[實用新型]適用于半導體器件動態測試系統電流精準控制電路

有效

• 申請號: 202023146266.7
• 申請日: 2020-12-23
• 公開（公告）號: CN213783141U
• 公開（公告）日: 2021-07-23
• 發明（設計）人: 朱國軍;唐德平;王剛
• 申請（專利權）人: 合肥科威爾電源系統股份有限公司
• 主分類號: H02M3/156
• 分類號: H02M3/156
• 代理公司: 合肥市浩智運專利代理事務所(普通合伙) 34124
• 代理人: 丁瑞瑞

1.適用于半導體器件動態測試系統電流精準控制電路，其特征在于，包括主電路和閉環控制回路，主電路包括高壓電源P1、電流互感器CT1和待測件DUT，所述閉環控制回路包括數模轉換電路IC1、比較電路IC2、處理器IC3、邏輯與門電路IC4以及驅動電路DRV，所述高壓電源P1為待測件DUT供電，電流互感器CT1位于主電路上，數模轉換電路IC1的輸出端與比較電路IC2的同相端連接，比較電路IC2的反相端與電流互感器CT1連接，比較電路IC2的輸出端以及處理器IC3均與邏輯與門電路IC4的輸入端連接，邏輯與門電路IC4的輸出端與驅動電路DRV連接，驅動電路DRV與待測件DUT的受控端連接。

2.根據權利要求1所述的適用于半導體器件動態測試系統電流精準控制電路，其特征在于，所述主電路還包括電容組C1以及電感L1，所述電容組C1并聯在高壓電源P1的兩端，電感L1連接到待測件DUT上。

3.根據權利要求2所述的適用于半導體器件動態測試系統電流精準控制電路，其特征在于，所述待測件DUT包括順序編號的半導體器件Q1至半導體器件Q4、二極管D1以及二極管D2，所述半導體器件Q1的集電極、半導體器件Q2的集電極以及二極管D1的陰極均與電感L1的一端連接并接高壓電源P1的一端，半導體器件Q1的發射極與半導體器件Q2的基極連接，半導體器件Q1的基極、半導體器件Q2的發射極、二極管D1的陽極、半導體器件Q3的集電極、半導體器件Q4的集電極以及二極管D2的陰極均連接，半導體器件Q3的發射極與半導體器件Q4的基極連接，半導體器件Q4的發射極與二極管D2的陽極連接并接高壓電源P1的另一端，驅動電路DRV與半導體器件Q3的基極連接。

4.根據權利要求3所述的適用于半導體器件動態測試系統電流精準控制電路，其特征在于，所述半導體器件Q1至半導體器件Q4均為PNP型三極管。

5.根據權利要求3所述的適用于半導體器件動態測試系統電流精準控制電路，其特征在于，所述數模轉換電路IC1的型號為AD5790。

6.根據權利要求3所述的適用于半導體器件動態測試系統電流精準控制電路，其特征在于，所述比較電路IC2的型號為LM293。

7.根據權利要求3所述的適用于半導體器件動態測試系統電流精準控制電路，其特征在于，所述處理器IC3的型號為TMS320F28377D。