[發(fā)明專利]光控觸控集成電路及顯示器

有效

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• 申請日: 2021-01-06
• 公開（公告）號: CN112650416B
• 公開（公告）日: 2022-09-27
• 發(fā)明（設計）人: 陸志濤;吳思嘉
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 遠明

本發(fā)明提供一種光控觸控集成電路及顯示器，光控觸控集成電路包括光控觸控集成電路，包括并聯設置的光控檢測電路以及觸控檢測電路；其中，光控檢測電路設有一儲存電容，儲存電容在被激光照射時與光控檢測電路上的電阻形成電阻電容延遲，光控檢測電路的輸出信號電壓增高；觸控檢測電路在被觸控時，手指與觸控檢測電路形成觸控電容，觸控電容與觸控檢測電路上的電阻形成電阻電容延遲，觸控檢測電路的輸出信號電壓增高。本發(fā)明實現了光控檢測電路與觸控檢測電路的集成，而且可多點觸控、避免了過多的面內走線，且自電容觸控的感測精度高，無鬼點問題，且走線簡單，易集成，讀取方式易實現，同時具有光控及觸控功能。

技術領域

本申請涉及顯示技術領域，尤其涉及一種光控觸控集成電路及顯示器。

背景技術

顯示面板集成觸控感應性能可帶來更多樣、更便捷的用戶體驗，其中如今市場主要是投射式電容觸控屏，其中分為自電容和互電容觸控屏。

圖1為自電容觸控屏的觸控技術原理示意圖。圖2為互電容觸控屏的觸控技術原理示意圖。自電容的觸控精度比互電容高。最常用的被動式自電容觸控屏采用以下兩種觸控信號讀取方式。

如圖3所示，圖3為自電容觸控屏的讀取方式1的結構示意圖，其中分別橫向、縱向讀取觸控信號，確定觸控點的橫、縱坐標。但是當有多點觸控時(以圖3中兩點為例)，會讀出兩個橫坐標X2、X3和兩個縱坐標Y2、Y3，因而會識別出4個點，其中(X3,Y2)和(X2,Y3)為沒有觸控事件的鬼點；

如圖4所示，圖4為自電容觸控屏的讀取方式2的結構示意圖，其中將每個觸控單元的信號都單獨拉線引出，這樣感測精度高，不會有鬼點問題。但是，這種方法走線很多，特別是對于大尺寸的屏幕，其集成方法與信號讀取的難度都十分大。

因此，盡管就自電容觸控的精度高且可以濕手操作，但讀取方式1中存在鬼點導致的不能多點觸控。讀取方式2中面內要拉眾多的走線，嚴重制約了自電容觸控技術的進一步發(fā)展和應用。

此外，觸控技術存在無法遠程交互的問題。通過攝像頭進行動作捕捉分析可以實現遠程交互，然而其識別的精準度較低，會造成響應不靈敏、誤操作等嚴重影響用戶體驗的現象。通過集成感光傳感器到顯示面板中，以激光為操控源是一種可以實現精確遠程的交互技術。其中，主要的集成策略時外掛式感光傳感器面板和面內(in-cell)式感光傳感顯示面板。但是，集成感光傳感器僅具有感光交互功能，無法實現觸控功能。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的在于，提供一種光控觸控集成電路及顯示器以解決現有技術存在觸控技術存在無法遠程交互的問題以及集成感光傳感器僅具有感光交互功能，無法實現觸控功能的技術問題。

為實現上述目的，本發(fā)明提供一種光控觸控集成電路，包括并聯設置的光控檢測電路以及觸控檢測電路；其中，所述光控檢測電路設有一儲存電容，所述儲存電容在被激光照射時與所述光控檢測電路上的電阻形成電阻電容延遲，所述光控檢測電路的輸出信號電壓增高；所述觸控檢測電路在被觸控時，手指與所述觸控檢測電路形成觸控電容，所述觸控電容與所述觸控檢測電路上的電阻形成電阻電容延遲，所述觸控檢測電路的輸出信號電壓增高。

進一步地，所述光控觸控集成電路還包括信號檢測電路；所述信號檢測電路的輸入端分別與所述光控檢測電路的輸出端和所述觸控檢測電路的輸出端連接，用于檢測所述光控檢測電路的輸出信號電壓及所述觸控檢測電路的輸出信號電壓。

進一步地，所述光控檢測電路包括：第一光控晶體管，所述第一光控晶體管的柵極與所述儲存電容的一端連接并輸入一光控柵極電源電壓，所述第一光控晶體管的源極輸入第一控制信號，所述第一光控晶體管的漏極與所述儲存電容的另一端連接；以及第二光控晶體管，所述第二光控晶體管的柵極與所述第一光控晶體管的漏極連接，所述第二光控晶體管的源極輸入第一放大信號，所述第二光控晶體管的漏極作為所述光控檢測電路的輸出端。