[發(fā)明專利]一種磁吸式MicroLED巨量轉移結構及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110016028.4 | 申請日: | 2021-01-07 |
| 公開(公告)號: | CN112635400B | 公開(公告)日: | 2022-10-04 |
| 發(fā)明(設計)人: | 劉巍巍 | 申請(專利權)人: | TCL華星光電技術有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/78 | 分類號: | H01L21/78;H01L25/16 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570 | 代理人: | 呂姝娟 |
| 地址: | 518132 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 磁吸式 microled 巨量 轉移 結構 方法 | ||
1.一種磁吸式MicroLED巨量轉移方法,采用磁吸式MicroLED巨量轉移結構,所述磁吸式MicroLED巨量轉移結構包括:基底,所述基底的一面上制備有LED芯片陣列,所述LED芯片陣列的每個電極上設置有第一導電粘接劑層和第一軟磁材料層;以及目標電路基板,所述目標電路基板的一面上設置有第二導電粘接劑層陣列和第二軟磁材料層陣列;所述第一導電粘接劑層與第二導電粘接劑層一一對應,所述第一軟磁材料層與第二軟磁材料層一一對應,所述LED芯片陣列和所述目標電路基板可通過所述第一導電粘接劑層和第二導電粘接劑層利用熱壓工藝進行綁定連接;所述第一軟磁材料層和第二軟磁材料層的居里溫度低于所述熱壓工藝的加熱溫度,其特征在于,該方法包括下述步驟:
S10、將所述基底與目標電路基板上下間隔設置,使所述第一導電粘接劑層和第一軟磁材料層分別與所述第二導電粘接劑層和第二軟磁材層一一正對;
S20、施加磁場使所有所述第一軟磁材料層和第二軟磁材層磁化,同時相鄰的第一軟磁材料層磁性相反,相鄰的第二軟磁材料層磁性相反,正對的第一軟磁材料層和第二軟磁材層磁性相反;
S30、激光照射所述基底和LED芯片陣列,使所有LED芯片從所述基底剝離;
S40、在第一軟磁材料層和第二軟磁材層磁力的作用下,正對的第一導電粘接劑層和第二導電粘接劑層分別對準連接;
S50、移去電場,采用熱壓工藝使正對的第一導電粘接劑層和第二導電粘接劑層分別綁定連接,同時在熱壓工藝的加熱作用下,第一軟磁材料層和第二軟磁材料層的溫度達到居里溫度,第一軟磁材料層和第二軟磁材料層的磁性消失;
S60、MicroLED巨量轉移完成;
所述步驟S20中,在所述基底的另一面給每兩列第一軟磁材料層中間提供第一電流,在所述目標電路基板的另一面給每兩列第二軟磁材料層中間提供第二電流,所述第一電流和第二電流的方向相反,由電磁效應產生磁場使所有所述第一軟磁材料層和第二軟磁材層磁化,同時相鄰的第一軟磁材料層磁性相反,相鄰的第二軟磁材料層磁性相反,正對的第一軟磁材料層和第二軟磁材層磁性相反。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





