[發明專利]光控觸控集成電路及顯示器

有效

• 申請號: 202110010820.9
• 申請日: 2021-01-06
• 公開（公告）號: CN112650416B
• 公開（公告）日: 2022-09-27
• 發明（設計）人: 陸志濤;吳思嘉
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 遠明

1.一種光控觸控集成電路，其特征在于，包括并聯設置的光控檢測電路以及觸控檢測電路；

其中，所述光控檢測電路設有一儲存電容，所述儲存電容在被激光照射時與所述光控檢測電路上的電阻形成電阻電容延遲，所述光控檢測電路的輸出信號電壓增高；

所述觸控檢測電路在被觸控時，手指與所述觸控檢測電路形成觸控電容，所述觸控電容與所述觸控檢測電路上的電阻形成電阻電容延遲，所述觸控檢測電路的輸出信號電壓增高；

所述光控檢測電路包括：

第一光控晶體管，所述第一光控晶體管的柵極與所述儲存電容的一端連接并輸入一光控柵極電源電壓，所述第一光控晶體管的源極輸入第一控制信號，所述第一光控晶體管的漏極與所述儲存電容的另一端連接；以及

第二光控晶體管，所述第二光控晶體管的柵極與所述第一光控晶體管的漏極連接，所述第二光控晶體管的源極輸入第一放大信號，所述第二光控晶體管的漏極作為所述光控檢測電路的輸出端。

2.如權利要求1所述的光控觸控集成電路，其特征在于，還包括信號檢測電路；

所述信號檢測電路的輸入端分別與所述光控檢測電路的輸出端和所述觸控檢測電路的輸出端連接，用于檢測所述光控檢測電路的輸出信號電壓及所述觸控檢測電路的輸出信號電壓。

3.如權利要求1所述的光控觸控集成電路，其特征在于，所述光控檢測電路還包括：

第一復位晶體管，所述第一復位晶體管的柵極輸入第一復位信號，所述第一復位晶體管的源極接地，所述第一復位晶體管的漏極連接所述第一光控晶體管的漏極。

4.如權利要求1所述的光控觸控集成電路，其特征在于，所述觸控檢測電路包括：

第一觸控晶體管，所述第一觸控晶體管的柵極輸入一觸控柵極電源電壓，所述第一觸控晶體管的源極輸入第二控制信號，所述第一觸控晶體管的漏極用于與所述手指形成感應電容；以及

第二觸控晶體管，所述第二觸控晶體管的柵極與所述第一觸控晶體管的漏極連接，所述第二觸控晶體管的源極輸入第二放大信號，所述第二觸控晶體管的漏極作為所述觸控檢測電路的輸出端。

5.如權利要求4所述的光控觸控集成電路，其特征在于，所述觸控檢測電路還包括：

第二復位晶體管，所述第二復位晶體管的柵極輸入第二復位信號，所述第二復位晶體管的源極接地，所述第二復位晶體管的漏極連接所述第一觸控晶體管的漏極。

6.如權利要求1所述的光控觸控集成電路，其特征在于，還包括開關控制電路；

所述開關控制電路的輸入端分別與所述光控檢測電路的輸出端和所述觸控檢測電路的輸出端連接。

7.如權利要求6所述的光控觸控集成電路，其特征在于，所述開關控制電路包括：

開關晶體管，所述開關晶體管的柵極輸入開關信號，所述開關晶體管的源極與所述光控檢測電路的輸出端和所述觸控檢測電路的輸出端連接，所述開關晶體管的漏極用于輸出所述光控檢測電路的輸出信號電壓及所述觸控檢測電路的輸出信號電壓。

8.如權利要求7所述的光控觸控集成電路，其特征在于，所述開關控制電路還包括：

第三復位晶體管，所述第三復位晶體管的柵極輸入第三復位信號，所述第三復位晶體管的源極接地，所述第三復位晶體管的漏極連接所述開關晶體管的漏極。

9.一種顯示器，包括如權利要求1-8中任一項所述的光控觸控集成電路。