[實用新型]適用于半導(dǎo)體器件動態(tài)測試系統(tǒng)電流精準(zhǔn)控制電路

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202023146266.7
• 申請日: 2020-12-23
• 公開（公告）號: CN213783141U
• 公開（公告）日: 2021-07-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 朱國軍;唐德平;王剛
• 申請（專利權(quán)）人: 合肥科威爾電源系統(tǒng)股份有限公司
• 主分類號: H02M3/156
• 分類號: H02M3/156
• 代理公司: 合肥市浩智運專利代理事務(wù)所(普通合伙) 34124
• 代理人: 丁瑞瑞

本實用新型公開了適用于半導(dǎo)體器件動態(tài)測試系統(tǒng)電流精準(zhǔn)控制電路，所述控制電路包括主電路和閉環(huán)控制回路，主電路包括高壓電源P1、電流互感器CT1和待測件DUT，所述閉環(huán)控制回路包括數(shù)模轉(zhuǎn)換電路IC1、比較電路IC2、處理器IC3、邏輯與門電路IC4以及驅(qū)動電路DRV，數(shù)模轉(zhuǎn)換電路IC1的輸出端與比較電路IC2的同相端連接，比較電路IC2的反相端與電流互感器CT1連接，比較電路IC2的輸出端以及處理器IC3均與邏輯與門電路IC4的輸入端連接，邏輯與門電路IC4的輸出端與驅(qū)動電路DRV連接，驅(qū)動電路DRV與待測件DUT的受控端連接；本實用新型的優(yōu)點在于：實現(xiàn)動態(tài)測試系統(tǒng)的電流精準(zhǔn)控制。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及IGBT動態(tài)測試技術(shù)領(lǐng)域，更具體涉及適用于半導(dǎo)體器件動態(tài)測試系統(tǒng)電流精準(zhǔn)控制電路。

背景技術(shù)

IGBT動態(tài)特性的測量均基于雙脈沖測試，通過測量動態(tài)過程中的電壓Vce、電流Ie波形來反映其動態(tài)特性，但是目前大多數(shù)雙脈沖測試回路電流控制精度受到電抗器感量非線性影響，因此考慮到電抗器感量非線性問題，從而開發(fā)一種電流精準(zhǔn)控制電路很有必要性。

中國專利授權(quán)公告號CN211348525U，公開了一種適用于IGBT動態(tài)測試的電路，待測件DUT包括第一晶體管Q4和第二晶體管Q5，高壓電源P1的正極接開關(guān)K2的一端，開關(guān)K2的另一端接開關(guān)K3的一端，開關(guān)K3的另一端接高壓電源P1的負(fù)極，電感L1的一端、電感L2的一端、電感L3的一端以及電感L4的一端連接在一起并接到開關(guān)K2的另一端上；電感L1的另一端接開關(guān)K4的一端，電感L2的另一端接開關(guān)K5的一端，電感L3的另一端接開關(guān)K6的一端，電感L4的另一端接開關(guān)K7的一端，開關(guān)K4的另一端、開關(guān)K5的另一端、開關(guān)K6的另一端以及開關(guān)K7的另一端均連接到一起并接到開關(guān)K8的一端上。該本實用新型的優(yōu)點在于：能夠?qū)崿F(xiàn)第2類短路測試。但是該實用新型沒有考慮電抗器感量非線性問題，導(dǎo)致影響測試回路電流控制精度。

實用新型內(nèi)容

本實用新型所要解決的技術(shù)問題在于現(xiàn)有技術(shù)IGBT動態(tài)測試沒有考慮電抗器感量非線性問題，導(dǎo)致影響測試回路電流控制精度。

本實用新型通過以下技術(shù)手段實現(xiàn)解決上述技術(shù)問題的：適用于半導(dǎo)體器件動態(tài)測試系統(tǒng)電流精準(zhǔn)控制電路，包括主電路和閉環(huán)控制回路，主電路包括高壓電源P1、電流互感器CT1和待測件DUT，所述閉環(huán)控制回路包括數(shù)模轉(zhuǎn)換電路IC1、比較電路IC2、處理器IC3、邏輯與門電路IC4以及驅(qū)動電路DRV，所述高壓電源P1為待測件DUT供電，電流互感器CT1位于主電路上，數(shù)模轉(zhuǎn)換電路IC1的輸出端與比較電路IC2的同相端連接，比較電路IC2的反相端與電流互感器CT1連接，比較電路IC2的輸出端以及處理器IC3均與邏輯與門電路IC4的輸入端連接，邏輯與門電路IC4的輸出端與驅(qū)動電路DRV連接，驅(qū)動電路DRV與待測件DUT的受控端連接。

本實用新型通過在主電路上設(shè)置電流互感器CT1，電流互感器CT1的信號給比較電路IC2，數(shù)模轉(zhuǎn)換電路IC1將電流指令轉(zhuǎn)換為模擬量輸出給比較電路IC2，電流互感器CT1的檢測信號與目標(biāo)指令電流進行比較，從而實現(xiàn)閉環(huán)控制，這樣可以避免電抗器感量非線性及線路參數(shù)影響，提高測試回路電流控制精度。

進一步地，所述主電路還包括電容組C1以及電感L1，所述電容組C1并聯(lián)在高壓電源P1的兩端，電感L1連接到待測件DUT上。

更進一步地，所述待測件DUT包括順序編號的半導(dǎo)體器件Q1至半導(dǎo)體器件Q4、二極管D1以及二極管D2，所述半導(dǎo)體器件Q1的集電極、半導(dǎo)體器件Q2的集電極以及二極管D1的陰極均與電感L1的一端連接并接高壓電源P1的一端，半導(dǎo)體器件Q1的發(fā)射極與半導(dǎo)體器件Q2的基極連接，半導(dǎo)體器件Q1的基極、半導(dǎo)體器件Q2的發(fā)射極、二極管D1的陽極、半導(dǎo)體器件Q3的集電極、半導(dǎo)體器件Q4的集電極以及二極管D2的陰極均連接，半導(dǎo)體器件Q3的發(fā)射極與半導(dǎo)體器件Q4的基極連接，半導(dǎo)體器件Q4的發(fā)射極與二極管D2的陽極連接并接高壓電源P1的另一端，驅(qū)動電路DRV與半導(dǎo)體器件Q3的基極連接。