[發(fā)明專利]一種抗混疊旋轉(zhuǎn)錯(cuò)位陣列天線有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110003955.2 | 申請(qǐng)日： | 2021-01-04 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN112768955B | 公開（公告）日： | 2022-12-13 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 欒英宏;呂利清;李秀偉;孫彥龍;劉瑞;馮劍鋒;李寧杰;李丹;陳雄 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 上海航天測(cè)控通信研究所 |
| 主分類號(hào)： | H01Q21/00 | 分類號(hào)： | H01Q21/00;H01Q21/08 |
| 代理公司： | 上海漢聲知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 201109 *** | 國(guó)省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說(shuō)明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 抗混疊 旋轉(zhuǎn) 錯(cuò)位 陣列 天線 | ||
1.一種抗混疊旋轉(zhuǎn)錯(cuò)位陣列天線，其特征在于，基于確定抗混疊旋轉(zhuǎn)錯(cuò)位陣列天線空間位置的坐標(biāo)系，所述抗混疊旋轉(zhuǎn)錯(cuò)位陣列天線呈梅花形采樣分布，其包括：第一子陣列天線、第二子陣列天線、第三子陣列天線和第四子陣列天線；
所述第一子陣列天線包括等間隔Δu呈直線設(shè)置的N個(gè)天線單元；
所述第二子陣列天線包括等間隔Δu呈直線設(shè)置的N-1個(gè)天線單元；
所述第三子陣列天線包括等間隔Δu呈直線設(shè)置的N-1個(gè)天線單元；
所述第四子陣列天線包括等間隔Δu呈直線設(shè)置的N-1個(gè)天線單元；
其中，所述第一子陣列天線、所述第二子陣列天線和所述第三子陣列天線呈U型布局，并且所述第二子陣列天線與所述第三子陣列天線平行，所述第一子陣列天線分別垂直于所述第二子陣列天線、所述第三子陣列天線，所述第一子陣列天線分別與所述坐標(biāo)系的x軸正方向呈45°、所述坐標(biāo)系的y軸正方向呈45°設(shè)置；
所述第四子陣列天線與所述第一子陣列天線平行，所述第四子陣列天線兩端的天線單元分別距離所述第二子陣列天線遠(yuǎn)離所述第一子陣列天線的一端的天線單元、所述第三子陣列天線遠(yuǎn)離所述第一子陣列天線的一端的天線單元的間隔均為
其中，所述第二子陣列天線和所述第三子陣列天線靠近所述第一子陣列兩端的天線單元，與所述第一子陣列兩端的天線單元間隔為Δu；
其中，所述梅花形采樣的可見度函數(shù)的總樣本點(diǎn)數(shù)NV公式如下，Nv＝8N2+8N+1；
其中，所述抗混疊旋轉(zhuǎn)錯(cuò)位陣列天線的采樣?xùn)鸥耖g距為可見度函數(shù)的采樣平面最小單元面積為
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