[實用新型]真空檢漏儀

有效

• 申請號: 202023340068.4
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN213748928U
• 公開（公告）日: 2021-07-20
• 發明（設計）人: 丁宇彬;何曉理;朱巨丹
• 申請（專利權）人: 杭州芯欣科技有限公司
• 主分類號: G01M3/02
• 分類號: G01M3/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本申請涉及一種真空檢漏儀，包括控制臺、檢測室、連接管和真空泵，所述檢測室包括真空室和密封蓋，所述密封蓋外壁開設有環槽且所述密封蓋上設有密封圈，所述密封圈包括套設于密封蓋外的密封部嵌設于環槽內的連接部，所述連接部固定連接于密封部，所述密封蓋外套設有調節套，所述調節套朝向密封圈一端呈尖端設置且嵌設于密封部和密封蓋外壁之間，所述調節套能沿密封蓋軸向相對密封部運動；當所述密封蓋蓋設于真空室上時，所述密封圈抵緊于真空室內壁。在多次使用，密封圈被部分磨損后，可相對密封蓋滑動調節套，使密封圈被推向真空室內壁，從而提高了真空室的密封性。進而使真空檢漏儀多次使用后，真空室依舊能保持較好的密封性。

技術領域

本申請涉及儀器儀表的領域，尤其是涉及真空檢漏儀。

背景技術

真空檢漏技術就是用適當的方法判斷真空系統、容器或器件是否漏氣、確定漏孔位置及漏率大小的一門技術，相應的儀器稱為檢漏儀。

具體原理為，將試樣放入到真空室內，并浸沒在水面以下，通過密封蓋密封真空室上端。以壓縮空氣為動力源，通過真空發生裝置使真空室產生真空。此時浸沒在水中的試樣產生內外壓差，通過觀察試樣內氣體外溢的情況，可以判斷試樣的密封性能。具體的，如申請號為CN201720740779.X的實用新型所公開。

針對上述中的相關技術，實用新型人認為存在有多次使用后，真空室保持良好密封性的缺陷。

實用新型內容

為了使多次使用后，真空室依舊能保持較好的密封性，

本申請提供的一種真空檢漏儀，采用如下的技術方案：

一種真空檢漏儀，包括控制臺、檢測室、連接管和真空泵，所述檢測室包括真空室和密封蓋，所述密封蓋外壁開設有環槽且所述密封蓋上設有密封圈，所述密封圈包括套設于密封蓋外的密封部嵌設于環槽內的連接部，所述連接部固定連接于密封部，所述密封蓋外套設有調節套，所述調節套朝向密封圈一端呈尖端設置且嵌設于密封部和密封蓋外壁之間，所述調節套能沿密封蓋軸向相對密封部運動；當所述密封蓋蓋設于真空室上時，所述密封圈抵緊于真空室內壁。

通過采用上述技術方案，在多次使用，密封圈被部分磨損后，可相對密封蓋滑動調節套，使密封圈被推向真空室內壁，從而提高了真空室的密封性。進而使真空檢漏儀多次使用后，真空室依舊能保持較好的密封性。若后續繼續使用至密封圈完全不能密封真空室，可以更換密封圈，從而延長真空檢漏儀的使用壽命。

優選的，當所述密封蓋蓋設于真空室上時，所述調節套位于密封圈背離真空室一端。

通過采用上述技術方案，從而可更方便的對調節套施力，使其相對密封蓋滑動。

優選的，所述調節套螺紋連接于密封蓋。

通過采用上述技術方案，可通過旋寧調節套的方式來使其相對密封蓋滑動，實現對密封圈的抵漲。

優選的，所述環槽截面呈梯形。

通過采用上述技術方案，從而使密封圈可以更穩定的安裝在密封蓋上。

優選的，所述密封部外壁設有環形凸肋，所述環形凸肋沿密封部軸向設有若干個，且所述環形凸肋與密封部為一體成型。

通過采用上述技術方案，從而使密封部與真空室內壁形成多點接觸，從而更好的提高了真空室的密封性。

優選的，所述密封蓋背離真空室一端設有用于方便對密封蓋施力的第一施力環，所述調節套背離密封圈一端設有用于方便對調節套施力的第二施力環。

通過采用上述技術方案，在相對密封蓋轉動調節套時，可兩只手分別拿住第一施力環和第二施力環，再相對密封蓋轉動調節套，從而方便了對調節套的施力。

優選的，所述第二施力環與調節套連接的兩點之間的連線經過調節套軸線。