[發明專利]一種增加測試機向量深度的方法在審
| 申請號： | 202110011857.3 | 申請日： | 2021-01-06 |
| 公開（公告）號： | CN112802538A | 公開（公告）日： | 2021-05-14 |
| 發明（設計）人： | 王斌;劉遠華;吳勇佳;范文萱;吳杰曄 | 申請（專利權）人： | 上海華嶺集成電路技術股份有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/56 | 分類號： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海海貝律師事務所 31301 | 代理人： | 宋振宇 |
| 地址： | 201203 上海市浦東新區中國（*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 增加 測試 向量 深度 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種增加測試機向量深度的方法，其特征在于：
1)在測試芯片的測試板上單獨安裝滿足測試要求的存儲器；
2)程序會把超標的向量先寫入到測試板的存儲芯片中；
3)當程序執行到某一個測試項時，測試項向量超過測試機本身深度時，測試板上存儲器內向量分批讀入測試機內向量，分批執行，程序把超標的向量先寫入到測試板的存儲芯片中，直到測試向量全部完成。
2.如權利要求1所述的增加測試機向量深度的方法，其特征在于：在測試芯片的測試板上單獨安裝1G存儲器。
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