[發明專利]閃存磨損方法、裝置、可讀存儲介質及電子設備有效
| 申請號: | 202110034314.3 | 申請日: | 2021-01-12 |
| 公開(公告)號: | CN112817521B | 公開(公告)日: | 2023-02-28 |
| 發明(設計)人: | 孫成思;孫日欣;童海濤 | 申請(專利權)人: | 成都佰維存儲科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/06 | 分類號: | G06F3/06;G06F12/02;G11C16/34 |
| 代理公司: | 深圳市博銳專利事務所 44275 | 代理人: | 歐陽燕明 |
| 地址: | 610000 四川省成都市高新*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 閃存 磨損 方法 裝置 可讀 存儲 介質 電子設備 | ||
1.一種閃存磨損方法,其特征在于,包括步驟:
接收磨損指令,關閉所述閃存的LDPC編碼功能和校正功能;
對每一閃存塊進行擦除,并對擦除后的每一閃存塊中的每一頁寫入對應的預設固定值,直至所述每一閃存塊中的每一頁均寫入完成;
循環上述對所述每一閃存塊進行的擦除和寫入操作,直至每一閃存塊的擦寫次數達到預設擦寫次數;
所述預設固定值為對所述閃存施加的閾值電壓最大時對應的存儲單元每一比特位的電平值;
所述對擦除后的每一閃存塊中的每一頁寫入對應的預設固定值包括:
對擦除后的每一閃存塊中的所有存儲單元的最高有效位和最低有效位的對應頁寫入全1,所有存儲單元的中間有效位的對應頁寫入全0。
2.根據權利要求1所述的一種閃存磨損方法,其特征在于,所述對擦除后的每一閃存塊中的每一頁寫入對應的預設固定值包括:
對所述閃存塊中每一頁對應要寫入的預設固定值進行緩存;
對擦除后的每一閃存塊中的每一頁寫入對應的所述緩存的預設固定值。
3.根據權利要求1或2所述的一種閃存磨損方法,其特征在于,所述磨損指令包括需要擦寫次數;
根據所述需要擦寫次數和預設固定值確定所述預設擦寫次數。
4.根據權利要求1或2所述的一種閃存磨損方法,其特征在于,所述對每一閃存塊進行擦除,并對擦除后的每一閃存塊中的每一頁寫入對應的預設固定值,直至所述每一閃存塊中的每一頁均寫入完成包括:
對每一閃存塊按預設順序逐一進行擦除和寫入對應的預設固定值的操作,直至每一閃存塊均被擦除和寫入過一次。
5.根據權利要求1或2所述的一種閃存磨損方法,其特征在于,所述循環上述對所述每一閃存塊進行的擦除和寫入操作,直至每一閃存塊的擦寫次數達到預設擦寫次數之后還包括步驟:
開啟所述閃存的LDPC編碼功能和校正功能。
6.一種閃存磨損裝置,其特征在于,包括:
初始化模塊,用于接收磨損指令,關閉所述閃存的LDPC編碼功能和校正功能;
擦寫模塊,用于對每一閃存塊進行擦除,并對擦除后的每一閃存塊中的每一頁寫入對應的預設固定值,直至所述每一閃存塊中的每一頁均寫入完成,所述預設固定值為對所述閃存施加的閾值電壓最大時對應的存儲單元每一比特位的電平值;
所述對擦除后的每一閃存塊中的每一頁寫入對應的預設固定值包括:
對擦除后的每一閃存塊中的所有存儲單元的最高有效位和最低有效位的對應頁寫入全1,所有存儲單元的中間有效位的對應頁寫入全0;
循環模塊,用于循環上述對所述每一閃存塊進行的擦除和寫入操作,直至每一閃存塊的擦寫次數達到預設擦寫次數。
7.一種計算機可讀存儲介質,其上存儲有計算機程序,其特征在于,所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1-5任意一項所述的閃存磨損方法中的各個步驟。
8.一種電子設備,包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序,其特征在于,所述處理器執行所述計算機程序時實現如權利要求1-5任意一項所述的閃存磨損方法中的各個步驟。
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