[實用新型]真空檢漏儀

有效

• 申請號: 202023340068.4
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN213748928U
• 公開（公告）日: 2021-07-20
• 發明（設計）人: 丁宇彬;何曉理;朱巨丹
• 申請（專利權）人: 杭州芯欣科技有限公司
• 主分類號: G01M3/02
• 分類號: G01M3/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種真空檢漏儀，包括控制臺（1）、檢測室（2）、連接管（3）和真空泵（4），所述檢測室（2）包括真空室（5）和密封蓋（6），其特征在于：所述密封蓋（6）外壁開設有環槽（8）且所述密封蓋（6）上設有密封圈（7），所述密封圈（7）包括套設于密封蓋（6）外的密封部（9）嵌設于環槽（8）內的連接部（10），所述連接部（10）固定連接于密封部（9），所述密封蓋（6）外套設有調節套（12），所述調節套（12）朝向密封圈（7）一端呈尖端設置且嵌設于密封部（9）和密封蓋（6）外壁之間，所述調節套（12）能沿密封蓋（6）軸向相對密封部（9）運動；當所述密封蓋（6）蓋設于真空室（5）上時，所述密封圈（7）抵緊于真空室（5）內壁。

2.根據權利要求1所述的真空檢漏儀，其特征在于：當所述密封蓋（6）蓋設于真空室（5）上時，所述調節套（12）位于密封圈（7）背離真空室（5）一端。

3.根據權利要求2所述的真空檢漏儀，其特征在于：所述調節套（12）螺紋連接于密封蓋（6）。

4.根據權利要求3所述的真空檢漏儀，其特征在于：所述環槽（8）截面呈梯形。

5.根據權利要求4所述的真空檢漏儀，其特征在于：所述密封部（9）外壁設有環形凸肋（11），所述環形凸肋（11）沿密封部（9）軸向設有若干個，且所述環形凸肋（11）與密封部（9）為一體成型。

6.根據權利要求3所述的真空檢漏儀，其特征在于：所述密封蓋（6）背離真空室（5）一端設有用于方便對密封蓋（6）施力的第一施力環（13），所述調節套（12）背離密封圈（7）一端設有用于方便對調節套（12）施力的第二施力環（14）。

7.根據權利要求6所述的真空檢漏儀，其特征在于：所述第二施力環（14）與調節套（12）連接的兩點之間的連線經過調節套（12）軸線。

8.根據權利要求7所述的真空檢漏儀，其特征在于：所述調節蓋背離密封圈（7）一端端面沿其軸向設有螺桿（16），所述第二施力環（14）兩端轉動連接有螺套（15），所述螺套（15）螺紋連接于螺桿（16），所述螺套（15）和第二施力環（14）之間沿螺套（15）軸向呈固定設置。