[發明專利]觸發式采樣系統和方法

在審

• 申請號: 202080059008.9
• 申請日: 2020-08-25
• 公開（公告）號: CN114270165A
• 公開（公告）日: 2022-04-01
• 發明（設計）人: D·羅迪耶;B·諾倫伯格;I·桑切斯
• 申請（專利權）人: 粒子監測系統有限公司
• 主分類號: G01N1/22
• 分類號: G01N1/22;G01N1/02;G01N15/00
• 代理公司: 北京匯知杰知識產權代理有限公司 11587
• 代理人: 楊巍;柴春玲

1.一種監測系統，其包括：

實時分析儀，用于監測流體中的一種或多種分析物；

采樣器，包括沖擊采樣器、撞擊采樣器、過濾器或吸附管；以及

流動系統，其可操作地連接到所述實時分析儀和所述采樣器；

其中，所述流動系統配置為使得在通過所述實時分析儀檢測到所述流體中的所述一種或多種分析物時，所述流動系統將流體引導至所述采樣器以進行采樣。

2.如權利要求1所述的系統，其中，所述流動系統配置為使得所述采樣器在檢測到滿足一種或多種實時分析儀分析物檢測標準的所述一種或多種分析物之時或之后對所述流體進行采樣，所述一種或多種實時分析儀分析物檢測標準選自由以下組成的組：

分析物的閾值濃度；

分析物的閾值量；

分析物的檢出閾值頻率；

每單位時間內分析物計數的閾值數；以及

分析物的組成。

3.如權利要求2所述的系統，其中，在檢測到滿足所述一種或多種實時分析儀分析物檢測標準的所述一種或多種分析物之時，向所述流動系統提供觸發信號，所述觸發信號觸發所述流動系統將所述流體引導至所述采樣器以進行采樣。

4.如權利要求1-3中任一項所述的系統，其中所述采樣器至少在所述實時分析儀檢測到所述一種或多種分析物的時間里對所述流體進行采樣，和/或其中所述采樣器在檢測到所述一種或多種分析物后的預定時間里對所述流體進行采樣。

5.如權利要求1-4中任一項所述的系統，其中，除了在檢測事件期間或檢測事件之后的選定時間段里，所述采樣器是與所述流體隔離的，其中所述檢測事件的起始設置由所述實時分析儀檢測到所述流體中的所述一種或多種分析物觸發。

6.如權利要求1-5中任一項所述的系統，其中，所述實時分析儀包括以下一項或多項：

離子遷移分析儀；

質譜分析儀；

傅里葉變換紅外光譜分析儀；

光聲分析儀；

火焰電離分析儀；

光電離分析儀；

電化學分析儀；以及

腔衰蕩分析儀。

7.如權利要求1-6中任一項所述的系統，其中，所述實時分析儀包括分離組件。

8.如權利要求7所述的系統，其中，所述分離組件包括氣相色譜分離組件或液相色譜分離組件。

9.如權利要求1-8中任一項所述的系統，其中，所述實時分析儀包括離子遷移譜儀。

10.如權利要求9所述的系統，其中，所述離子遷移譜儀包括：

進口，用于將所述污染物引入到所述譜儀的電離區；

所述電離區設置為與所述進口流體連通并且具有用于從所述一種或多種分析物產生分析物離子的電離源；

分離區，其與所述電離區流體連通，用于根據離子遷移率接收和分離所述分析物離子；以及

檢測器，其位于與所述分離區的流體連通的位置，用于接收和檢測根據離子遷移率分離的所述分析物離子。

11.如權利要求10所述的系統，所述系統還包括與所述電離區流體連通的摻雜劑源，用于向所述分析儀提供摻雜劑。

12.如權利要求10-11中任一項所述的系統，其中，所述進口是膜，所述膜用于去除所述流體中可能干擾所述一種或多種分析物的所述檢測的化合物或者降低所述流體中可能干擾所述一種或多種分析物的所述檢測的化合物的濃度。

13.如權利要求10-12中任一項所述的系統，所述系統還包括設置在所述電離區和所述分離區之間的離子門或離子網，用于將所述分析物離子引入所述分離區。

14.如權利要求1-8中任一項所述的系統，其中，所述實時分析儀包括光學粒子計數器。