[發明專利]一種自動線寬線距測量機

有效

• 申請號: 202110011781.4
• 申請日: 2021-01-04
• 公開（公告）號: CN112833836B
• 公開（公告）日: 2021-08-31
• 發明（設計）人: 張文華;張英平;曾益峰
• 申請（專利權）人: 東莞光宇智能科技有限公司
• 主分類號: G01B21/02
• 分類號: G01B21/02;G01R31/28
• 代理公司: 北京天盾知識產權代理有限公司 11421
• 代理人: 李瓊芳;肖小龍

本發明提供了一種自動線寬線距測量機，線寬線距測量機包括檢測裝置、運輸裝置、校準裝置、抵靠裝置、采集裝置、轉動裝置、調整裝置和處理器，檢測裝置被構造為對電路板的參數進行檢測；運輸裝置被構造為對待檢測的電路板進行運輸；校準裝置被構造為對電路板的各個位置進行校準，并配合檢測裝置對電路板進行檢測；抵靠裝置被構造為對校準裝置的位置進行調整；采集裝置被構造為基于檢測裝置與校準裝置的數據進行采集；轉動裝置被構造為對電路板的角度進行調整；調整裝置被構造為對檢測裝置的位置進行調整。本發明通過采用感應板和路徑采集器相互配合使用，使得整個裝置在檢測的過程中能夠對電路板以及指示頭的移動的路徑進行檢測。

技術領域

本發明涉及電路板檢測技術領域，尤其涉及一種自動線寬線距測量機。

背景技術

現有技術通過定期的手動校正來實現消除因光源衰減造成的測量誤差。目前，所述光源通常為鹵素燈，但由于其使用壽命有限，且在使用過程中照度會持續衰減，進而導致到達測試鏡頭的光量變弱而最終導致測試準確性變差。

另一種典型的如CN203454970U的現有技術公開的一種線寬測量機，由于每種型號的TFT液晶顯示器均需要單獨制備特殊的SEM標準片或者標準掩膜版，因此，程序繁瑣且實現較困難；線寬測量機的光源使用壽命一般在2000小時左右，由于其衰減并非是等量衰減，故在2000小時內需多次校準，不但費時費力，測量結果可控性也較差；校準工作為全手動方法進行，無法避免人為的誤差。

同時經過本研發團隊大量檢索發現存在的現有技術如KR101654364B1、EP2482996B1和US08721396B1，視覺測距是基于圖像處理技術而產生的一種識別方式。同一般的視覺測距不同，視覺測距的難度很高。導線有可能出現灰塵和銹蝕等現象，不同線路的導線外觀并不完全一樣，而且導線上不具有面積足夠大的紋理，難以進行常規視覺測距，且檢測的精度差，無法自動識別；存在較大的干擾性。

為了解決本領域普遍存在自動化程度低費時費力、校準精度差、無法自動識別、存在較大的干擾、無法調整檢測精度和無法對衰減的參數進行補正等等問題，作出了本發明。

發明內容

本發明的目的在于，針對目前電路板線路測距所存在的不足，提出了一種自動線寬線距測量機。

為了克服現有技術的不足，本發明采用如下技術方案：

一種自動線寬線距測量機，所述線寬線距測量機包括檢測裝置、運輸裝置、校準裝置、抵靠裝置、采集裝置、轉動裝置、調整裝置和處理器，所述檢測裝置被構造為對電路板的參數進行檢測；所述運輸裝置被構造為對待檢測的電路板進行運輸；所述校準裝置被構造為對電路板的各個位置進行校準，并配合所述檢測裝置對所述電路板進行檢測；所述抵靠裝置被構造為對所述校準裝置的位置進行調整；所述采集裝置被構造為基于所述檢測裝置與所述校準裝置的數據進行采集；所述轉動裝置被構造為對所述電路板的角度進行調整；所述調整裝置被構造為對所述檢測裝置的位置進行調整。

可選的，所述檢測裝置包括檢測機構、采集機構和調整構件，所述采集機構被構造為對所述檢測機構的數據進行采集；所述檢測機構被構造為對所述電路板的數據進行檢測；所述調整構件被構造為對所述檢測機構的聚焦數據進行調整；所述檢測機構包括檢測容腔、限位軌道、聚焦驅動機構和檢測探頭，所述限位軌道被構造為沿著所述檢測容腔的長度方向延伸；所述聚焦驅動機構被構造為對所述檢測探頭驅動連接，所述檢測探頭的外壁與所述限位軌道滑動卡接，并在所述聚焦驅動機構的驅動下沿著所述限位軌道滑動；檢測探頭和所述聚焦驅動機構均設置在所述檢測容腔中。