[發明專利]一種測試治具射頻校準系統及方法

有效

• 申請號: 202110013307.5
• 申請日: 2021-01-06
• 公開（公告）號: CN112737706B
• 公開（公告）日: 2022-12-13
• 發明（設計）人: 余守軍
• 申請（專利權）人: 深圳市精泰達科技有限公司
• 主分類號: H04B17/11
• 分類號: H04B17/11;H04B17/21
• 代理公司: 北京維正專利代理有限公司 11508
• 代理人: 任志龍

本申請涉及一種測試治具射頻校準系統及方法，屬于射頻測試技術的領域，校準系統包括校準模塊和測試模塊；第一射頻線纜，用于一端連接插損測量裝置的第一輸入端口，另一端連接插損測量裝置的第二輸入端口，以進行插損測量裝置的雙端校準，并用于一端連接參數測試裝置，另一端連接插損測量裝置的第二輸入端口；第二射頻線纜，用于一端連接插損測量裝置的第一輸入端口，另一端連接探針連接器；探針連接器固定于屏蔽箱的載板上；并提供了一種測試治具射頻校準方法。與相關技術相比，本申請具有改善WIFI/BLE產品的測試值與實際值存在較大的偏差的問題的效果。

技術領域

本申請涉及射頻測試技術的領域，尤其是涉及一種測試治具射頻校準系統及方法。

背景技術

隨著信息技術和電子技術的發展，智能手機、平板、筆記本電腦、錄像機、移動通信產品等電子產品在生活中越來越普遍，且幾乎人手必備。而隨著電子產品的普及，WIFI/BLE產品，即行動熱點和藍牙產品，也越來越常見。

電子消費類WIFI/BLE產品的生產大多處于多種頻率的環境下，電磁干擾（EMI）非常嚴重，需要在空間“潔凈”，即電磁干擾很小的環境下進行測試才能更好地測試WIFI/BLE產品的好壞。因此在進行測試時，一般將WIFI/BLE產品放置于屏蔽箱內進行。而在進行測試前，需要先對測試過程中形成的射頻通路進行校準。屏蔽箱的空間狹小，且包含結構較為緊湊的載具（載板），因此在進行射頻校準時，為了方便，一般在高頻探針端接的射頻線纜處進行校準，即對測試過程中的射頻通路進行校準。

一般地，在對測試過程中的射頻通路進行校準時，校準的環境與實際測試時的環境有所差異，使得校準中測量到的射頻通路的插損值與測試時的插損值有所差異，進而導致WIFI/BLE產品的測試值與實際值存在較大的偏差。

發明內容

為了有助于改善WIFI/BLE產品的測試值與實際值存在較大的偏差的問題，本申請提供一種測試治具射頻校準系統及方法。

第一方面，本申請提供一種測試治具射頻校準系統，采用如下的技術方案：

一種測試治具射頻校準系統，包括校準模塊和測試模塊，所述校準模塊包括第一射頻線纜、第二射頻線纜、屏蔽箱和插損測量裝置，所述測試模塊包括參數測試裝置和探針連接器；其中，

所述第一射頻線纜，用于一端連接所述插損測量裝置的第一輸入端口，另一端連接所述插損測量裝置的第二輸入端口，以進行所述插損測量裝置的雙端校準，并用于一端連接所述參數測試裝置，另一端連接所述插損測量裝置的第二輸入端口，以進行所述測試模塊的校準；

所述第二射頻線纜，用于一端連接所述插損測量裝置的第一輸入端口，另一端連接所述探針連接器，以進行所述測試模塊的校準；

所述探針連接器固定于屏蔽箱的載板上。

通過采用上述技術方案，將第一射頻線纜、第二射頻線纜和屏蔽箱與測試模塊的參數測試裝置和探針連接器進行連接，構建包含射頻通路（即參數測試裝置和在屏蔽箱內的探針連接器形成的通路）的校準回路，使校準回路中的射頻通路更接近實際測試過程中的射頻通路，再使用插損測量裝置測量校準回路中射頻通路的插損值，使得到的插損值更接近實際測量過程中的插損值，從而有助于改善WIFI/BLE產品的測試值與實際值存在較大的偏差的問題。

可選的，所述校準模塊還包括控制終端，所述控制終端上搭載有用于控制插損測量裝置的自動測試工具。

通過采用上述技術方案，測試人員能夠通過控制終端上的自動測試工具控制插損測量裝置的工作狀態，并在自動測量工具上進行切換頻點等參數，無需在插損測量裝置上進行調節，減少調參所耗費的時間，從而能夠提高校準的效率。

可選的，所述控制終端與插損測量裝置之間通過通信線連接，所述通信線包括不限于GPIB和網線中的任一種。