[實用新型]一種新型半導體器件用測試針及其組件

有效

• 申請號: 202023289063.3
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN214794937U
• 公開（公告）日: 2021-11-19
• 發明（設計）人: 閔哲
• 申請（專利權）人: 蘇州朗之睿電子科技有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R1/04;H01L21/66;G01R31/26
• 代理公司: 蘇州銘浩知識產權代理事務所(普通合伙) 32246
• 代理人: 朱斌兵

1.一種新型半導體器件用測試針，其特征在于：包括測試針本體，所述測試針本體的中部設置有至少一個定位孔；所述測試針本體的上側設置有一個針尖支撐臂，所述針尖支撐臂的自由端設置有測試針尖，所述針尖支撐臂的根部與所述測試針本體固定連接；所述測試針本體的下側設置有一個針腳支撐臂，所述針腳支撐臂與所述測試針本體呈夾角設置，所述針腳支撐臂的自由端處設置有測試針腿，所述針腳支撐臂的根部與所述測試針本體固定連接；所述針尖支撐臂和所述針腳支撐臂與所述測試針本體間隔設置。

2.根據權利要求1所述的新型半導體器件用測試針，其特征在于：所述針尖支撐臂的自由端沿所述測試針本體的上側邊沿的方向延伸出所述測試針本體。

3.根據權利要求2所述的新型半導體器件用測試針，其特征在于：所述針尖支撐臂的延伸出所述測試針本體的長度為所述測試針本體的長度的三分之一至二分之一。

4.根據權利要求1項所述的新型半導體器件用測試針，其特征在于：所述針尖支撐臂及所述針腳支撐臂的根部與所述測試針本體連接呈一體結構。

5.根據權利要求1所述的新型半導體器件用測試針，其特征在于：所述測試針本體上設置有兩個所述定位孔。

6.根據權利要求1所述的新型半導體器件用測試針，其特征在于：所述針尖支撐臂及所述針腳支撐臂的厚度與所述測試針本體的厚度相同，且所述針尖支撐臂和所述針腳支撐臂的兩側面分別與所述測試針本體的兩側面齊平。

7.根據權利要求1所述的新型半導體器件用測試針，其特征在于：所述測試針本體及所述針尖支撐臂、所述針腳支撐臂的表面涂覆有一層保護層。

8.根據權利要求1-7任一項所述的新型半導體器件用測試針，其特征在于：所述針腳支撐臂的延伸方向與所述測試針本體的下側邊沿之間的夾角為20-50度。

9.根據權利要求8所述的新型半導體器件用測試針，其特征在于：所述針腳支撐臂與所述針尖支撐臂向所述測試針本體的同一端的方向延伸，或分別向所述測試針本體的兩端延伸。

10.一種新型半導體器件用測試針組件，其特征在于：由兩片權利要求9所述的新型半導體器件用測試針重疊貼合組成，其中一片所述新型半導體器件用測試針上的所述針尖支撐臂及所述針腳支撐臂向所述測試針本體的同一端延伸，另一片所述新型半導體器件用測試針上的所述針尖支撐臂及所述針腳支撐臂分別向所述測試針本體的兩端延伸；在兩片所述新型半導體器件用測試針的貼合面之間設置有一層絕緣層。