[發明專利]一種測試治具射頻校準系統及方法

有效

• 申請號: 202110013307.5
• 申請日: 2021-01-06
• 公開（公告）號: CN112737706B
• 公開（公告）日: 2022-12-13
• 發明（設計）人: 余守軍
• 申請（專利權）人: 深圳市精泰達科技有限公司
• 主分類號: H04B17/11
• 分類號: H04B17/11;H04B17/21
• 代理公司: 北京維正專利代理有限公司 11508
• 代理人: 任志龍

1.一種測試治具射頻校準系統，其特征在于：包括校準模塊和測試模塊，所述校準模塊包括第一射頻線纜(3)、第二射頻線纜(4)、屏蔽箱(2)和插損測量裝置(1)，所述測試模塊包括參數測試裝置(5)和探針連接器(6)；其中，

所述第一射頻線纜(3)，用于一端連接所述插損測量裝置(1)的第一輸入端口，另一端連接所述插損測量裝置(1)的第二輸入端口，以進行所述插損測量裝置(1)的雙端校準，并用于一端連接所述參數測試裝置(5)，另一端連接所述插損測量裝置(1)的第二輸入端口，以進行所述參數測試裝置(5)的校準；

所述第二射頻線纜(4)，用于一端連接所述插損測量裝置(1)的第一輸入端口，另一端連接所述探針連接器(6)，以進行所述探針連接器(6)的校準；

所述探針連接器(6)固定于屏蔽箱(2)的載板上；

其中，所述第一射頻線纜(3)、第二射頻線纜(4)和所述屏蔽箱(2)與所述參數測試裝置(5)和所述探針連接器(6)進行連接，構建成包含射頻通路的校準回路，再基于所述插損測量裝置(1)測量校準回路中射頻通路的插損值。

2.根據權利要求1所述的一種測試治具射頻校準系統，其特征在于：所述校準模塊還包括控制終端(7)，所述控制終端(7)上搭載有用于控制插損測量裝置(1)的自動測試工具(71)。

3.根據權利要求2所述的一種測試治具射頻校準系統，其特征在于：所述控制終端(7)與插損測量裝置(1)之間通過通信線(8)連接，所述通信線(8)包括不限于GPIB和網線中的任一種。

4.根據權利要求2或3所述的一種測試治具射頻校準系統，其特征在于：所述控制終端(7)將自動測試工具(71)控制插損測量裝置(1)測量得到的插損值進行記錄，生成并存儲對應的插損文檔。

5.根據權利要求1所述的一種測試治具射頻校準系統，其特征在于：所述探針連接器(6)在屏蔽箱(2)載板上的位置與被測試產品在屏蔽箱(2)載板上的位置一致。

6.一種測試治具射頻校準方法，基于一種測試治具射頻校準系統實現，其特征在于：所述射頻校準方法包括，

插損測量裝置校準(101)，對插損測量裝置(1)進行校準；

校準接線(102)，根據實際測試中的射頻通路，連接好測試模塊，并將插損測量裝置(1)接入連接好的測試模塊；以及，

校準測試(103)，啟動插損測量裝置(1)進行測量，記錄得到各個頻點對應的插損值，生成并存儲對應的插損文檔；

其中，所述校準接線(102)的方法包括，

將第一射頻線纜(3)的一端與參數測試裝置(5)的輸入端口連接，另一端與插損測量裝置(1)的第二輸入端口連接；以及，

將第二射頻線纜(4)的一端與插損測量裝置(1)的第一輸入端口連接，另一端與固定在屏蔽箱(2)載板上的探針連接器(6)連接。

7.根據權利要求6所述的一種測試治具射頻校準方法，其特征在于：所述插損測量裝置校準(101)的方法包括，

對插損測量裝置(1)的第一輸入端口和第二輸入端口進行單端校準；

將第一射頻線纜(3)的一端與插損測量裝置(1)的第一輸入端口連接，另一端與插損測量裝置(1)的第二輸入端口連接；以及，

對連接好第一射頻線纜(3)的插損測量裝置(1)進行雙端校準。