[實(shí)用新型]一種GPIO的AC特性測(cè)試系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202023265479.1
• 申請(qǐng)日: 2020-12-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN215218988U
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-12-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王博;許飛;王景華
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州福瑞思信息科技有限公司;北京兆易創(chuàng)新科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00;G05B23/02
• 代理公司: 北京潤(rùn)澤恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11319
• 代理人: 莎日娜

1.一種GPIO的AC特性測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括：

存儲(chǔ)器，所述存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)指令及測(cè)試條件；

控制器，根據(jù)所述指令及所述測(cè)試條件對(duì)待測(cè)MCU執(zhí)行測(cè)試；

負(fù)載電容選擇模塊，所述負(fù)載電容選擇模塊連接所述控制器，且用于提供不同大小的負(fù)載電容；以及

電源模塊，所述電源模塊連接所述控制器，且用于提供不同大小的供電電壓；

其中，所述待測(cè)MCU具有多個(gè)引腳速度不同的輸出驅(qū)動(dòng)電路，

其中，根據(jù)不同測(cè)試條件，所述控制器控制所述負(fù)載電容選擇模塊提供相應(yīng)的負(fù)載電容、控制所述電源模塊提供相應(yīng)的電壓、及控制所述待測(cè)MCU設(shè)置為相應(yīng)的引腳速度，所述待測(cè)MCU的GPIO輸出不同的波形訊號(hào)，存儲(chǔ)所述不同波形訊號(hào)的相應(yīng)波形參數(shù)于存儲(chǔ)器。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述波形參數(shù)包括上升時(shí)間Tr、下降時(shí)間Tf、頻率1/T、以及占空比，當(dāng)Tr+Tf2/3T且占空比在45％～55％之間，所述頻率則為在相應(yīng)的測(cè)試條件下的所述待測(cè)MCU的GPIO最大輸出頻率。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，還包括波形分析儀，連接所述待測(cè)MCU的GPIO，獲取所述波形訊號(hào)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述指令為對(duì)所述待測(cè)MCU連續(xù)測(cè)試多組測(cè)試條件，所述控制器對(duì)所述待測(cè)MCU執(zhí)行連續(xù)自動(dòng)測(cè)試。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，驅(qū)動(dòng)配置包括負(fù)載電容、電壓、及引腳速度。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述負(fù)載電容選擇模塊包括多個(gè)不同負(fù)載電容值的電容，每個(gè)電容通過(guò)開(kāi)關(guān)連接到所述待測(cè)MCU的GPIO，所述開(kāi)關(guān)由所述控制器控制。

7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，還包括上位機(jī)，所述上位機(jī)發(fā)送所述指令至所述控制器并存儲(chǔ)于所述存儲(chǔ)器，所述上位機(jī)通過(guò)USB總線連接所述波形分析儀，所述波形分析儀將所述波形參數(shù)傳送且存儲(chǔ)至所述上位機(jī)，所述上位機(jī)根據(jù)所述波形參數(shù)的上升時(shí)間Tr、下降時(shí)間Tf、頻率1/T、以及占空比，判斷所述頻率是否為在所述測(cè)試條件下的所述待測(cè)MCU的GPIO最大輸出頻率。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，還包括第二存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)所述波形參數(shù)。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述控制器通過(guò)PMBus連接所述電源模塊，所述控制器通過(guò)I2C總線連接所述待測(cè)MCU。