于,所述半透射材料包括半導(dǎo)體材料。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的掩膜版,其特征在于,所述半透射材料還包括摻雜材料,所述摻雜材料具有對(duì)所述半導(dǎo)體材料的禁帶寬度的可調(diào)節(jié)性。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的掩膜版,其特征在于,所述半導(dǎo)體材料包括ZnO,所述摻雜材料包括(CdS)1-x(ZnS)x,其中,下標(biāo)x是自然數(shù)并且限定每種化學(xué)元素的個(gè)數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的掩膜版,其特征在于,所述半導(dǎo)體材料包括TiO2,所述摻雜材料包括金屬材料。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的掩膜版,其特征在于,所述遮光區(qū)由遮光材料構(gòu)成,所述遮光材料包括Cr。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的掩膜版,其特征在于,所述半透射材料的厚度范圍為0.01mm-0.2mm。
8.一種掩膜版的制備方法,其特征在于,包括:
在襯底上分別形成用于遮蔽預(yù)定波段的輻射光的遮光區(qū)、完全透射所述輻射光的完全透射區(qū)以及兩個(gè)以上的用于透射部分所述輻射光的半透射區(qū),
其中,所述每個(gè)半透射區(qū)各自由具有不同禁帶寬度的半透射材料構(gòu)成。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的掩膜版的制備方法,其特征在于,所述遮光區(qū)以及所述兩個(gè)以上的半透射區(qū)的形成均使用了蒸鍍工藝、涂光刻膠工藝、曝光工藝、顯影工藝、蝕刻工藝以及去除光刻膠工藝。
10.一種顯示面板,其特征在于,所述顯示面板中包括一基板,所述基板包括由下至上依次堆疊的多個(gè)膜層,所述多個(gè)膜層采用如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的掩膜版制備。
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G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導(dǎo)體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設(shè)備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過(guò)帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過(guò)電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過(guò)100nm或更短波長(zhǎng)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜;其制備,例如光學(xué)臨近校正(OPC)設(shè)計(jì)工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準(zhǔn)或測(cè)試的特殊涂層或標(biāo)記;其制備
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