[發(fā)明專利]減少了背景和峰重疊的用于自頂向下分析的獲取策略

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202080008223.6
• 申請(qǐng)日: 2020-01-31
• 公開（公告）號(hào): CN113287186A
• 公開（公告）日: 2021-08-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: P·魯米恩;馬場崇;N·G·布洛姆菲爾德
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: DH科技發(fā)展私人貿(mào)易有限公司
• 主分類號(hào): H01J49/00
• 分類號(hào): H01J49/00
• 代理公司: 中國貿(mào)促會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 11038
• 代理人: 馬景輝

1.一種用于使用單個(gè)電子倍增模數(shù)轉(zhuǎn)換(ADC)檢測器基于電荷狀態(tài)將由質(zhì)量分析器測量的離子分離成兩個(gè)或更多個(gè)質(zhì)譜的系統(tǒng)，包括：

質(zhì)譜儀，包括質(zhì)量分析器，其中所述質(zhì)量分析器包括電子倍增ADC檢測器，所述電子倍增ADC檢測器為被檢測離子產(chǎn)生檢測脈沖，所述檢測脈沖的強(qiáng)度與離子電荷狀態(tài)成比例；和

處理器，所述處理器

指示所述質(zhì)量分析器檢測所述質(zhì)譜儀傳輸?shù)剿鲑|(zhì)量分析器的多個(gè)離子中撞擊ADC檢測器的每個(gè)離子的脈沖，

使用峰查找為檢測到的每個(gè)脈沖計(jì)算峰，

計(jì)算每個(gè)峰的強(qiáng)度，

將每個(gè)峰的強(qiáng)度與對(duì)應(yīng)于兩個(gè)或更多個(gè)不同電荷狀態(tài)范圍的兩個(gè)或更多個(gè)不同預(yù)定強(qiáng)度范圍進(jìn)行比較，并基于比較將每個(gè)峰存儲(chǔ)在對(duì)應(yīng)于所述兩個(gè)或更多個(gè)預(yù)定強(qiáng)度范圍的兩個(gè)或更多個(gè)數(shù)據(jù)集之一中，以及

通過組合所述兩個(gè)或更多個(gè)數(shù)據(jù)集中的每個(gè)數(shù)據(jù)集中的峰為兩個(gè)或更多個(gè)數(shù)據(jù)集中的每個(gè)數(shù)據(jù)集創(chuàng)建質(zhì)譜，基于電荷狀態(tài)為質(zhì)量分析器檢測到的離子生成兩個(gè)或更多個(gè)質(zhì)譜。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述處理器還計(jì)算每個(gè)峰的到達(dá)時(shí)間，并且其中每個(gè)峰的強(qiáng)度和每個(gè)峰的到達(dá)時(shí)間形成每個(gè)峰的強(qiáng)度和到達(dá)時(shí)間對(duì)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)，其中組合所述兩個(gè)或更多個(gè)數(shù)據(jù)集中的每個(gè)數(shù)據(jù)集中的峰包括：將每個(gè)數(shù)據(jù)中的峰的強(qiáng)度和到達(dá)時(shí)間對(duì)組合成直方圖，以及根據(jù)所述直方圖創(chuàng)建所述質(zhì)譜。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述處理器還將每個(gè)峰存儲(chǔ)在所述兩個(gè)或更多個(gè)數(shù)據(jù)集中的一個(gè)或多個(gè)其他數(shù)據(jù)集中。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述兩個(gè)或更多個(gè)不同的預(yù)定強(qiáng)度范圍包括至少兩個(gè)重疊的范圍。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其中所述處理器還組合對(duì)應(yīng)于所述至少兩個(gè)范圍的數(shù)據(jù)集，以產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于一個(gè)或多個(gè)非重疊強(qiáng)度范圍的一個(gè)或多個(gè)數(shù)據(jù)集。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述處理器將每個(gè)峰的強(qiáng)度與對(duì)應(yīng)于兩個(gè)或更多個(gè)不同電荷狀態(tài)范圍的兩個(gè)或更多個(gè)不同的預(yù)定強(qiáng)度范圍進(jìn)行比較，并在采集期間將每個(gè)峰存儲(chǔ)在兩個(gè)或更多個(gè)數(shù)據(jù)集之一中。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述處理器將每個(gè)峰的強(qiáng)度與對(duì)應(yīng)于兩個(gè)或更多個(gè)不同電荷狀態(tài)范圍的兩個(gè)或更多個(gè)不同的預(yù)定強(qiáng)度范圍進(jìn)行比較，并且在采集之后將每個(gè)峰存儲(chǔ)在兩個(gè)或更多個(gè)數(shù)據(jù)集之一中。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述質(zhì)譜儀將離子傳輸至所述質(zhì)量分析器，使得所述ADC檢測器在任何給定時(shí)間僅接收單個(gè)離子撞擊。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，還包括離子源裝置，其中所述質(zhì)譜儀還包括解離裝置，并且其中所述處理器還通過以下方式提供自頂向下的蛋白質(zhì)分析：

指示所述離子源裝置將樣品的蛋白質(zhì)離子化，在離子束中產(chǎn)生蛋白質(zhì)的多個(gè)前體離子，以及

指示所述解離裝置解離所述離子束中的所述多個(gè)前體離子，在所述離子束中產(chǎn)生具有不同電荷狀態(tài)的多個(gè)產(chǎn)物離子，以及

指示所述質(zhì)譜儀將所述多個(gè)產(chǎn)物離子傳輸?shù)剿鲑|(zhì)量分析器，使得所述多個(gè)產(chǎn)物離子是由所述質(zhì)譜儀傳輸?shù)剿鲑|(zhì)量分析器的多個(gè)離子。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述ADC檢測器包括多通道數(shù)字化器，并且所述處理器指示所述質(zhì)量分析器從所述多通道數(shù)字化器的每個(gè)數(shù)字化器檢測撞擊所述ADC檢測器的每個(gè)離子的脈沖。

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的系統(tǒng)，其中，所述多通道數(shù)字化器的每個(gè)數(shù)字化器被配置為數(shù)字化位于所述兩個(gè)或更多個(gè)不同的預(yù)定強(qiáng)度范圍中的不同預(yù)定強(qiáng)度范圍內(nèi)的脈沖。