[發明專利]用于預測開關器件壽命的方法、裝置和存儲介質

有效

• 申請號: 202110003417.3
• 申請日: 2021-01-04
• 公開（公告）號: CN112733356B
• 公開（公告）日: 2023-04-14
• 發明（設計）人: 楊培盛;侯飛;李華;王夢謙;董先鵬;張金城;初開麒;劉強;李鴻飛;曹虎;李政達
• 申請（專利權）人: 中車青島四方車輛研究所有限公司;濟南軌道交通集團有限公司
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;G06F119/02
• 代理公司: 青島清泰聯信知識產權代理有限公司 37256
• 代理人: 張媛媛

1.一種用于預測開關器件壽命的方法，其特征在于，包括：

獲取所述開關器件的機械壽命參數；獲取所述開關器件的機械壽命參數，包括：

獲取所述開關器件的已動作次數和所述開關器件的額定動作次數；獲取所述開關器件的已動作次數，包括：通過監測所述開關器件的反饋觸點，獲取所述已動作次數；通過所述已動作次數和所述額定動作次數，計算得到所述機械壽命參數；通過以下公式得到所述機械壽命參數：

其中，為所述已動作次數，為所述額定動作次數；

獲取所述開關器件的電壽命參數；獲取所述開關器件的電壽命參數，包括：

獲取所述開關器件在分斷電流下的已開關次數，和所述開關器件在分斷電流下的可開關次數；獲取所述可開關次數，包括：獲取至少一個所述開關器件失效前在測試電流下的開關次數，計算至少一個所述開關次數的平均值，所述平均值為所述可開關次數，其中，測試電流值為所述開關器件能夠分斷的最小電流值至最大電流值之間的任一電流值；通過所述已開關次數和所述可開關次數，計算得到所述電壽命參數；通過以下公式得到所述電壽命參數：

其中，為所述已開關次數，為所述可開關次數；

根據所述機械壽命參數和所述電壽命參數，確定所述開關器件的預測壽命；確定所述開關器件的預測壽命，包括：獲取所述機械壽命參數和所述電壽命參數中的較小值，所述較小值為所述預測壽命。

2.一種用于預測開關器件壽命的裝置，其特征在于，包括機械壽命模塊、電壽命模塊和預測壽命模塊；

機械壽命模塊，用于獲取所述開關器件的機械壽命參數；獲取所述開關器件的機械壽命參數，包括：

獲取所述開關器件的已動作次數和所述開關器件的額定動作次數；獲取所述開關器件的已動作次數，包括：通過監測所述開關器件的反饋觸點，獲取所述已動作次數；通過所述已動作次數和所述額定動作次數，計算得到所述機械壽命參數；通過以下公式得到所述機械壽命參數：

其中，為所述已動作次數，為所述額定動作次數；

電壽命模塊，用于獲取所述開關器件的電壽命參數；獲取所述開關器件的電壽命參數，包括：

獲取所述開關器件在分斷電流下的已開關次數，和所述開關器件在分斷電流下的可開關次數；獲取所述可開關次數，包括：獲取至少一個所述開關器件失效前在測試電流下的開關次數，計算至少一個所述開關次數的平均值，所述平均值為所述可開關次數，其中，測試電流值為所述開關器件能夠分斷的最小電流值至最大電流值之間的任一電流值；通過所述已開關次數和所述可開關次數，計算得到所述電壽命參數；通過以下公式得到所述電壽命參數：

其中，為所述已開關次數，為所述可開關次數；

預測壽命模塊，用于根據所述機械壽命參數和所述電壽命參數，確定所述開關器件的預測壽命；確定所述開關器件的預測壽命，包括：獲取所述機械壽命參數和所述電壽命參數中的較小值，所述較小值為所述預測壽命。

3.一種存儲介質，其特征在于，所述存儲介質存儲有計算機程序，所述計算機程序包括程序指令，所述程序指令當被處理器執行時使所述處理器執行如權利要求1所述的用于預測開關器件壽命的方法。