[發明專利]型材缺陷檢測方法、裝置、電子設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202110011670.3
• 申請日: 2021-01-06
• 公開（公告）號: CN114720499A
• 公開（公告）日: 2022-07-08
• 發明（設計）人: 姜海濤;邢輝;張佼;陸樹生
• 申請（專利權）人: 上海交通大學;昆山晶微新材料研究院有限公司
• 主分類號: G01N23/2251
• 分類號: G01N23/2251;G01N23/2055;G01N23/203;G01N23/20058;G01N23/04
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 鐘揚飛

本申請涉及一種型材缺陷檢測方法、裝置、電子設備和存儲介質，本申請的型材缺陷檢測方法包括：獲取具有缺陷的型材微觀組織圖；根據所述具有缺陷的型材微觀組織圖，分析得到缺陷檢測結果；根據所述缺陷檢測結果，確定項目檢測順序；根據所述項目檢測順序，進行所述型材的缺陷成因判斷流程。故本申請能夠改善型材缺陷檢測方法，改良型材制造工藝，從而提高了型材質量。

技術領域

本申請涉及金屬制造的技術領域，具體而言，涉及一種型材缺陷檢測方法、裝置、電子設備和存儲介質。

背景技術

型材(extrudate)是鐵或鋼以及具有一定強度和韌性的材料(如塑料、鋁、玻璃纖維等)通過軋制、擠出、鑄造等工藝制成的具有一定幾何形狀的物體。其中，在型材制造過程中的每一個環節所得的產物，即中間產物或者最終產物均可以叫做型材。

隨著型材結構的發展，對于型材的質量要求越來越高，例如：對于鋁合金型材的晶粒細化要求和晶粒均質化要求越來越高，因此對于鋁合金型材的缺陷率要求也越來越高。

但是傳統的型材制造方法在型材產生缺陷后無法得知缺陷的成因，也無法改良型材制造工藝，從而影響了型材質量的提高。

發明內容

本申請的目的是提供一種型材缺陷檢測方法、裝置、電子設備和存儲介質，其能夠改善型材缺陷檢測方法，改良型材制造工藝，從而提高了型材質量。

為了實現上述目的，

第一方面，本發明提供一種型材缺陷檢測方法，包括：

獲取具有缺陷的型材微觀組織圖；

根據所述具有缺陷的型材微觀組織圖，分析得到缺陷檢測結果；

根據所述缺陷檢測結果，確定項目檢測順序；

根據所述項目檢測順序，進行所述型材的缺陷成因判斷流程。

于一實施例中，所述根據所述具有缺陷的型材微觀組織圖，分析得到缺陷檢測結果，包括：

將所述具有缺陷的型材微觀組織圖輸入第一預設模型；

利用所述第一預設模型，對所述具有缺陷的型材微觀組織圖進行圖像與缺陷的相關性分析；

根據所述圖像與缺陷的相關性分析結果，得到所述缺陷檢測結果。

于一實施例中，所述缺陷檢測結果包括：晶粒差異和第二相差異。

于一實施例中，所述根據所述缺陷檢測結果，確定項目檢測順序，包括：

將所述缺陷檢測結果輸入第二預設模型；

利用所述第二預設模型，對所述缺陷檢測結果進行缺陷與待測項目的相關性分析；

根據所述缺陷與待測項目的相關性分析結果，確定所述項目檢測順序。

于一實施例中，根據所述項目檢測順序，進行所述型材的缺陷成因判斷流程，包括：

根據所述項目檢測順序，進行初始項目檢測；

判斷所述缺陷是否與所述初始項目相關；

若所述缺陷與所述初始項目無關，則根據所述項目檢測順序，進行下一待測項目的檢測；

若所述缺陷與所述初始項目有關，則調整所述初始項目的相關參數；

根據所述調整的相關參數，對所述初始項目進行重新檢測；

判斷所述初始項目的缺陷成因是否消除；

若所述初始項目的缺陷成因沒有消除，則繼續調整所述初始項目的相關參數；