[發(fā)明專利]一種針對自動測試機的異步頻譜泄漏的抑制方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110025102.9
• 申請日: 2021-01-08
• 公開（公告）號: CN112880940A
• 公開（公告）日: 2021-06-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 魏津;張經(jīng)祥;吳艷平
• 申請（專利權(quán)）人: 勝達(dá)克半導(dǎo)體科技（上海）有限公司
• 主分類號: G01M3/20
• 分類號: G01M3/20
• 代理公司: 上海專益專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 31381
• 代理人: 方燕娜;王雯婷

1.一種針對自動測試機的異步頻譜泄漏的抑制方法，其特征在于：具體解決方法如下：

S1：啟動被測芯片的測試工作；

S2：啟動自動測試機的采樣模塊進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣，采樣數(shù)據(jù)長度為16384點；其中，F(xiàn)FT 基本要求為2的n次方，采樣需滿足采樣定理Fs/Ft = N/M，F(xiàn)s為采樣頻率，F(xiàn)t為信號頻率，N為采樣點數(shù)，M為采樣周期；Ft = 1KHz輸出，一般要求觀察25KHz的頻譜，系統(tǒng)采樣頻率大概為Fs = 51.2KHz（因為FFT是對稱半頻譜，采樣頻率需大于2倍的25KHz），采樣周期個數(shù)一般要求至少300個以上的周期，與此最接近的采樣點為 300*25*2 ≥16000，因此，最接近此數(shù)的值為16384；

S3：根據(jù)采樣數(shù)據(jù)長度為16384點，記錄計算長度為16384，并添加漢寧窗函數(shù)計算得出采樣點加權(quán)系數(shù)；

S4：將計算得出的采樣點加權(quán)系數(shù)應(yīng)用在時域采樣數(shù)據(jù)的公式中；

S5：得出各項數(shù)據(jù)后，進(jìn)行傅里葉變換，得出SNR及THD的數(shù)據(jù)；

S6：根據(jù)SNR及THD的數(shù)據(jù)，計算得出RMS值，其中RMS為有效值，能量。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種針對自動測試機的異步頻譜泄漏的抑制方法，其特征在于：所述的漢寧窗函數(shù)為W(n)=1/2 *[1?cos(2π(n?1)/N)]，其中，N為窗的長度，n為當(dāng)前采樣點，W(n）為通過漢寧窗計算出的當(dāng)前采樣點加權(quán)系數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種針對自動測試機的異步頻譜泄漏的抑制方法，其特征在于：所述的時域采樣數(shù)據(jù)的公式為H(n) = S(n)* W(n)，其中，S(n) 為采樣的原始數(shù)據(jù)，H(n)為應(yīng)用了漢寧窗的采樣數(shù)據(jù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種針對自動測試機的異步頻譜泄漏的抑制方法，其特征在于：所述的SNR為信噪比，THD為總諧波失真。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種針對自動測試機的異步頻譜泄漏的抑制方法，其特征在于：所述的SNR = 20Log(Sum(MAG_AMP[Bx] * MAG_AMP[Bx] )/ Sum(MAG_AMP[n] * (MAG_AMP[n] )，其中，Sum(MAG_AMP[Bx] * MAG_AMP[Bx]為主瓣加旁瓣信號能量，Sum(MAG_AMP[n] * (MAG_AMP[n]為噪音能量和。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種針對自動測試機的異步頻譜泄漏的抑制方法，其特征在于：所述的THD = 20Log(Sum(MAG_AMP[Hx] * MAG_AMP[Hx] )/ Sum(MAG_AMP[Bx] * (MAG_AMP[Bx] )，其中，Sum(MAG_AMP[Hx] * MAG_AMP[Hx]為諧波能量和。