[實用新型]一種GPIO的AC特性測試系統

有效

• 申請號: 202023265479.1
• 申請日: 2020-12-29
• 公開（公告）號: CN215218988U
• 公開（公告）日: 2021-12-17
• 發明（設計）人: 王博;許飛;王景華
• 申請（專利權）人: 蘇州福瑞思信息科技有限公司;北京兆易創新科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G05B23/02
• 代理公司: 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319
• 代理人: 莎日娜

本申請提供了一種GPIO的AC特性測試系統，涉及MCU領域。所述系統包括：存儲器、控制器、負載電容選擇模塊、電源模塊，控制器根據不同的測試條件，改變負載電容、電壓、及引腳速度，借由GPIO輸出的波形訊號，提取波的參數，判斷在所述測試條件下GPIO輸出的波形訊號的頻率是否是GPIO最大輸出頻率，滿足設計的驅動能力，而針對不同的應用有不同的模式。本發明另包括上位機與存儲器、控制器電性連接，達到執行自動測試不同的測試條件。本發明極大的提高了工作人員的工作效率，整個測試結果的準確性也得到了保證。

技術領域

本發明涉及MCU測試領域，尤其涉及一種GPIO的AC特性測試系統以獲取GPIO最大輸出頻率。

背景技術

目前越來越多的嵌入式產品在使用微控制器MCU作為主控單元，單片機無法僅靠MCU(或CPU)及內存運行,必須有外設功能的配置才能對電子產品進行控制，MCU(或CPU)根據指令執行運算、數據的讀寫以及進行條件判斷等，而內存則用來保存該指令或讀取的數據。為了與外部的傳感器及開關等進行信號交換，就需要“輸入/輸出端口(I/O端口)”這種外設功能。在“輸入/輸出端口(I/O端口)”中，數字信號的輸入/輸出端口即“GPIO (GeneralPurpose Input/Output)”也被稱為“通用I/O端口”，是一種用于數字信號輸入/輸出的非常方便的端口。用于將數字輸出的傳感器值和開關的ON/OFF值傳送到單片機的輸入端及通過LED來顯示單片機的運算結果，以及輸出用于驅動電機運行的信號等等。

目前對GPIO的測試，主要是通過工作人員手動操作測量完成，工作人員需要手動配置各項測試參數，再利用示波器一一測試記錄輸出方波的各項數據。整個過程不但繁瑣，且由于是人工進行操作，測試記錄過程中難免會有遺漏和錯誤，造成測試結果的偏差，同時工作人員的工作效率也較低。

發明內容

本申請提供的一種GPIO的AC特性測試系統，解決了上述問題。

為了解決上述技術問題，本發明實施例提供了一種GPIOAC特性，包括：

存儲器，所述存儲器用于存儲指令及測試條件；

控制器，根據所述指令及所述測試條件對待測MCU執行測試；

負載電容選擇模塊，所述負載電容選擇模塊連接所述控制器，且用于提供不同大小的負載電容；以及

電源模塊，所述電源模塊連接所述控制器，且用于提供不同大小的供電電壓；

其中，所述待測MCU具有多個引腳速度不同的輸出驅動電路，

其中，根據不同測試條件，所述控制器控制所述負載電容選擇模塊提供相應的負載電容、控制所述電源模塊提供相應的電壓、及控制所述待測MCU 設置為相應的引腳速度，所述待測MCU的GPIO輸出不同的波形訊號，存儲所述不同波形訊號的相應波形參數于存儲器。

進一步地，所述波形參數包括上升時間(Tr)、下降時間(Tf)、頻率(1/T)、以及占空比，當Tr+Tf2/3T且占空比在45％～55％之間，所述頻率則為在相應的測試條件下的所述待測MCU的GPIO最大輸出頻率。

更進一步，所述測試系統，還包括波形分析儀，連接所述待測MCU的 GPIO，獲取所述波形訊號。

更進一步，所述指令為對所述待測MCU連續測試多組測試條件，所述控制器對所述待測MCU執行連續自動測試。

另一方面，所述測試系統，還包括上位機，所述上位機發送所述指令至所述控制器并存儲于所述存儲器，所述上位機通過USB總線連接所述波形分析儀，所述波形分析儀將所述波形參數傳送且存儲至所述上位機，所述上位機根據所述波形參數的上升時間(Tr)、下降時間(Tf)、頻率(1/T)、以及占空比，判斷所述頻率是否為在所述測試條件下的所述待測MCU的GPIO最大輸出頻率。

附圖說明