[發明專利]減少了背景和峰重疊的用于自頂向下分析的獲取策略

在審

• 申請號: 202080008223.6
• 申請日: 2020-01-31
• 公開（公告）號: CN113287186A
• 公開（公告）日: 2021-08-20
• 發明（設計）人: P·魯米恩;馬場崇;N·G·布洛姆菲爾德
• 申請（專利權）人: DH科技發展私人貿易有限公司
• 主分類號: H01J49/00
• 分類號: H01J49/00
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 馬景輝

電子倍增檢測器和圖像電荷檢測器的強度測量與電荷狀態成比例。這些強度用于將檢測到的離子分離到不同的數據集中，并根據所述不同的數據集創建質譜。離子測量通過使用(i)單個電子倍增檢測器、(ii)單個圖像電荷檢測器或(iii)多個電子倍增ADC檢測器基于電荷狀態來分離。使用(i)，將從每個測量脈沖計算的峰的強度與預定的強度范圍進行比較，并且將每個峰存儲在相應的數據集中。使用(ii)，將每個測量的瞬態時域信號轉換為頻域峰，將每個頻域峰的強度與預定的強度范圍進行比較，并且將每個峰存儲在相應的數據集中。使用(iii)，每個檢測器被配置為測量預定的強度范圍，并將根據測量的脈沖計算出的峰存儲在相應的數據集中。

相關申請

本申請要求于2019年1月31日提交的美國臨時專利申請序列號62/799,600的利益，其內容通過引用全部并入本公開。

背景技術

本公開的教導涉及基于離子的電荷狀態將被測離子分離成兩個或更多個質譜的質譜系統和方法。更具體地說，利用電荷狀態分離離子測量，(i)基于由單個電子倍增檢測器測量的離子脈沖的強度，(ii)基于從由圖像電荷檢測器測量的瞬態時域信號轉換的頻域峰的強度，或(iii)通過使用兩個或更多個測量不同強度范圍的電子倍增模數轉換(ADC)檢測器。

本公開公開的系統和方法也與處理器、控制器、微控制器或計算機系統(例如圖1的計算機系統)一起執行。

峰重疊問題

例如，在自頂向下質譜(MS)蛋白質分析中，質譜中質量或質量-電荷(m/z)峰的重疊是一個重要問題。在這種類型的分析中，會產生非常廣泛的不同片段或產物離子，包括長度為1-200個氨基酸且具有1-50個不同電荷狀態的產物離子。產物離子峰在單個譜中嚴重重疊。此外，重疊可能如此廣泛，以至于即使是具有最高質量分辨率的質譜儀(傅里葉變換離子回旋共振(FT-ICR)或靜電場軌道阱(orbitrap))也無法對此類重疊峰進行去卷積。因此，自頂向下的蛋白質分析往往會丟失大的產物離子，限制了大蛋白質的序列覆蓋。

圖2是示出自頂向下MS蛋白質分析中產生的片段的示例圖200。在圖2中，完整的蛋白質210使用串聯質譜220進行片段化。結果，產生蛋白質片段或肽的產物離子230。產生產物離子230的質譜。

圖3是一個示例圖300，顯示了自頂向下質譜蛋白質分析的產物離子譜，該質譜由串聯質譜儀使用30000的m/z分辨率進行測量。圖300顯示幾乎每個產物離子峰都有一些重疊。

圖4是一個示例圖400，顯示了圖3中所示的相同產物離子的產物離子譜，但通過串聯質譜儀使用70000的m/z分辨率進行測量。圖400與圖3的圖300相比表明，產物離子峰的一些重疊減少了。

圖5是一個示例圖500，顯示了圖3和圖4中所示的相同產物離子的產物離子譜，但通過串聯質譜儀使用240000的m/z分辨率進行測量。圖500與圖4的圖400相比，顯示了產物離子峰之間的重疊更少。然而，即使在240000的m/z分辨率下，重疊仍然很明顯。圖3-5顯示，重疊可能非常廣泛，單靠分辨率是無法修復的。