[發(fā)明專利]閃存磨損方法、裝置、可讀存儲介質(zhì)及電子設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110034314.3 | 申請日: | 2021-01-12 |
| 公開(公告)號: | CN112817521B | 公開(公告)日: | 2023-02-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫成思;孫日欣;童海濤 | 申請(專利權(quán))人: | 成都佰維存儲科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/06 | 分類號: | G06F3/06;G06F12/02;G11C16/34 |
| 代理公司: | 深圳市博銳專利事務(wù)所 44275 | 代理人: | 歐陽燕明 |
| 地址: | 610000 四川省成都市高新*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 閃存 磨損 方法 裝置 可讀 存儲 介質(zhì) 電子設(shè)備 | ||
本發(fā)明公開了閃存磨損方法、裝置、可讀存儲介質(zhì)及電子設(shè)備,在每一閃存塊寫入數(shù)據(jù)的時(shí)候,對每一閃存塊中每一頁寫入對應(yīng)的預(yù)設(shè)固定值,在現(xiàn)有技術(shù)中通常往閃存塊的每一頁中寫入隨機(jī)數(shù)據(jù),而本發(fā)明將每一頁寫入對應(yīng)的預(yù)設(shè)固定值,能夠使每一頁處于對應(yīng)的固定電平值,從而將所有的存儲單元寫入至一個(gè)固定的狀態(tài),能夠增加閃存的磨損速率,縮短閃存測試前的磨損時(shí)間;其中閃存磨損時(shí)關(guān)閉LDPC編碼功能和校正功能,保證后續(xù)往閃存寫入預(yù)設(shè)固定數(shù)據(jù)時(shí)不受編碼和校正的干擾,從而保證能夠往每一頁寫入固定數(shù)值,加速磨損閃存。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)存儲技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及閃存磨損方法、裝置、可讀存儲介質(zhì)及電子設(shè)備。
背景技術(shù)
閃存(Nand flash),一種非易失型存儲器,是SSD(solid state drives,固態(tài)硬盤)的重要組成部分,所以對于固態(tài)硬盤開發(fā)公司來說,要想讓自己的產(chǎn)品更有競爭力,就需要對閃存的特性掌握得足夠透徹,這樣才能更好地使用閃存,提高閃存的壽命以及穩(wěn)定性,因此,也就避免不了需要對閃存進(jìn)行一系列研究。如壽命相關(guān)的研究,經(jīng)常需要對閃存做一些磨損相關(guān)的實(shí)驗(yàn)。另外,某些閃存在使用前幾個(gè)或前十幾個(gè)pec(program erasecount,擦寫次數(shù))時(shí)存在不穩(wěn)定的情況,所以需要在正常使用前讓閃存度過這個(gè)階段,保證SSD固件(SSD firmware)運(yùn)行的穩(wěn)定性。
3D TLC(triple level cell,三層存儲單元,3D是指以堆疊的方式制程,目的是單位面積可以存儲更多的數(shù)據(jù)量,TLC是存儲數(shù)據(jù)的最小單元,TLC類型中一個(gè)存儲單元可以存儲3個(gè)比特位)的壽命大概是2500次pec。如果想要研究閃存在壽命中后期的特性,首先得把閃存磨損到固定的擦寫次數(shù)。請參照圖1,現(xiàn)有技術(shù)中通常閃存磨損是先擦除閃存塊,擦除之后在靜態(tài)隨機(jī)存取存儲器中準(zhǔn)備要寫入的隨機(jī)數(shù)據(jù),將隨機(jī)數(shù)據(jù)寫入對應(yīng)的存儲單元中,直到所有閃存塊磨損到固定的擦寫次數(shù),通過上述方法,磨損全盤到2500次需要約43天的時(shí)間,不同的主控或閃存需要的時(shí)間不同。由此可見前期的閃存磨損工作會耗費(fèi)不少的人力成本,工作效率低。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是:提供一種閃存磨損方法、裝置、可讀存儲介質(zhì)及電子設(shè)備,能夠加速磨損閃存,提高測試效率。
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的技術(shù)方案為:
一種閃存磨損方法,包括步驟:
接收磨損指令,關(guān)閉所述閃存的LDPC編碼功能和校正功能;
對每一閃存塊進(jìn)行擦除,并對擦除后的每一閃存塊中的每一頁寫入對應(yīng)的預(yù)設(shè)固定值,直至所述每一閃存塊中的每一頁均寫入完成;
循環(huán)上述對所述每一閃存塊進(jìn)行的擦除和寫入操作,直至每一閃存塊的擦寫次數(shù)達(dá)到預(yù)設(shè)擦寫次數(shù)。
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的另一種技術(shù)方案為:
一種閃存磨損裝置,包括:
初始化模塊,用于接收磨損指令,關(guān)閉所述閃存的LDPC編碼功能和校正功能;
擦寫模塊,用于對每一閃存塊進(jìn)行擦除,并對擦除后的每一閃存塊中的每一頁寫入對應(yīng)的預(yù)設(shè)固定值,直至所述每一閃存塊中的每一頁均寫入完成;
循環(huán)模塊,用于循環(huán)上述對所述每一閃存塊進(jìn)行的擦除和寫入操作,直至每一閃存塊的擦寫次數(shù)達(dá)到預(yù)設(shè)擦寫次數(shù)。
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的另一種技術(shù)方案為:
一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì),其上存儲有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述閃存磨損方法中的各個(gè)步驟。
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的另一種技術(shù)方案為:
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F3-00 用于將所要處理的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)變成為計(jì)算機(jī)能夠處理的形式的輸入裝置;用于將數(shù)據(jù)從處理機(jī)傳送到輸出設(shè)備的輸出裝置,例如,接口裝置
G06F3-01 .用于用戶和計(jì)算機(jī)之間交互的輸入裝置或輸入和輸出組合裝置
G06F3-05 .在規(guī)定的時(shí)間間隔上,利用模擬量取樣的數(shù)字輸入
G06F3-06 .來自記錄載體的數(shù)字輸入,或者到記錄載體上去的數(shù)字輸出
G06F3-09 .到打字機(jī)上去的數(shù)字輸出
G06F3-12 .到打印裝置上去的數(shù)字輸出





