[發明專利]用于DAX成像的全視場散射估計

有效

• 申請號: 202080014912.8
• 申請日: 2020-11-25
• 公開（公告）號: CN113453623B
• 公開（公告）日: 2022-08-09
• 發明（設計）人: S·P·普雷弗爾哈爾;T·克勒;K·J·恩格爾
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 劉兆君

一種被配置用于相襯成像和/或暗場成像的X射線成像系統(XI)。所述系統包括：X射線源(XS)，其能操作用于使X輻射從所述源(XS)的焦斑(SF)發出；以及X射線敏感探測器(D)，其能操作用于：如果在所述X射線源與所述探測器(D)之間存在要被成像的對象，則在所述X輻射與所述對象發生相互作用之后探測所述X輻射。控制邏輯單元(CL)能操作用于使所述X射線成像裝置在兩種模式中的任意一種模式中操作，所述兩種模式是對象圖像采集模式和散射測量模式。當在散射測量模式中時在所述探測器處能接收到的所述X輻射與當所述系統在對象圖像采集模式中時能接收到的X輻射相比包括更高比例的散射輻射。

技術領域

本發明涉及被配置用于相襯成像和/或暗場成像的X射線成像系統、操作X射線成像裝置的方法、計算機程序單元以及計算機可讀介質。

背景技術

暗場(“DAX”)成像已經引起了人們的興趣，尤其是在醫學領域。暗場成像是一種X射線成像。暗場成像中的對比度涉及X輻射經歷的小角度散射的量。

A.Yaroshenko等人在“Pulmonary Emphysema Diagnosis with aPreclinicalSmall-Animal X-ray Dark-Field Scatter-Contrast Scanner”(放射學，第269卷，第2期，2013年11月)中已經報告了利用小鼠進行的實驗性暗場成像。也已經發現相襯能夠增加額外的有用見解，特別是在對軟組織進行成像時。

已經過度使用了暗場成像，有時暗場圖像或相襯圖像會被偽影破壞。

發明內容

因此，可能需要替代的系統或方法來改善暗場成像或相襯成像。

本發明的目的通過獨立權利要求的主題來解決，其中，進一步的實施方案包含在從屬權利要求中。應當注意，本發明的以下描述的方面等同地適用于操作X射線成像裝置的方法、計算機程序單元以及計算機可讀介質。

根據本發明的第一方面，提供了一種被配置用于相襯成像和/或暗場成像的X射線成像系統，包括：

X射線源，其能操作用于使X輻射從所述源的焦斑發出；

X射線敏感探測器，其能操作用于：如果在所述X射線源與所述探測器之間存在要被成像的對象，則在所述X輻射與所述對象發生相互作用之后探測所述X輻射；

控制邏輯單元，其能操作用于使所述X射線成像裝置在兩種模式中的任意一種模式中操作，所述兩種模式是對象圖像采集模式和散射測量模式，其中，當在散射測量模式中時在所述探測器處能接收到的所述X輻射與當所述系統在對象圖像采集模式中時能接收到的X輻射相比包括更高比例的散射輻射；以及

散射校正器，其能操作用于基于所測量的散射數據來減少或者促進減少或者防止能根據在圖像采集模式中采集的數據生成的對象圖像中的散射偽影。

該系統提高了DAX圖像和/或相襯圖像的質量。

在一個實施例中，所述系統包括被布置在所述X射線源與所述探測器之間的散射測量促進器，所述散射測量促進器的至少一個或多個部分能夠阻擋X輻射，當所述系統在散射測量模式中時，所述控制邏輯單元使所述散射測量促進器的姿態相對于當所述系統在對象圖像采集模式中時所述散射測量促進器的姿態發生變化，使得所述至少一個或多個部分阻擋所述X輻射中的至少一些X輻射。優選地，主要是或僅，次級輻射到達探測器。

在一個實施例中，所述散射測量促進器包括以下各項中的任意一項或多項：i)抗散射網格，ii)干涉儀的至少部分，iii)編碼孔徑板。

在一個實施例中，所述X輻射的方向能通過源接口發生改變，其中，當所述系統在對象圖像采集模式中時，所述控制邏輯單元通過所述接口使X輻射沿著第一方向發出，而當所述系統在散射測量模式中時，所述控制邏輯單元通過所述接口使所述X輻射沿著不同于所述第一方向的第二方向發出。