[發(fā)明專利]單工位芯片移印信息處理方法及單工位芯片移印機(jī)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110020554.8
• 申請(qǐng)日: 2021-01-07
• 公開（公告）號(hào): CN112558897A
• 公開（公告）日: 2021-03-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 阮旺;徐鳴;陳振杉;陳曉東
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市久和精密自動(dòng)化設(shè)備有限公司
• 主分類號(hào): G06F3/12
• 分類號(hào): G06F3/12;B41F17/00
• 代理公司: 廣州博士科創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44663
• 代理人: 宋佳

本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種單工位芯片移印信息處理方法及單工位芯片移印機(jī)。本發(fā)明能夠基于獲取到的芯片移印狀態(tài)信息集合確定異常狀態(tài)信息集合，并通過移印狀態(tài)識(shí)別線程分別確定出移印生產(chǎn)指標(biāo)信息集合和異常生產(chǎn)指標(biāo)信息集合，進(jìn)而確定出芯片移印狀態(tài)信息集合所對(duì)應(yīng)的移印誤差標(biāo)簽集，這樣可以移印誤差標(biāo)簽集確定芯片移印狀態(tài)信息集合的工作狀態(tài)調(diào)整信息，以使得單工位芯片移印機(jī)能夠根據(jù)工作狀態(tài)調(diào)整信息自適應(yīng)地調(diào)整工作狀態(tài)，從而基于芯片的生產(chǎn)指標(biāo)信息實(shí)現(xiàn)對(duì)移印機(jī)的不同功能單元之間存在的配合誤差的改善或者消除，從而確保對(duì)芯片的快速精準(zhǔn)加工，提高移印效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種單工位芯片移印信息處理方法及單工位芯片移印機(jī)。

背景技術(shù)

移印機(jī)（Pad printing machine）是一種印刷設(shè)備，適用于塑膠、玩具、玻璃、金屬、陶瓷、電子、芯片等。在芯片制造過程中，芯片的制造精度要求決定了移印機(jī)的工作狀態(tài)需要相對(duì)穩(wěn)定。針對(duì)單工位芯片移印機(jī)而言，一般包括上料單元、產(chǎn)品傳送單元、檢測單元、下料單元、芯片平移單元、移印單元、油蠱清膠單元和定位單元等。然而這些單元在互相配合過程中可能會(huì)存在誤差，這樣難以確保對(duì)芯片的快速精準(zhǔn)加工，進(jìn)而降低移印效率。

發(fā)明內(nèi)容

為改善相關(guān)技術(shù)中存在的上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了單工位芯片移印信息處理方法及單工位芯片移印機(jī)，通過自適應(yīng)地調(diào)整工作狀態(tài)，能夠改善或者消除整個(gè)移印機(jī)的不同功能單元之間存在的配合誤差，從而確保對(duì)芯片的快速精準(zhǔn)加工，提高移印效率。

本發(fā)明實(shí)施例的第一方面，提供了一種單工位芯片移印信息處理方法，包括：

獲取芯片移印狀態(tài)信息集合，其中，所述芯片移印狀態(tài)信息集合包括存在時(shí)序連續(xù)性的i組芯片移印狀態(tài)信息，i為大于1的整數(shù)；

根據(jù)所述芯片移印狀態(tài)信息集合獲取異常狀態(tài)信息集合，其中，所述異常狀態(tài)信息集合包括存在時(shí)序連續(xù)性的i組異常狀態(tài)信息；

基于所述芯片移印狀態(tài)信息集合，通過移印狀態(tài)識(shí)別線程所包括的局部指標(biāo)解析單元獲取移印生產(chǎn)指標(biāo)信息集合，其中，所述移印生產(chǎn)指標(biāo)信息集合包括i個(gè)移印生產(chǎn)指標(biāo)信息；

基于所述異常狀態(tài)信息集合，通過所述移印狀態(tài)識(shí)別線程所包括的全局指標(biāo)解析單元獲取異常生產(chǎn)指標(biāo)信息集合，其中，所述異常生產(chǎn)指標(biāo)信息集合包括i個(gè)異常生產(chǎn)指標(biāo)信息；

基于所述移印生產(chǎn)指標(biāo)信息集合以及所述異常生產(chǎn)指標(biāo)信息集合，通過所述移印狀態(tài)識(shí)別線程所包括的移印誤差檢測單元獲取所述芯片移印狀態(tài)信息集合所對(duì)應(yīng)的移印誤差標(biāo)簽集；

根據(jù)所述移印誤差標(biāo)簽集確定所述芯片移印狀態(tài)信息集合的工作狀態(tài)調(diào)整信息。

可選的，所述基于所述移印生產(chǎn)指標(biāo)信息集合以及所述異常生產(chǎn)指標(biāo)信息集合，通過所述移印狀態(tài)識(shí)別線程所包括的移印誤差檢測單元獲取所述芯片移印狀態(tài)信息集合所對(duì)應(yīng)的移印誤差標(biāo)簽集，包括：

基于所述移印生產(chǎn)指標(biāo)信息集合，通過所述移印狀態(tài)識(shí)別線程所包括的局部動(dòng)態(tài)指標(biāo)識(shí)別單元獲取i個(gè)局部生產(chǎn)指標(biāo)內(nèi)容，其中，每個(gè)局部生產(chǎn)指標(biāo)內(nèi)容對(duì)應(yīng)于一個(gè)移印生產(chǎn)指標(biāo)信息；

基于所述異常生產(chǎn)指標(biāo)信息集合，通過所述移印狀態(tài)識(shí)別線程所包括的全局動(dòng)態(tài)指標(biāo)識(shí)別單元獲取i個(gè)全局生產(chǎn)指標(biāo)內(nèi)容，其中，每個(gè)全局生產(chǎn)指標(biāo)內(nèi)容對(duì)應(yīng)于一個(gè)異常生產(chǎn)指標(biāo)信息；對(duì)所述i個(gè)局部生產(chǎn)指標(biāo)內(nèi)容以及所述i個(gè)全局生產(chǎn)指標(biāo)內(nèi)容進(jìn)行生產(chǎn)指標(biāo)校正處理，得到i個(gè)目標(biāo)生產(chǎn)指標(biāo)內(nèi)容，其中，每個(gè)目標(biāo)生產(chǎn)指標(biāo)內(nèi)容包括一個(gè)局部生產(chǎn)指標(biāo)內(nèi)容以及一個(gè)全局生產(chǎn)指標(biāo)內(nèi)容；

基于所述i個(gè)目標(biāo)生產(chǎn)指標(biāo)內(nèi)容，通過所述移印狀態(tài)識(shí)別線程所包括的生產(chǎn)指標(biāo)融合單元獲取全局生產(chǎn)指標(biāo)內(nèi)容，其中，所述全局生產(chǎn)指標(biāo)內(nèi)容為根據(jù)所述i個(gè)目標(biāo)生產(chǎn)指標(biāo)內(nèi)容以及i個(gè)芯片良率評(píng)價(jià)權(quán)重確定的，每個(gè)目標(biāo)生產(chǎn)指標(biāo)內(nèi)容對(duì)應(yīng)于一個(gè)芯片良率評(píng)價(jià)權(quán)重；