[發明專利]一種針對自動測試機的異步頻譜泄漏的抑制方法

在審

• 申請號: 202110025102.9
• 申請日: 2021-01-08
• 公開（公告）號: CN112880940A
• 公開（公告）日: 2021-06-01
• 發明（設計）人: 魏津;張經祥;吳艷平
• 申請（專利權）人: 勝達克半導體科技（上海）有限公司
• 主分類號: G01M3/20
• 分類號: G01M3/20
• 代理公司: 上海專益專利代理事務所(特殊普通合伙) 31381
• 代理人: 方燕娜;王雯婷

本發明涉及半導體測試技術領域，具體地說是一種針對自動測試機的異步頻譜泄漏的抑制方法。一種針對自動測試機的異步頻譜泄漏的抑制方法，具體解決方法如下：S1：啟動被測芯片的測試工作；S2：啟動自動測試機的采樣模塊進行數據采樣，采樣數據長度為16384點；S3：根據采樣數據長度為16384點，記錄計算長度為16384，并添加漢寧窗函數計算得出采樣點加權系數；S4：將計算得出的采樣點加權系數應用在時域采樣數據的公式中；S5：得出各項數據后，進行傅里葉變換，得出SNR及THD的數據。同現有技術相比，在自動測試機采樣模塊進行采樣時增加漢寧窗函數，并進行傅里葉轉換，能夠針對非周期性信號的頻譜泄漏有抑制作用，有利于分析信號的頻率特性。

技術領域

本發明涉及半導體測試技術領域，具體地說是一種針對自動測試機的異步頻譜泄漏的解決方法。

背景技術

通常在半導體自動測試過程中為了獲得穩定的信號，測試端被測芯片和自動測試設備需使用同一個時鐘源，以保證雙方信號同步，以避免因為不能達到同步，而使被測信號的頻率發生變化，導致信號的頻譜泄漏，從而造成分析困難和測試失敗。

然而仍有客戶的由于測試方案本身的需要，自己提供了晶振時鐘源，而該晶振時鐘源卻不能給芯片提供有效穩定的時鐘，與自動測試機的時鐘異步，從而造成待測信號不穩定。這樣的信號在被采樣之后不能完美采樣整周期，造成了頻譜泄漏，影響測試結果。

發明內容

本發明為克服現有技術的不足，提供一種針對自動測試機的異步頻譜泄漏的解決方法，在自動測試機采樣模塊進行采樣時增加漢寧窗函數，并進行傅里葉轉換，能夠針對非周期性信號的頻譜泄漏有抑制作用，有利于分析信號的頻率特性。

為實現上述目的，設計一種針對自動測試機的異步頻譜泄漏的解決方法，其特征在于：具體解決方法如下：

S1：啟動被測芯片的測試工作；

S2：啟動自動測試機的采樣模塊進行數據采樣，采樣數據長度為16384點；其中，FFT 基本要求為2的n次方，采樣需滿足采樣定理Fs/Ft = N/M，Fs為采樣頻率，Ft為信號頻率，N為采樣點數，M為采樣周期；Ft = 1KHz輸出，一般要求觀察25KHz的頻譜，系統采樣頻率大概為Fs = 51.2KHz（因為FFT是對稱半頻譜，采樣頻率需大于2倍的25KHz），采樣周期個數一般要求至少300個以上的周期，與此最接近的采樣點為 300*25*2 ≥16000，因此，最接近此數的值為16384；

S3：根據采樣數據長度為16384點，記錄計算長度為16384，并添加漢寧窗函數計算得出采樣點加權系數；

S4：將計算得出的采樣點加權系數應用在時域采樣數據的公式中；

S5：得出各項數據后，進行傅里葉變換，得出SNR及THD的數據；

S6：根據SNR及THD的數據，計算得出RMS值，其中RMS為有效值，能量 。

這兩個參數是在信號處理或者信號分析中比較關鍵的2個特征量，一般要求SNR越大越好，THD越小越好，當頻譜泄漏時候在頻譜圖中信號會被噪聲淹沒，噪聲比較大，SNR，THD比較差，加了窗之后，噪聲被抑制，SNR和THD表現就好。

所述的漢寧窗函數為W(n)=1/2 *[1?cos(2π(n?1)/N)]，其中，N為窗的長度，n為當前采樣點，W(n）為通過漢寧窗計算出的當前采樣點加權系數。

所述的時域采樣數據的公式為H(n) = S(n)* W(n)，其中，S(n) 為采樣的原始數據，H(n)為應用了漢寧窗的采樣數據。

所述的SNR為信噪比，THD為總諧波失真。