[發明專利]光學器件監測與標定系統和方法

有效

• 申請號: 202110023040.8
• 申請日: 2021-01-08
• 公開（公告）號: CN112763194B
• 公開（公告）日: 2022-06-24
• 發明（設計）人: 梁宇鑫;崔乃迪;歐陽伯靈;馮俊波;郭進
• 申請（專利權）人: 聯合微電子中心有限責任公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G02B6/124;G02B6/26;G02B6/122
• 代理公司: 北京北匯律師事務所 11711
• 代理人: 馬亞坤

本發明公開了一種光學器件監測與標定系統和方法，其中，該光學器件監測與標定系統和方法包括：待測光學器件和監視裝置；該待測光學器件連接有輸入波導與輸出波導；該監視裝置包含第一監測波導和第二監測波導；該第一監測波導上設有輸入光柵，用于輸入光信號；該第二監測波導上設有輸出光柵，用于輸出光信號；該第一監測波導與輸入波導之間設有第一聚合物，使得第一監測波導與輸入波導耦合導通；該第二監測波導與輸出波導之間設有第二聚合物，使得第二監測波導與輸出波導耦合導通；根據該輸入光柵輸入的光信號與輸出光柵輸出的光信號對該待測光學器件進行監測和/或標定。解決了現有技術在大規模光網絡中缺乏對于個別光學器件監測與標定的問題。

技術領域

本發明涉及波導技術領域，具體涉及一種光學器件監測與標定系統和方法。

背景技術

隨著半導體技術的發展，集成光學已經在光通訊領域得到了廣泛的應用，近些年來各種新興技術的產生，例如第五代移動通信技術(5th-Generation，簡稱5G)、應用于光學領域的現場可編程門陣列(Field-Programmable Gate Array，簡稱FPGA)、量子通訊、光子人工智能(Artificial Intelligence，簡稱AI)、激光雷達等，促使集成光芯片朝著大規模、高集成度發展，但是在大規模集成光芯片中可包含成千上萬的光學器件，所有光學器件都在光網絡中，導致不能對單個器件實現直接的標定與監測，單個關鍵器件的監測與標定就成為了極大的挑戰。

針對現有技術在大規模光網絡中缺乏對于光學器件監測與標定的問題，還未提出有效的解決方案。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例提供了一種光學器件監測與標定系統和方法，以解決現有技術在大規模光網絡中缺乏對于光學器件監測與標定的問題。

為此，本發明實施例提供了如下技術方案：

本發明第一方面，提供了一種光學器件監測與標定系統，包括：待測光學器件和監視裝置；

所述待測光學器件連接有輸入波導與輸出波導；

所述監視裝置包含第一監測波導和第二監測波導；所述第一監測波導上設有輸入光柵，用于輸入光信號；所述第二監測波導上設有輸出光柵，用于輸出光信號；

所述第一監測波導與所述輸入波導之間設有第一聚合物，使得第一監測波導與所述輸入波導耦合導通；所述第二監測波導與所述輸出波導之間設有第二聚合物，使得第二監測波導與所述輸出波導耦合導通；

根據所述輸入光柵輸入的光信號與所述輸出光柵輸出的光信號對所述待測光學器件進行監測和/或標定。

可選地，所述光學器件監測與標定系統還包括：

所述第一監測波導與所述輸入波導之間的包層具有第一深刻槽，并且所述第二監測波導與所述輸出波導之間的包層具有第二深刻槽；所述第一深刻槽與所述第二深刻槽用于放置所述第一聚合物和所述第二聚合物。

可選地，所述光學器件監測與標定系統還包括：

所述第一聚合物與所述第二聚合物可擦除。

可選地，所述光學器件監測與標定系統還包括：

所述第一監測波導、所述第二監測波導、所述輸入波導與所述輸出波導的芯層是由高折射率材料構成，并且所述第一監測波導、所述第二監測波導、所述輸入波導與所述輸出波導的包層是由低折射率的材料構成。

可選地，所述光學器件監測與標定系統還包括：

所述第一聚合物與所述第二聚合物的折射率均大于空氣的折射率。

可選地，所述光學器件監測與標定系統還包括：